【正文】 線的直線 ， 分別交 A、B兩點 ， 孔隙度由 A、 B點在巖 性 線 上 的 位 置 而 定 ，φ=%， 兩種礦物成份的體積百分含量由 P點在 AB線上的位置確定 ， 如：灰?guī)r百分含量為： =%， 白云巖百分含量為 %。 缺點 是：不能確切地指出巖性，只能指出可能的巖性，還必須根據(jù)地質(zhì)條件進行判斷。 其中 ， （ ρma） a可從中子 —密度交會圖上查出 ， （ △ tma)a可在中子 —聲波交會圖上查出 。 2．用 MID巖性骨架礦物識別圖識別三礦物組成的巖性 (MID—— Matrix Identification) 如右圖上的 A點 ， 最可能的是石灰?guī)r和硬石膏的過渡類型 （ 在兩者的連線上 ） ； 由于 A點在砂巖 、 白云巖 、硬石膏三種巖性構成的三角形中 ， 也可能是這三種巖性的過渡類型 。 此外，實際應用時，還要根據(jù)地質(zhì)上的可能性作出判斷。 ② M、 N的意義 從上式可以看出：在飽和液體性質(zhì)一定時 ， N值的大小主要取決于巖石骨架的 φNma和 ρNma值 ， 這說明N值是由巖石骨架成份所決定的參數(shù) ， 同樣 M值亦然。 M值代表聲波密度交會圖上某骨架點與液體點連線之斜率值， N值代表中子密度交會圖上該骨架點連線之斜率值。 ③ 應用 在判斷某層巖性時 ， 先用該層的 △ t、 ρb、 φN值計算 M、 N， 點在M、 N圖版上 ， 如果巖石是由一種礦物組成的 ， 則該項點將和相同礦物點相重合；如果巖石是由兩種礦物組成 ， 則該點將落在相應兩種礦物的連線上；如果是由三種礦物組成 ， 則將落在這三種礦物構成的三角形內(nèi) 。 △ t＝ φ △ tf＋ （ 1－ φ ） （ V1△ tma1＋ V2△ tma2＋ V3△ tma3) φN＝ φ φN f＋ （ 1－ φ ） （ V1 φNma1＋ V2 φNma2＋ V3 φNma3) ρb ＝ φ ρf＋ （ 1－ φ ） （ V1 ρma1＋ V2 ρma2＋ V3 ρma3) 1＝ φ＋ （ 1－ φ ） （ V1 ＋ V2＋ V3） 如果存在次生孔隙、泥質(zhì)或含氣，將會使點子發(fā)生偏移，分析時應考慮這些因素的影響。 Umaa——也可由諾模圖查出。在這種交會圖上天然氣將使點子向上方移動，而重礦物使數(shù)據(jù)點向右移動，粘土點和泥巖點落在白云石點下方。 將各種不同的測井方法在不同的地層條件下的響應方程聯(lián)立，采用各種數(shù)學方法求出該項方程組的解，從而達到確定巖性的目的。 目前，在測井數(shù)據(jù)處理中采用的 解釋模型 有許多種，可按不同角度對它們大致 分類 。 由測井方法原理可知，許多測井方法的測量結果，實際上都可看成是儀器探測范圍內(nèi)巖石物質(zhì)的某種物理量的平均值，如巖石體積密度，可以看成是密度測井儀器探測范圍內(nèi)物質(zhì)（骨架和孔隙流體）密度的平均值，即單位體積巖石的質(zhì)量（ g/cm3）。巖石自然放射性（ GR、 U、Th、 K）、熱中子宏觀俘獲截面、體積光電吸收截面 Pe、聲波時差 AC、電磁波傳播時間（ tpl）和幅度衰減（ EATT）等等，均可作同樣解釋。 根據(jù)這些特點，我們在研究測井參數(shù)與地質(zhì)參數(shù)的關系時，就可以避開對每種測井方法微觀物理過程的研究，著重從宏觀上研究巖石各部分（孔隙流體、泥質(zhì)、礦物骨架）對測量結果的貢獻，從而發(fā)展了所謂巖石體積物理模型（簡稱體積模型）的研究方法，用這種方法導出的測井響應方程與相應測井理論方法和實驗方法的結果基本一致，是一種很好的近似方法。 所謂 巖石體積物理模型 ，就是根據(jù)測井方法的探測特性和巖石中各種物質(zhì)在物理性質(zhì)上的差異按體積把實際巖石簡化為性質(zhì)均勻的幾個部分，研究每一部分對巖石宏觀物理量的貢獻，并把巖石的宏觀物理量看成是各部分貢獻之和，這種方法的要點有二： ①按物質(zhì)平衡原理，巖石體積 V等于各部分體 Vi之和 . ② 巖石宏觀物理量 M等于各部分宏觀物理量mi之和。 