【正文】 剝漆接口處漆皮剝鬆發(fā)黑嚴(yán)重 。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 引腳明顯長短不一 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長度尺寸一致時(shí) ) 產(chǎn)品引腳長度公差在 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/4或以內(nèi) 。 單層繞線產(chǎn)品外圈線交叉或重疊 。 剝漆粗糙 、 引腳氧化 、 發(fā)黑 、 黃斑 、 黑點(diǎn) 、 少錫 、 PIN歪斜 。 (不能滿足材料承認(rèn)要求 )。 引腳刮傷至露銅 。 繞腳高度超出引腳定位面 。 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認(rèn)書要求 。 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不全 。 產(chǎn)品 2根相鄰繞線爆皮 。 線傷 、 爆皮位於磁環(huán)內(nèi)圈進(jìn)出引腳上或匝間碰接處 。 鐵芯表面有凹痕 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T30至 T50規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 。 主要缺點(diǎn) : 機(jī)械尺寸 (角度 )不在規(guī)格內(nèi) . 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 固定圈數(shù)產(chǎn)品圈數(shù)錯(cuò) 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 不良判定標(biāo)準(zhǔn)之附件二 : 半成品及成品方面 AP、 APB、 APU系列 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 電氣 、 物理性能不符要求 。 主要缺點(diǎn) : 。 次要缺點(diǎn) : 標(biāo)示不良 (不清晰、損壞、不全 )。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 型號(hào)不符或已失效。 主要缺點(diǎn) : 、內(nèi)容不符。 次要缺點(diǎn) : 、灰塵污物及刻畫等現(xiàn)象。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : ﹑ 材質(zhì)不合格； ； 。 主要缺點(diǎn) : ； ﹑ 披鋒 ﹑ 裂紋。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ﹑ 材質(zhì)不合格； ； ﹑ 變形 ﹑ 氧化發(fā)黑 amp。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 ﹑ 顏色等不符合要求。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 ﹑ 髒污等外觀不良。 。 ,髒污 ,有斑痕 . : 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 。 。 (扁平 ) : : 。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 黑點(diǎn) ﹑ 斑痕等有色斑痕 。 漆包線 (圓形 ) 嚴(yán)重缺點(diǎn) :【針孔測試】 WIQT017 ﹑ 【 耐壓測試】 WIQT018 、 【 卷繞試驗(yàn)】 WIQT01【 可焊性檢測】 WIQT016等不合格； 。 : 、四周切割不平 。 : 。 SMD BASE可焊性檢測依 WIQT046. 次要缺點(diǎn) 。掛線柱缺損等 ?？s水處超過三個(gè) 。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 髒污等外觀不良。 TR磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴(yán)重不良。 ； ( )冒油、起泡等。 ； 1個(gè)； : 外表面 尺寸超過 , 內(nèi)表面 尺寸超過 。 SC、 ST磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ； 、裂縫、變形、生銹、接觸面帶刺、涂裝脫落等嚴(yán)重不良。 . SD等鍍銀品 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形等嚴(yán)重不良； 主要缺點(diǎn) : 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì)； : 外表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個(gè)； 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) (產(chǎn)品焊錫點(diǎn)或面離開水平面的最大距離大於 )； 1/4； .. : 超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超越其所在位置厚度之 1/2； .. ﹑ 磨損和發(fā)黑等超過其所在面凸處接觸面積的 10%； .. 95%可靠上錫。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm； ψ10 以上的超過 mm 。 (膠高度大於本身引腳線徑 ). 次要缺點(diǎn) : ,有色斑 ,引腳彎曲等外觀不良。 ,掉漆 。 、針腳基部嚴(yán)重彎曲等； ，或 ψ6( 或以下的 )有孔徑、深度超過 ，或 ψ6 以上的有孔徑、深度超過 ； ； 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良、表面沙孔或附雜質(zhì)； 未塗裝品外表面崩口尺寸 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T30至 T50規(guī)格超 過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 未塗裝品內(nèi)表面崩口尺寸 :T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ； 1個(gè)； 、裝配之表面脫漆、毛刺等塗裝不良； : T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； ； 1個(gè)； 。 ： ﹑ 髒污等外觀不良。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) RH磁芯 ： 、物理性能不合格； ； 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴(yán)重不良。