【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 為20mm。對(duì)于環(huán)焊縫，掃查停止位置應(yīng)越過(guò)起始位置至少20mm。若發(fā)現(xiàn)直通波、底面反射波、材料晶粒噪聲或波型轉(zhuǎn)換波的波幅降低12dB以上或懷疑耦合不好時(shí)，應(yīng)重新掃查該段區(qū)域。若發(fā)現(xiàn)直通波滿屏或晶粒噪聲波幅超過(guò)滿屏高20％時(shí)，則應(yīng)降低增益并重新掃查?！堞蚼ax ，可根據(jù)公式計(jì)算；一般不超過(guò)50mm/s。公式：νmax=PRFΔX /N，νmax——最大掃查速度，mm/s；PRF——激發(fā)探頭的脈沖重復(fù)頻率，Hz；ΔX——設(shè)置的掃查增量值，mm；N——設(shè)備的信號(hào)平均次數(shù)，采取措施使超聲波聲束與焊縫橫截面形成一定的傾角進(jìn)行檢測(cè)。 檢測(cè)系統(tǒng)復(fù)核1）檢測(cè)過(guò)程中檢測(cè)設(shè)備開(kāi)停機(jī)或更換部件時(shí)，進(jìn)行復(fù)核。2）檢測(cè)人員有懷疑時(shí)，進(jìn)行復(fù)核。3）檢測(cè)結(jié)束時(shí)，進(jìn)行復(fù)核。4）復(fù)核要求：，則在復(fù)核時(shí)應(yīng)采用同一試塊。，則應(yīng)在工件上的同一部位復(fù)核。，則按表510的規(guī)定執(zhí)行糾正。表510 偏離和糾正靈 敏 度1≦6dB不需要采取措施，必要時(shí)可通過(guò)軟件糾正2＞6dB應(yīng)重新設(shè)置，并重新檢測(cè)上次校準(zhǔn)以來(lái)所檢測(cè)的焊縫深 度1偏離≦％（取較大值）不需要采取措施2偏離＞％（取較大值）應(yīng)重新設(shè)置，并重新檢測(cè)上次校準(zhǔn)以來(lái)所檢測(cè)的焊縫位 移1≦5%不需要采取措施2＞5%應(yīng)對(duì)上次校準(zhǔn)以來(lái)所檢測(cè)的位置進(jìn)行修正. 數(shù)據(jù)文件的命名規(guī)則：工程編號(hào)、罐號(hào)、焊縫編號(hào)、（縱焊縫掃查時(shí)：外側(cè)加W,內(nèi)側(cè)加N，左偏置加Z,右偏置加Z；環(huán)焊縫掃查時(shí)：外側(cè)加W,內(nèi)側(cè)加N，上偏置加S,下偏置加X(jué)）等。 如：工程編號(hào)+罐號(hào)+焊縫編號(hào)+掃查部位號(hào)(01NZ)（即R1n）。. 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)記錄，包括工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、分段檢測(cè)位置編號(hào)、檢測(cè)面區(qū)分標(biāo)志。，起始點(diǎn)用“0”表示，掃查方向用箭頭“→”表示，并用記號(hào)筆劃定，標(biāo)識(shí)應(yīng)對(duì)掃查無(wú)影響。，作為原始記錄(有TOFD現(xiàn)場(chǎng)掃查記錄、圖譜評(píng)定記錄)。 TOFD檢測(cè)發(fā)現(xiàn)母材中影響檢測(cè)結(jié)果的反射體，應(yīng)予以記錄。1)分析數(shù)據(jù)之前應(yīng)對(duì)所采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行評(píng)估以確定其有效性，應(yīng)滿足如下要求：2)數(shù)據(jù)是基于掃查增量的設(shè)置而采集的；3)采集數(shù)據(jù)量滿足所檢測(cè)焊縫長(zhǎng)度的要求；4)數(shù)據(jù)丟失量不得超過(guò)整個(gè)掃查的5%，且不允許相鄰數(shù)據(jù)連續(xù)丟失。5)采集的數(shù)據(jù)量應(yīng)滿足以下要求：各段掃查區(qū)的重疊范圍至少為20mm。對(duì)于環(huán)焊縫，掃查停止位置應(yīng)越過(guò)起始位置至少20mm。6)信號(hào)波幅改變量應(yīng)在12dB以上范圍之內(nèi)。7)若數(shù)據(jù)無(wú)效，應(yīng)糾正后重新進(jìn)行掃查。，按照J(rèn)B/；，按照J(rèn)B/；，按照J(rèn)B/；、報(bào)告和資料存檔1）檢測(cè)時(shí)，對(duì)每個(gè)TOFD掃描圖像都應(yīng)保存在儀器的存儲(chǔ)器內(nèi)，檢測(cè)結(jié)束后應(yīng)對(duì)每個(gè)掃TOFD描圖像中的缺陷進(jìn)行評(píng)定。2）對(duì)不合格缺陷在焊縫缺陷處用記號(hào)筆清晰標(biāo)注出來(lái)，并標(biāo)劃出缺陷斷面位置圖。3）繪制出檢測(cè)部位示意圖，以實(shí)測(cè)的可追溯性；不同部位的焊縫缺陷記錄標(biāo)注方法要清楚。1）檢測(cè)記錄和檢測(cè)報(bào)告應(yīng)按規(guī)定要求進(jìn)行保存。除常規(guī)檢測(cè)報(bào)告外，還應(yīng)印出焊縫缺陷 部位TOFD記錄和掃描圖，所有掃查記錄和TOFD圖像應(yīng)保存在光盤(pán)中一并提交存檔。2）記錄、報(bào)告的填寫(xiě)應(yīng)符合《質(zhì)量管理手冊(cè)》、《記錄控制程序》、《產(chǎn)品控制程序》等要求。3）檢測(cè)人員應(yīng)按照《質(zhì)量管理手冊(cè)》的要求編制、審核、簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告。4）檢測(cè)資料應(yīng)至少保存7年，其存檔應(yīng)滿足《檔案管理規(guī)定》的要求。電子版檢測(cè)資料應(yīng)做好備份、防盜等工作。（UT）工藝 a）所使用的檢測(cè)設(shè)備、器材和材料應(yīng)能滿足JB/。 