從數(shù)學物理觀點看，不管巖石骨架成分如何，均可把儲集層簡化為兩種簡單的巖石體積模型： 純巖石模型 ，由巖石骨架及其孔隙流體組成； 含泥質(zhì)巖石體積模型 ，由泥質(zhì)，巖石骨架及其孔隙流體組成。但最基本的是純巖石和泥質(zhì)巖石兩種體積模型，由這兩種模型可以很容易導出雙礦物和多礦物體積模型， 純含水巖石體積模型 （二）純巖石水層模型及測井響應方程 右圖為純砂巖水層巖石結構及其等效體積模型 砂巖骨架礦物顆粒（如石英和長石等）的物理性質(zhì)比較接近，且與孔隙中的水或泥漿濾液的物理性質(zhì)有很大差別。因此，從物理性質(zhì)上考慮，可把純砂巖分成巖石骨架和孔隙兩部分。（ 自學 ） 1．聲波測井 根據(jù)巖石體積模型，可以認為，滑行波在巖石中直線傳播的時間應等于滑行波在巖石骨架中的傳播時間與在孔隙流體中的傳播時間之和。具體說可分兩類：一類像孔隙度測井那樣的方法，巖石的宏觀物理參數(shù)就等于各部分相對體積與其相應的單位體積物理參數(shù)乘積之總和，其體積模型公式都是線性方程。另一類是像電阻率測井方法，其宏觀物理量不等于其體積與單位物理量之乘積，必需根據(jù)物理意義．用等效體積的方法來建立具體的體積模型公式。純砂巖油氣層的巖石結構、等效體積模型及其物理參數(shù)如右圖所示。但由于泥質(zhì)和天然氣對測井響應有明顯影響，因而在對含泥質(zhì)較多或含天然氣及輕質(zhì)油的地層進行綜合評價時，必須充分考慮泥質(zhì)和油氣的影響。 純巖石模型沒有考慮泥質(zhì)及油氣的影響，這對于定性解釋和初步的定量解釋是可行的，它對一般含泥質(zhì)少的地層和不含天然氣的地層也基本適用。隨著測井資料計算機處理解釋技術的發(fā)展，現(xiàn)在比較完善的裸眼井測井數(shù)據(jù)處理方法及程序，均采用了比較全面地考慮了泥質(zhì)和油氣影響的解釋模型和方法。不但適用于純巖石，而且也適用于含泥質(zhì)巖石和泥巖，即應采用砂泥巖通用的解釋模型。砂粒為巖石骨架，主要成分是石英，其次是長石等礦物，泥質(zhì)常呈膠結物。粘土礦物的顆粒很細，其直徑一般小于 ，主要有伊利石、蒙脫石、高嶺石及綠泥石。粘土礦物之間，還可相互轉(zhuǎn)化，主要是蒙脫石和高嶺石經(jīng)成巖、后生作用可變?yōu)橐晾?，而伊利石?jīng)風化也可變成蒙脫石或高嶺石。 細粉砂的顆粒粒徑約為 ～ ，其礦物成分主要是石英，也可有長石、方解石及其它礦物。 如果認為在順序沉積的砂泥巖中，泥質(zhì)砂巖與它對應的泥巖具有基本相同的泥質(zhì)性質(zhì)，即所含的細粉砂和濕粘土的性質(zhì)相同，我們就可建立砂、泥巖的通用解釋模型。 ② 認為泥質(zhì)砂巖的泥質(zhì)與它對應的泥巖有相同的泥質(zhì)性質(zhì)，而 泥質(zhì)是由細粉砂和濕粘土兩部分組成 。注意，粉砂指數(shù) SI只說明泥巖的性質(zhì)和泥質(zhì)砂巖中泥質(zhì)成分的性質(zhì)，即只說明兩者的細粉砂相對含量，它絕不代表整個泥質(zhì)砂巖的細粉砂含量，只有細粉砂相對體積 Vsi才代表泥質(zhì)砂巖的細粉砂含量。為了簡單起見，一般是先按泥質(zhì)性質(zhì)建立解釋公式，再用上式轉(zhuǎn)換為粘土性質(zhì)的解釋公式，而在使用時，由于砂泥巖粘土性質(zhì)穩(wěn)定而泥質(zhì)性質(zhì)變化很大，砂泥巖常使用粘土性質(zhì)的解釋公式。將含水泥質(zhì)砂巖看成由砂巖骨架、泥質(zhì)和有效孔隙度三部分組成，對于含油氣的泥質(zhì)砂巖，還需要把圖中的有效孔隙體積劃分為含水孔隙體積和含油氣孔隙體積。 含水泥質(zhì)砂巖： Vma+Vsh+φe=1 含油氣泥質(zhì)砂巖： Vma+Vsh+φeSxo+φe=1 式中： Vma和 Vsh——分別為泥質(zhì)砂巖骨架和泥質(zhì)的相對體積； φe和 Sxo——分別為巖石有效孔隙度和沖洗帶含水飽和度。 同時，在實際井中，一般都有泥漿沖洗帶，除電阻率測井外，其它測井方法的探測范圍都比較小，主要是測量靠近井壁的沖洗帶的情況。 （自學） a．層狀泥質(zhì)砂巖 b．含分散泥質(zhì)的泥質(zhì)砂巖 c．