【正文】 六、感應測井 COND——Induction Log 2． 地質應用 （ 1） 確定真電阻率 當?shù)貙泳哂袦\到中等深度侵入（侵入帶直徑小于 35英寸）時，感應測井的讀數(shù)近似于地層真電阻率。 感應測井的垂向分辨率較低（ ），對挑選薄層不利。 Rw——在很多地區(qū) ， 地層水電阻率是已知的 ， 也可用 SP曲線估算 Rw， 或通過相鄰或 下伏的水層通過已測定的 ψ和 Ro確定 Rw。 （ 4） 利用雙感應徑向差值 ， 判斷油水層 。 1． 探測對象 各種巖石在外加電場作用下其導電能力各不相同，普通電阻率測井就是反映巖石的導電能力強弱。 （ 2） 常用于地層對比 （ 尤其是油藏剖面 /油層對比 ） （ 3） 研究儲層徑向電阻率的變化 。 4． （ 介紹 ） 幾種經(jīng)常提到的名詞 A． 標準測井 （ 1： 500標準測井圖 ） 在一個油田或一個地區(qū) ， 或一個完整的區(qū)域內(nèi) ， 為了研究 地質剖面巖性變化 、 構造形態(tài) 或 進行大段油層的對比工作 ， 常使用標準電極系和其它幾種測井方法在全地區(qū)的井中 ， 用相同的深度比例 （ 1： 500） 和相同的橫向比例， 對全井段進行測井 ， 這種測井組合 ， 叫 ——標準測井 。 我國大部分油田多用： 電極系作為 標準電極系 。它由一系列電極距不同的一組底部梯度電極系測井組成，常用到的有： 、 1m、 、 4m、 8m。 微電位：探測深度 100mm，主要反映井壁附近沖洗帶電阻率 Rxo。 微電極測井的地質應用 （ 1） 確定巖層界面 微電極曲線的縱向分辨能力較強 ， 劃分薄互層和薄夾層比較可靠 ， 根據(jù)曲線的半幅點確定地層界面 。 （ 微電位曲線幅度大于微梯度曲線幅度為正幅度差 ） 同時根據(jù)幅度的大小和幅度差的大小可詳細劃分巖性和判斷巖層的滲透性 。 （ 4） 確定井徑擴大井段 在井內(nèi)如有井壁坍塌形成的大洞穴或石灰?guī)r的大溶洞時 ， 在這些井段中微電極系的極板懸空 ， 所測視電阻率曲線幅度降低 ， 其視電阻率和泥漿電阻率基本相同 。 在高礦化度泥漿和高阻薄層的井中 ， 普通電阻率曲線變得平緩 ， 難以進行分層和確定地層真電阻率 。 常用的側向測井有：三側向 RLL七側向 RLL雙側向 RLL(Dual Laterlog)、微側向 RMLL(Microlaterlog)、鄰近側向 RPL(Proximity log)、微球聚集 RMSFL。 八、側向測井 Laterlog 雙感應八側向測井 雙感應 八側向測井儀用來確定低到中等電導率鉆井液所鉆地層的電阻率。同時可測一條自然電位曲線。確定地層真電阻率； 指示滲透層； 地層對比； 1． RLL RLL RLL的地質應用 （ 1） 用來確定含水飽和度 當?shù)貙觾?nèi)含有高導電性鉆井液或目的層的 Rt很高時 ， 可得出可靠的電阻率值 ， 且對充滿導電泥漿的井 ， 井眼的影響是很小的 ， 這時可利用阿爾奇公式 ， 求出 Sw。 油層：正幅度差 ， RLLDRLLS 減阻侵入 。 （ 3） 劃分地質剖面 常在視電阻率曲線開始急劇上升的位置為地層界面。其測量原理是使： 聚焦 的電流流入地層。雙側向儀器能提供一條深探側電阻率和一條淺探側電阻率曲線。 應用： 定性判別滲透率； 2． 微側向測井 RMLL的地質應用 （ 1） 確定沖洗帶電阻率 Rxo （ 2） 劃分薄層 因為 RMLL主流層厚度很小，約 44mm，所以縱向分辨能力強，可分出約 50mm的薄層。 3． 鄰近側向測井 RPL的地質應用 鄰近側向 RPL受泥餅影響小 ， 它可用于 Rmf較高 、 泥餅層較厚的井中 。 4． 微球聚集測井 RMSFL的地質應用 RMSFL既具備 RMLL、 RPL的優(yōu)點 ， 又在較大程度上克服了它們的缺點 。 