【正文】 中間 最多 行政費用（含訓練、人員、記錄及抽樣等） 最少 中間 最多 檢驗負荷的變異性 不變 變動 變動 對每批製品品質(zhì)估計之準確性 最差 中間 最好 對製程平均數(shù)估計之決策速度 最快 較慢 最慢 對檢驗人員及設備之使用率 最佳 較差 較差 MILSTD105E樣本代碼表 s1 s2 s3 s4 Ⅰ Ⅱ ⅢA A A A A A BA A A A A B CA A B B B C D A B B C C D EB B C C C E FB B C D D F G B C D E E G HB C D E F H JC C E F G J KC D E G H K LC D F G J L MC D F H K M ND E G J L N PD E G J M P QD E H K N Q R特殊檢驗水準 一般檢驗水準1201 to 32003201 to 1000010001 to 35000151 to 280281 to 50026 to 5051 to 9091 to 150501 to 120035001 to 150000150001 to 500000500001 and over批 量2 to 89 to 1516 to 25電 性 採 用 外 觀 採 用 從左向右 ,樣本愈來愈大 MILSTD105E抽樣計劃表 1 4 Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac ReA2 0 1B3 0 1C5 0 1D8 0 1 1 2E13 0 1 1 2 2 3F20 0 1 1 2 2 3 3 4G32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6H50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8J80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11K125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15L2000 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22M3150 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22N500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22P800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22Q1250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22R2022 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22樣本代碼樣本大小允收水準（A Q L ） （普通）外觀 電性 從左向右 ,要求愈來愈嚴 ! MILSTD105E之轉(zhuǎn)換程序 正常檢驗轉(zhuǎn)換成加嚴檢驗時：當實行正常檢驗時 ， 如原來檢驗之連續(xù) 4或 5批中有 2批被拒收 ， 即可改用加嚴檢驗 。因此，抽樣檢驗方法在今日工商業(yè)界，實成為不可缺少的工具 。 (判定批為合格時，樣本內(nèi)容許含有之最高不良品個數(shù)，以 AC或 C 表示之。 樣本 樣本是從檢驗批中所抽取一個以上的單位製品所組成的，樣本中的各個樣品 均須隨機且具代表性，而不考慮它的品質(zhì)好壞的情況抽出。 (3)次要缺點 (Minor defect) 實際上不影響製品的使用目的之缺點謂之次要缺點。 (單獨批無法調(diào)整其檢驗量 )。 直到採取矯正措施後 ， 才能恢復檢驗 。 當客戶未作特別 要求時 ， 本標準即作為公司之通用 檢驗標準執(zhí)行 。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 檢驗記錄填 檢驗人員依照相關文件進行外觀、尺寸、電性、破壞性試驗 等檢 驗或進行實際裝配後，須將檢驗結果填寫在相應表單上 (參閱【檢驗與測試作業(yè)程序】 QPQT01)。 ： ﹑ 髒污等外觀不良。 ,掉漆 。 . SD等鍍銀品 嚴重缺點 : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形等嚴重不良； 主要缺點 : 、裝配之燒結不良點、沙孔或附雜質(zhì)； : 外表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個； 品質(zhì)檢驗標準 (產(chǎn)品焊錫點或面離開水平面的最大距離大於 )； 1/4； .. : 超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超過電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超越其所在位置厚度之 1/2； .. ﹑ 磨損和發(fā)黑等超過其所在面凸處接觸面積的 10%； .. 95%可靠上錫。 TR磁芯 嚴重缺點 : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴重不良。 SMD BASE可焊性檢測依 WIQT046. 次要缺點 。 次要缺點 : ﹑ 黑點 ﹑ 斑痕等有色斑痕 。 。 次要缺點 : ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 次要缺點 : 、灰塵污物及刻畫等現(xiàn)象。 主要缺點 : 。 鐵芯表面有凹痕 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T30至 T50規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 。 標記顏色或標簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認書要求 。 剝漆粗糙 、 引腳氧化 、 發(fā)黑 、 黃斑 、 黑點 、 少錫 、 PIN歪斜 。 繞線上或剝漆接口處漆皮剝鬆發(fā)黑嚴重 。 底座燙傷 、 變形 .崩口 。 繞腳相位錯。 品質(zhì)檢驗標準 針腳易鬆動或脫落 (用繞線線徑做引腳的產(chǎn)品不需做拉力試驗 ) ∮≦ 2mmCORE之引腳拉力 。 以下線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 2TS。 引腳氧化、發(fā)黑、焊錫粗糙、黃斑、黑點、包漆過長 。 鐵芯斷裂或裂縫或線圈鬆動 。 貼片類產(chǎn)品平整度尺寸超過 (特殊產(chǎn)品除外 )。 品質(zhì)檢驗標準 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 剝漆處明顯凹凸不平 。 點膠位置錯 。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 底座 、 線圈燙傷 、 錫珠 、 錫渣附著 。 標記顏色或標簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認書要求 . 次要缺點 : 支架底座邊緣切口不平整 。 標簽明顯偏斜 、 毛邊 、 粗糙或粘合不緊 。 基座有破損現(xiàn)象 。 引線入底座槽未垂直引出 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 磁芯斷裂 、 裂痕 。 白點方向錯 。 鍍銀面頂部接觸面上有掉銀現(xiàn)象 。 繞線有線傷現(xiàn)象 。 引腳易鬆動或脫落 : ∮≦ 7mm以下 CORE之引腳拉力 。 鐵片卡腳伸出磁套外部分超過 。 主要缺點 : 機械尺寸不在規(guī)格內(nèi) 。 引腳偏移超過 。 斷線 、 繞線方向錯 。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 。 φ ~φ 1TS。 線傷 、 爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 3mm∮≦ 6mm CORE之引腳拉力 。 品質(zhì)檢驗標準 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 繞線方向錯 。 線傷 、 爆皮位於磁環(huán)內(nèi)圈進出引腳上或匝間碰接處 。 鐵芯掉漆 (尺寸不超過 )繞線區(qū)域掉漆 1處 ,非繞線區(qū)域掉漆 2處 。 繞腳高度超出引腳定位面 。 多層產(chǎn)品外圈交叉或引腳處交叉 。 。 感謝大家一直以來以 QE工作的理解與支持 ! BEST WISHES AND THANK YOU! 。 【 出貨標籤及嘜頭格式規(guī)範 】 WIWH012要求 。 φ 2TS。 引腳歪斜 。 產(chǎn)品凹痕深度超過 。 PIN有冷焊 、 漏焊 、 焊錫不全或錫塊附著 、 端面針孔 。兩繞組之間的距離小於 3mm。 錫珠附著 . 一般缺點 : 線圈排列不緊密 ,不均勻 ,線交叉 。 (繞腳高於基座之定位面 )、 留尾線頭 、 交叉 、 重疊 、 線鬆 ,繞腳圈數(shù)不符 : φ