含混合泥質(zhì)的泥質(zhì)砂巖 Vsh的方程 前述泥質(zhì)砂巖電導率解釋模型中，把砂巖和泥質(zhì)（粘土）中的地層水看成是性質(zhì)相同的一種自由電解液，泥質(zhì)砂巖的導電性是泥質(zhì)與砂巖孔隙中地層水并聯(lián)導電的結果。 （五）陽離子交換模型（自學） 實際上，幾乎所有泥質(zhì)砂巖中均含有數(shù)量不同的粘土礦物，而從導電機理來說，粘土礦物具有陽離子交換能力，它是與自由電解液（離子導電）完全不同的導電。 1968年 Waxman和 Smits在此基礎上又進一步實驗研究，提出了基于粘土礦物陽離子交換能力的泥質(zhì)砂巖電導率方程，即所謂 WaxmanSmits模型（簡稱 WS模型） ，此模型被認為是比較先進的解釋模型，得到較廣泛的應用，它把泥質(zhì)砂巖的解釋推向一個新階段。 即用測井資料判斷油 、 氣 、水層必須與地質(zhì)結合 ， 與巖心 、 錄井 、 氣測的含油顯示互相驗證 ， 與鄰井試油成果結合 ， 因此它是綜合定性識別油 、 氣 、 水層的方法 。新方法有C/O、 核磁測井等。 井溫低溫異常 ρb 減小， φN減小 △ t 增大， φN減小 ρb 減小 30 ?電阻率曲線顯示高值，（以此與水層區(qū)別）； ?將 AC與中子伽馬 NG曲線在水層重疊，在氣層 AC和 NG出現(xiàn)差異，且 NG 在 AC之右。 其中 U為體積光電吸收截面指數(shù) . ee PU ?? ?為電子密度 b． C/O測井提供的 FCC（俘獲 ν） (虛線 )和 C/I（俘獲ν/非彈性散射 γ）曲線 ? 氣層： FCC、 C/I均為高值，負差異， FCCC/I ? 油層： C/I與泥巖接近，正差異， FCCC/I ? 水層： C/I與泥巖接近，負差異， FCCC/I 在泥巖段令其重合 （ 3） 曲線重疊法 a． 對純巖性地層 ： 采用中子 —密度曲線重疊 ， 氣層： ρb低 ， ρb下降， φN減小 . b．對泥質(zhì)砂巖含氣層 ： 用△ t—φN曲線重疊， 氣層： φN減小 . 30 c．用△ t與中子伽瑪曲線在水層處重疊 氣層：△ t與中子 ν 明顯增加，區(qū)分油層。 對于中 —高 φ（ φ≥20%） 的油層具有低的 Swb， 高的 So。 ② 在徑向上 ， 淺探測電阻率 Rxo深 Rt， 即通常反映的油層具減阻侵入的特點 。 油層 : 深探測電阻率(COND)高 , 為水層 23層的 35倍以上 , R4M,呈明顯的減阻侵入 , SP幅度略低于 23層水層 . 目前發(fā)現(xiàn)的油層中有不少屬于低阻 ， 從成因上分析有以下幾種類型： ① 由于高 —極高地層水礦化度 （ 10萬 106）造成低阻油層 ， 油層的 Rt低到 1， 但與水層相比 ，油層 I≥5。 ③ 低礦化度 （ 1000 106） 泥質(zhì)砂巖含油層 ，由于泥質(zhì)附加導電性對 Rt的影響 ， 使油層 Rt下降 ，而淡水層 Rt增高到 10， 造成低阻油層與高阻水層在Rt曲線上難以區(qū)分 ， 也應配合 EPT、 C/O。 采用其它測井手段 ， 結合識別裂隙的測井方法解釋 。 由于巖性變細 ,束縛水含量增加引起的 6層的電阻率下降 ,故仍然解釋為油層 . 低阻低滲的差油層一般是粉砂巖 ,且含泥量較高，故 K較低， 錄井沒有油氣顯示或顯示較差 ,但油質(zhì)較好。 3． 水層 水層的電阻率高低主要受地層水礦化度影響 。 挑出水層的測井方法還有： EPT、比中子測井、 C/O。 泥質(zhì)夾層：低阻 Rt、高 GR； 鈣質(zhì)夾層：高阻 Rt、低 GR 1． 油層含油性的快速直觀顯示 （ 1） Rt、 Ro曲線重疊 Rt——深探測電阻率曲線 Ro——計算參數(shù)曲線 ， 純水層電阻率 Ro=F Rw 式中： F——地層因素 ， F=a/φm a、 m——為常數(shù) 水層： Rt= Ro， 曲線重合 油層： Rt Ro （二）快速直觀方法識別油水層 （ 2） Rwa、 Rmfa重疊曲線法 Rwa——視地層水電阻率 Rmfa——視泥漿濾液電阻率 Rwa F= Rt Rmfa F=Rxo 式中： Rxo——為沖洗帶電阻