b)探頭角度的選擇見(jiàn)下表511探頭折射角或K值的選擇。表511 推薦采用的斜探頭K值板厚T，mmK值6～25～（72176?！?0176。）25～46～（68176?！?6176。）46～120～（60176?！?5176。）c）探頭晶片尺寸：選用1313mm。d）探頭頻率：。e）斜探頭分辨力：斜探頭的分辨力應(yīng)大于或等于2OdB。 f) 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。采用JB/ⅠA、CSKⅢ、圖55注：尺寸誤差不大于177。圖54 CSKⅠA試塊圖55 CSKⅢA試塊探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭寬度的15%。探頭掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。采用自動(dòng)報(bào)警裝置時(shí)，不受限。掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度. 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b) 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)； c) 連續(xù)工作4h以上時(shí)；d) 工作結(jié)束時(shí)。 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a)每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b)每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 檢測(cè)人員在檢測(cè)前應(yīng)了解：被檢部位材質(zhì)、厚度、曲率、組對(duì)狀況、坡口形式、焊接方法、焊縫余高、焊縫寬度及缺陷產(chǎn)生的規(guī)律等情況,并根據(jù)了解內(nèi)容選擇合適的探頭。、檢測(cè)前檢測(cè)人員應(yīng)對(duì)被檢測(cè)焊縫區(qū)域進(jìn)行檢查,檢查內(nèi)容包括：焊縫兩側(cè)探傷范圍內(nèi)應(yīng)無(wú)浮銹、松散的油漆涂層、檢測(cè)松散的油漆涂層、局部脫落的氧化層以及油污、金屬凸起、飛濺及凹陷等。在作業(yè)前，必須對(duì)儀器的各項(xiàng)性能進(jìn)行校驗(yàn)。1）在CSKⅠA試塊上對(duì)儀器的時(shí)基掃描線進(jìn)行校準(zhǔn)。2）在CSKⅠA試塊上測(cè)定探頭前沿距離、K值（角度）。3）距離波幅曲線（DAC）繪制，見(jiàn)表512 距離波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)，如圖56所示。如果距離波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。表512距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板度mm評(píng)定線(EL)定量線(SL)判廢線(RL)CSKⅢA8～15φ16－12dBφ16－6dBφ16+2dB＞15～46φ16－9dBφ16－3dBφ16+5dB＞46～120φ16－6dBφ16φ16+10dB圖56 距離—波幅曲線 檢測(cè)面檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10 mm，見(jiàn)圖57。圖57 檢測(cè)和探頭移動(dòng)區(qū)a）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。b）采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，：P=2TK或P=2Ttanβ式中：P——跨距，mm；T——母材厚度，mm；K——探頭K值；β——探頭折射角，（176。）。c)采用直射法檢測(cè)時(shí)。 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇及探測(cè)面的確定 檢測(cè)技術(shù)等級(jí)為B級(jí)檢測(cè)a)母材厚度≥8mm～46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。b) 母材厚度大于46mm～120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。c) 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10176?！?0176。作兩個(gè)方向的斜平行掃查，見(jiàn)圖58。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖59。圖58斜平行掃查 圖59 平行掃查: 檢測(cè)方法采用接觸式A脈沖反射法a） 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。b) 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按JB/（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償。c) 為檢測(cè)縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查，見(jiàn)圖510。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10176?！?5176。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。圖510 鋸齒型掃查d) 為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見(jiàn)圖511。