1． 反映地層的巖性特征和儲層的滲透性 （ 如致密與否 or 蒙脫石遇水膨脹等 ） 常用于地層對比 、 巖性判斷 、 挑選儲層 。 應用： GR、 SP——判別巖性、計算 Vsh， AC、 DEN、 SNP/CNL——計算孔隙度， COND、普通電阻率、側向 ——計算 Sw、 Sxo ? 微電極測井與微側向測井的關系： 微電極測井是屬于普通電阻率測井方法，微側向測井屬于側向測井方法； 側向測井是在普通電極系的基礎上加上聚焦裝置而得出的，這樣改進的結果使電極系探測深度大大改進，并且降低了井眼和圍巖的影響。 第二篇 測井地層學 本講的目的是用單井測井的全部信息進行地層的研究。 重點放在儲層的研究，包括： 儲層的巖性描述 流體性質的分析 儲層參數(shù)的求取 裂隙性碳酸鹽巖儲層特征參數(shù)的求取 第一節(jié) 測井地層剖面及儲層巖性分析 利用測井資料識別巖性是地質解釋的第一步。 （ 2）對不進行地質錄井的生產(chǎn)井或生產(chǎn)層段，就需要通過所有的測井曲線，對生產(chǎn)層段逐層進行巖性分析，細分儲層并挑出其中夾層。 地質人員還常用 統(tǒng)計的方法 ，找出本區(qū)主要巖性的各種測井響應值域，用判別分析或聚類分析等手段在計算機自動分層基礎上劃分巖性。曲線重疊技術判斷某些簡單、純巖性層有效。目前利用交會圖可以識別三種甚至四種骨架成分體積含量。但是這種巖性剖面僅能展示骨架多成分的縱向變化，還需結合曲線特征，分層并定出巖性具體名稱。 定性劃分巖性 ——是人們利用 測井曲線的形態(tài)特征 和 讀數(shù)的相對大小 ，根據(jù)長期生產(chǎn) 實踐 積累的一些規(guī)律性認識（或經(jīng)驗）去劃分地層巖性的方法。 一、綜合利用測井曲線定性識別巖性 為了定性地劃分巖性，地質人員還必須在熟悉區(qū)域地質情況以及掌握研究區(qū)地質沉積特征、地層層序及厚度變化規(guī)律的基礎上，通過一口或幾口井較完整的鉆井取心或巖屑錄井資料，與測井資料詳細分析對比，掌握各種巖性地層在不同測井曲線上的特征。根據(jù)這些特征，一般可以劃分那些 成分較單一 的井剖面巖性。 定性劃分巖性的步驟： A。 B。 C。 致密灰?guī)r為高阻，泥巖為低阻。 1． 碎屑巖剖面 （ 1） 對碎屑巖剖面 ， 應先區(qū)分出砂巖 、 泥巖 。 b． 泥巖層 SP基線 微電極視電阻率為低值 ， 沒有或只有小的幅度差 。 （ 2）劃分砂泥巖后，再進行細分巖性 a．非滲透層 非滲透層可細分為純泥巖、砂質泥巖、鈣質泥巖、炭質頁巖、頁巖、油頁巖、煤層。 純泥巖： Rt低、 AC高（由于泥質顆粒吸附負離子， 產(chǎn)生附加導電性，使 Rt變?。? 鈣質泥巖： Rt高（尖峰）， AC低 砂質泥巖、炭質頁巖、頁巖、油頁巖： Rt居中 煤層：可依據(jù) ρ b（體積密度）和 Pe值低先選出 b．滲透層（砂層） 砂巖類常見有：純砂巖、鈣質砂巖、泥質砂巖。 常用 Rt、 GR區(qū)分巖性。 泥質砂巖：（相對純水層而言） GR顯示高值，Rt變低 砂泥巖剖面綜合資料測井曲線 2． 碳酸鹽巖剖面 在碳酸鹽巖剖面中的滲透層 ， 通常是夾在致密層中的裂隙帶 。 作為儲層除泥灰?guī)r外 ， 其余巖性都具有一定程度的儲集性 。 泥灰?guī)r （ 為非儲層 ） ： GR高值 ， Rt相對低值 。 由于裂隙性儲集層以致密的碳酸鹽巖為其圍巖，這就使它具有相對低的電阻率、中子伽瑪測井值和相對高的AC（通常所說的 “ 兩低一高 ” ） 。 膏鹽剖面地區(qū) ， 由于微電極及 SP不能使用 ，故劃分巖性主要依據(jù) GR、 電阻率測井 、 孔隙度測井 、 井徑 。鹽巖還具有明顯的擴徑現(xiàn)象。 具體方法很多 ， 有利用建圖版方式 （ 交會圖、 直方圖 ） ， 也有直接用計算方式如判別分析或聚類方法來識別巖性 。 