累積和控制圖在企業(yè)質(zhì)量控制中的應(yīng)用-文庫吧資料
2024-08-12 04:09本頁面
【正文】 限質(zhì)量水平p時表示過程已到失控狀態(tài)，應(yīng)該發(fā)出警報，用L表示失控過程的平均鏈長，即平均抽取L個樣本就發(fā)一次警報，而不發(fā)警報相當(dāng)于犯第二類錯誤。在L兩邊取對數(shù)，得ln(L) ≥ln(A)，通過計算有≥取h= k=n?（計數(shù)型累積和控制圖）中規(guī)定的參數(shù)選取方法平均鏈長是指對給定的質(zhì)量水平p，累積和控制圖從開始到發(fā)出警報為止所抽取的平均樣本數(shù)。p通常用以往若干個合格批獲得的不合格品率的平均值給出，p應(yīng)保證產(chǎn)品質(zhì)量不超過檢驗規(guī)范的要求，且p與p的比值一般不宜太小，～5之間，否則將會加大每一樣本的容量n。下面主要論述一下當(dāng)隨機變量服從二項分布時參數(shù)h和k的選取方法。根據(jù)所要求檢測的目的不同，參數(shù)選取的方法也不僅僅是一種。（4）累積和計算簡單,便于繪圖，很容易在累積和圖上觀測到質(zhì)量水平趨于失控時的變化趨勢。（2）累積和控制圖與目標值緊密聯(lián)系在一起，綜合控制了過程的統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)和相關(guān)的過程質(zhì)量指標。在控制圖中，僅僅向外擴張的上下控制線可以用于檢測對均值的偏離.圖一 雙側(cè)檢驗的累積和控制圖 圖二 連續(xù)取樣區(qū)間:（1）累積和控制圖充分利用所有樣本信息，對過程平均水平變化反映靈敏。雙側(cè)檢驗的累積和控制圖的不同序貫概率比的可接受區(qū)間一般的連續(xù)抽樣的累積和控制圖模型如圖二所示，圖中有三個判斷區(qū)域來接受相應(yīng)的假設(shè):H:，H:(＞)，H:(＜)，如陰影部分表示。由于上下控制界限是樣本數(shù)m的函數(shù)，所以上下控制線變?yōu)樾本€，而不再是水平線，如圖一所示。把偏離目標值的情況表示為和，犯第二類錯誤的概率分別為和，第一類錯誤的概率為α。如需要檢測過程均值在上下兩個方向上偏離目標值的情況，則需要用一對單側(cè)累積和控制圖來分別檢測過程向上和向下的偏離情況。上式可以用于建立一個單側(cè)控制圖來檢測均值的向上移動。當(dāng)H為真時接受H的概率為β，β為犯第二類錯誤的概率。 BA,繼續(xù)抽檢樣本。A. wald曾證明，令 A= B= ≥A，接受H。遠小于1，H成立可能性大。（二）累積和控制圖原理——序貫概率比檢驗累積和控制圖以序貫概率比檢驗為主要依據(jù)，也就是說累積和控制圖的數(shù)學(xué)原理為序貫概率比檢驗。生產(chǎn)是連續(xù)的，按時間次序獲得的樣本代表了隨時間推移的過程質(zhì)量水平，而且生產(chǎn)過程的質(zhì)量水平處在一個穩(wěn)定狀態(tài)，由于一些異常因素使質(zhì)量突然發(fā)生了變化，那么過程在未調(diào)整前就將維持在這一狀態(tài)，直到采取措施。Jaime Puigpey用高斯方程法算出了運行長度的概率分布和平均運行長度。 Q amp。1983年，woodall計算了過程參數(shù)是己知情況下的運行鏈長的分布及其各階矩的計算。1982年Lucas和Crosier提出了快速初始化反映(FIS)方法。自從1954年P(guān)age提出應(yīng)用累積和控制圖監(jiān)控工業(yè)過程以后,累積和控制圖在國際上出現(xiàn)了一股研究熱潮。設(shè)樣本不合格品率為p，則從數(shù)理統(tǒng)計知 μ＝p σ＝ 中心線CL 上控制界限 UCL +3下控制界限LCL －3三、累積和控制圖（一）累積和控制圖的發(fā)展及使用條件累積和控制圖（簡稱CUSUM控制圖）理論基礎(chǔ)是序貫分析原理中的序貫概率比檢(Sequential Probability Ratio Test)，是一種基本的序貫檢驗法。 p控制圖的控制狀態(tài)指過程的不合格品率為一常數(shù)P，且各個產(chǎn)品的生產(chǎn)是獨立的。,檢出效果就不太理想了。休哈特控制圖主要是利用了最后一個點所包含的過程信息而忽略了整個點子序列的信息,也就是說控制圖沒有記憶力。若無異常波動,可認為過程受控。當(dāng)在現(xiàn)場使用時,可以先規(guī)定一個時間間隔(如1h, 2h等),按時間間隔抽取樣本,測量樣本中每個樣品的質(zhì)量特性,計算平均值，然后把計算結(jié)果點在控制圖上。二、休哈特控制圖（一）休哈特控制圖原理及其缺點休哈特控制圖理論基礎(chǔ)是“3σ”原理,就認為該過程的波動屬于正常波動。但是在實際應(yīng)用中前者比后者要普及得多。累積和控制圖是英國人佩基在序貫分析的基礎(chǔ)上提出，其理論在后來的學(xué)者的研究下逐步完善成熟。P圖最早由美國休哈特博士提出，并廣泛用于控制不合格品率。應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)對生產(chǎn)和服務(wù)過程進行分析，可以及時過程的規(guī)律和各種異常狀況，確定其原因，從而有助于解決甚至
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