圖511 四種基本掃查方法 缺陷的評(píng)定和記錄：1) 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度；2) 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度；，合格級(jí)別為Ⅰ級(jí)。 缺陷的返工與記錄1）不合格缺陷必須返工，返工區(qū)域補(bǔ)焊后，返工部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域，應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn)，復(fù)驗(yàn)部位的缺陷亦應(yīng)按上述要求評(píng)定。2）復(fù)探范圍：返工部位沿焊縫前后延伸150mm。3）返工合格后,由檢測(cè)人員出具返工合格報(bào)告。4）缺陷記錄主要內(nèi)容包括但不限于：工件編號(hào)、焊縫編號(hào)、距離一波幅曲線、缺陷參數(shù)（長(zhǎng)度、深度、在焊縫上的相對(duì)位置）以及缺陷最大反射波高位置的存儲(chǔ)波形等。 報(bào)告報(bào)告發(fā)放必須及時(shí)準(zhǔn)確，真實(shí)可靠，字體清晰，專業(yè)術(shù)語(yǔ)規(guī)范，報(bào)告內(nèi)容符合工程交工技術(shù)文件規(guī)定。 a）所使用的檢測(cè)設(shè)備、器材和材料應(yīng)能滿足JB/。 b) 探頭的選擇見(jiàn)下表513。表513板材超聲檢測(cè)探頭選用推薦板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸20～40單晶直探頭5φ14mm～φ20mm40～250單晶直探頭φ20mm～φ25mm 耦合劑：化學(xué)漿糊。 試塊：本工程采用的CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊如下表514和下圖512： 表514CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度丁CBII120～4015≥20CBII240～6030≥40圖512 　CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 檢測(cè)靈敏度板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。 檢測(cè)前的準(zhǔn)備工作及掃查方法；a) 清除球殼板表面影響檢測(cè)的氧化皮、銹蝕及污垢。b) 掃查方法：探頭應(yīng)垂直于球殼板壓延方向，間距為100mm 的平行線進(jìn)行掃查。并對(duì)所查球殼板沿板四周100mm范圍內(nèi)作100%掃查。發(fā)現(xiàn)缺陷后要確定缺陷的方位、深度及面積。檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)缺陷后除在球殼板上標(biāo)注缺陷大小方位外，還應(yīng)劃出缺陷大小及方位的示意圖。，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷:a) 缺陷第一次反射波(E)波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%。b) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波(E)波高與底面第一次反射波(E)波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1B150%。c) 底面第一次反射波(E)波高低于滿刻度的50%，即B150%。 a) 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的范圍。 b) 一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。d) )中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭(單直探頭或雙直探頭)使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 缺陷的評(píng)定方法，單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a) 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。b)　多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度(取其較大值)時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。 質(zhì)量評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)：a. 按JB/《承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)》標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)規(guī)定進(jìn)行缺陷評(píng)判。b. 球殼板質(zhì)量評(píng)定，按設(shè)計(jì)要求進(jìn)行，技術(shù)等級(jí)選用B級(jí)，檢測(cè)結(jié)果I級(jí)合格。c. 在球殼板周邊50mm及坡口預(yù)定線兩側(cè)各25mm內(nèi)一個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度不得大于或等于50mm。d. 檢測(cè)人員確認(rèn)為危害性缺陷（白點(diǎn)、裂紋）時(shí)，則應(yīng)予以判廢。 報(bào)告報(bào)告發(fā)