ΔGR ρ b (g/cm3) Rt （ Ωm） φ N (%) 砂巖 8 20 15 泥巖 /砂質泥巖 10 14 20 鈣質砂巖 20 15 灰?guī)r 20 15 巖性與測井參數(shù)的關系 測井參數(shù) 巖性 在建立巖性剖面時，最好將砂巖與儲層的標準統(tǒng)一，以突出儲層概念。 以某油田為例，儲層物性的下限值為：Vsh30%, ψ12%。 最低值 砂巖峰值 而由△ GRVsh關系圖中（下圖），下限Vsh=30%，相應的△ GR＝ 自然伽馬值下限統(tǒng)一。 常用孔隙度測井曲線的重疊法識別巖性 ， 常用中子 φ N、 密度 ρ b（ 或 φ D） 測井曲線重疊 。 在灰?guī)r段 （ φ N＝ φ D＝ 0 ） 兩條曲線重疊 ， 其他巖性段 φ N、 φ D反應不一 ， 可以以其特征值識別巖性 。 三、利用重疊曲線方法快速識別巖性 該方法僅適用于純巖性地層。 說明 Den主要反映 φ， 與 骨架相關性小 ， 中子測井 與泥質減少 ， 含氫指數(shù)減 小有關 ， φN下降 。 φN 0（ 與含氫指 數(shù)低有關 ） ?氣層： φN降低 ， φD增大 ?泥巖： φDφN 四、利用交會圖技術判斷巖性 交會圖技術應用的是幾何作圖方法，它利用骨架礦物、天然氣、孔隙結構等對幾種孔隙度測井響應值不同，再結合巖性密度測井、自然伽馬能譜測井等識別巖性，求準孔隙度，這種方法可以識別出較復雜的由 3－ 4種以下的礦物組成的巖性。當含有天然氣時也會影響測量值，要進行校正，同時它也為識別氣層提供了依據(jù)。 常見的有孔隙度測井交會圖 。 四、利用交會圖技術判斷巖性 1．用兩種孔隙度測井交會圖識別由兩種礦物組成的過渡巖性 在介紹交會圖之前 ， 先講一下什么叫密度測井視石灰?guī)r孔隙度 ？ 所謂密度測井視石灰?guī)r孔隙度 ——就是不論什么巖性都用石灰?guī)r骨架密度 （ ） 按： （ 1） 計算得來的孔隙度 。 （ － ） =% fmabmaD???????? 從上述這個計算過程來看 ， 也可以這樣解釋密度測井視石灰?guī)r孔隙度的意義：在石灰?guī)r中刻度密度測井儀的孔隙度單位 （ 石灰?guī)r孔隙度 ） ， 然后用這個刻度標準去測其它巖性所得的密度孔隙度讀數(shù) ，即是視石灰?guī)r孔隙度 ， 簡稱石灰?guī)r孔隙度 。 后面我們用到的密度孔隙度、中子孔隙度曲線（或數(shù)據(jù)），除個別例外，基本上都是以石灰?guī)r孔隙度作為單位的。圖的縱座標是體積密度或按純石灰?guī)r刻度的密度視孔隙度，橫座標是按石灰?guī)r刻度的中子測井視石灰?guī)r孔隙度，均作過井眼校正，所有的這種形式的交會圖都是對飽含液體的純地層制作的，井內(nèi)為淡水或鹽水泥漿。 該圖的制作方法： 以砂巖線為例：可假設 φ=0， 5， 10， 15， 20，25， 30%等，先按下表查出砂巖的骨架中子孔隙度φNma值和骨架密度 ρma，查出飽和巖石液體的中子孔隙度φNF和密度 ρf值，然后將它們代入方程組： φN=φ φNF＋（ 1－ φ） φNMA ρb =φ ρf＋ (1－ φ) ρma 分別計算出不同孔隙度時的 φ N和 ρ b，將算出的 φ N和 ρ b值點到圖 46的坐標系中，便得到 φ 為上述數(shù)值的各點，然后將各點連線，此線即為純砂巖的中子 —密度關系線，同理可作為白云巖線、石灰?guī)r線和硬石膏線。 在應用這個圖版解釋時 ，把對應某一巖層的密度值和中子孔隙度 （ 均經(jīng)環(huán)境校正 、泥質校正 ） 點入圖版 ， 如圖上的 P點 ， 如果已知該項巖層是由白云石和方解石兩種礦物組成的 ， 通過 P點作一平行于白云巖和石灰?guī)r線相同孔隙度連