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)或附雜質(zhì)； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個(gè) , 非兩端面有崩口。 檢驗(yàn)記錄管理 檢驗(yàn)記錄須作好標(biāo)識(shí)、儲(chǔ)存、保護(hù)，并在超過保存期限進(jìn)行處理 ,檢驗(yàn)記錄之保存期限參照『品質(zhì)記錄總覽表』。 檢驗(yàn)記錄填 檢驗(yàn)人員依照相關(guān)文件進(jìn)行外觀、尺寸、電性、破壞性試驗(yàn) 等檢 驗(yàn)或進(jìn)行實(shí)際裝配後，須將檢驗(yàn)結(jié)果填寫在相應(yīng)表單上 (參閱【檢驗(yàn)與測試作業(yè)程序】 QPQT01)。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 作業(yè)內(nèi)容 作業(yè)內(nèi)容 進(jìn)料檢驗(yàn)及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡAQL %單次抽樣計(jì)劃之 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ? ：采用 MILSTD105E LEVEL S3 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及判定 ． ：采用 10 pcs /批進(jìn)行抽樣檢驗(yàn) ， Ac=0． 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 製程檢驗(yàn)及判定 ： 100%全檢 Ac=0 Re=1 執(zhí)行． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計(jì)劃之標(biāo) 準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及判定． ：依【成品測試項(xiàng)目及抽樣標(biāo)準(zhǔn)】 WIEA238 進(jìn)行抽樣檢驗(yàn) , Ac=0 Re=1 進(jìn)行判定． 出貨檢驗(yàn)及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡ Ac=0 Re=1 單次抽樣 174。 文管單位進(jìn)行編號(hào) 、 受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 權(quán)責(zé)單位及職責(zé) 品質(zhì)單位制定本標(biāo)準(zhǔn) 。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 【 不合格品管制作業(yè)程序 】 QPQT03。 次要缺點(diǎn) : 不影響制品的使用目的之缺點(diǎn) ， 如 : 視覺上存在瑕玼 。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 定義 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 凡是有危害制品使用者或攜帶者的生命或安全之缺點(diǎn) 。 當(dāng)客戶未作特別 要求時(shí) ， 本標(biāo)準(zhǔn)即作為公司之通用 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行 。 適用範(fàn)圍 本標(biāo)準(zhǔn)適用於公司內(nèi)所有物料 、 半成品 、 成品檢驗(yàn) 。 查附表，得代字 F。 求在多次 、 雙次 、單次抽樣計(jì)劃下必須的平均抽樣檢驗(yàn)數(shù)量 。 直到採取矯正措施後 ， 才能恢復(fù)檢驗(yàn) 。 ? 減量檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn)：當(dāng)施行減量檢驗(yàn)時(shí) ， 如在原來檢驗(yàn)中有一批被拒收 ， 及改為正常檢驗(yàn) 。 ? 加嚴(yán)檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn)時(shí)：當(dāng)實(shí)施加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí) ， 如原來檢驗(yàn)之連續(xù) 5批中被允收時(shí) ， 即可開始改用正常檢驗(yàn) 。這種只抽驗(yàn)一次就可判斷一批產(chǎn)品合格與否的檢驗(yàn)形式稱為單次檢驗(yàn)形式。 (單獨(dú)批無法調(diào)整其檢驗(yàn)量 )。 調(diào)整型抽樣計(jì)劃規(guī)定，依過去檢驗(yàn)結(jié)果，若送驗(yàn)批品質(zhì)良好即減少檢驗(yàn)樣本，反之則增加樣本或減少合格判定數(shù) (加嚴(yán)檢驗(yàn) ) 。 抽樣檢驗(yàn)的由來 抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃的分類 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、選別型、調(diào)整型 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、調(diào)整型 三種抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 此種抽樣計(jì)劃的精神在兼顧買賣雙方之利益和損失即規(guī)定雙方的冒險(xiǎn)率 α及 β為一定之?dāng)?shù)字 (一般取 α =5%， β =10%) 。抽樣檢驗(yàn)雖然並非絕對可靠，但近代統(tǒng)計(jì)學(xué)的發(fā)展已使抽樣理論與實(shí)用方法幾乎趨於完備，使此等方法具有高度的可靠性及經(jīng)濟(jì)價(jià)值。 (3)次要缺點(diǎn) (Minor defect) 實(shí)際上不影響製品的使用目的之缺點(diǎn)謂之次要缺點(diǎn)。 缺點(diǎn)一般可分為 : (1)嚴(yán)重缺點(diǎn) (Critical defect) 凡有危害製品的使用者或攜帶者的生命或安全之缺點(diǎn)謂之嚴(yán)重缺點(diǎn) 。 ) 不合格判定數(shù) (判定批為不合格時(shí)，樣本內(nèi)所含之最少不良品個(gè)數(shù)，以 Re表示之。 合格判定數(shù) 判定一批產(chǎn)品是否合格或不合格的基準(zhǔn)不良數(shù)謂之合格判定數(shù)，其符號(hào)以 C [AC]表示。 樣本 樣本是從檢驗(yàn)批中所抽取一個(gè)以上的單位製品所組成的，樣本中的各個(gè)樣品 均須隨機(jī)且具代表性，而不考慮它的品質(zhì)好壞的情況抽出。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)