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spc統(tǒng)計過程控制的原理與工具(參考版)

2024-08-10 00:14本頁面
  

【正文】 雖然將所有做了標(biāo)記的事件作為特殊原因的可能的證據(jù)來調(diào)查是明智的,但應(yīng)意識到它們可能是由于系統(tǒng)原因造成的,而應(yīng)構(gòu)成局部過程問題。但是其它考慮的事項(xiàng)也對分析人員有幫助。確保當(dāng)與新的控制限相比時,所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)看起來都處于受控狀態(tài),如有必要,重復(fù)識別/糾正/重新計算的程序。 (見第 38頁, 節(jié))諸如排列圖和因果分析圖等對解決技術(shù)問題會有幫助(見附錄 H,參考文獻(xiàn) 11)。為了診斷并將不合格的輸出減到最小,及時分析是很重要的確。 * * 參見附錄 A示例**見附錄 B示例圖 18 X—R圖—重新計算控制限 識別和標(biāo)注特殊原因(均值圖) (見圖 18)對于均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析,以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由,糾正該狀態(tài),并且防止它再現(xiàn)。 **) 。過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同的過程流的測量值 *。如果大大少于 2/3的數(shù)據(jù)點(diǎn)落在過程平均值的附近(對于 25個子組的情況,如果有 40%或少于 40%的數(shù)據(jù)落在中間三分之一區(qū)域內(nèi)),則應(yīng)調(diào)查下列情況之一或兩者:過程或取樣方法分層;每個子組包含從兩個或多個具有不同的均值的過程流的測量值;如果大超過 2/3的點(diǎn)落在過程均值的附近(對于 25個子組的情況,如果有 90%多的點(diǎn)在控制限三分之一的中間區(qū)域) ,應(yīng)調(diào)查下列情況之一或更多:下列給出檢驗(yàn)異常分布寬度的準(zhǔn)則:各點(diǎn)與過程均值的距離:一般情況下,大約三分之二的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限三分之一的中間區(qū)域內(nèi),大約 1/3的點(diǎn)落在其它三分之二區(qū)域;1/20 的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處(位于外三分之一的區(qū)域) 。圖 17 X圖—非隨機(jī)模式c. 明顯的非隨機(jī)圖形(見圖 17)——盡管必須注意不要過分解釋數(shù)據(jù),但其他一些特別的圖形中也能表明存在變差的特殊原因。過程均值已改變——也許還在變化;標(biāo)注這些促使人們作出決定的點(diǎn);從該點(diǎn)做一條參考線延伸到鏈的開始點(diǎn),分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。連續(xù) 7點(diǎn)在平均值的一側(cè);比較極差圖和均值圖的圖形是有幫助的。測量系統(tǒng)發(fā)生變化(例如:不同量具或檢驗(yàn)員) 。控制限或描點(diǎn)錯誤; (見第 35頁) 。a. 超出控制限的點(diǎn)(見圖 15)——出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控制限就證明在這點(diǎn)出現(xiàn)特殊原因。由于 X的控制限取決于極差圖中變差大小,因此如果均值處于統(tǒng)計控制狀態(tài),其變差便與極差圖中的變差——系統(tǒng)的普通原因變差有關(guān)。圖 15 X圖——超出控制限的點(diǎn)C.4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)當(dāng)極差受統(tǒng)計控制時,則認(rèn)為過程的分布寬度——子組內(nèi)的變差——是穩(wěn)定的。這為用來檢驗(yàn)將來出現(xiàn)變差的特殊原因的控制限提供了最適當(dāng)?shù)囊罁?jù)。注:排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)” 。修改后的 R和 X可用于重新計算均值的試驗(yàn)控制限,X177。確保當(dāng)所有的極差與新的控制限比較時,表現(xiàn)為受控,如有必要重復(fù)識別/糾正/重新計算的過程。排除所有受已被識別并解決或固定下來的特殊原因影響的子組。在對過程采取可顯著改進(jìn)性能的措施時,需要有徹底性、耐性、洞察力和理解力。來自控制圖的統(tǒng)計輸入可以是一個合適的開始點(diǎn),但其它的方法例如排列圖,因果圖或其他的圖形分析法也是很有幫助的(參見附錄 H,參考文獻(xiàn) 11) 。對識別變差的特殊原因來說過程記錄表可能也是一具有用的信息源。為了將生產(chǎn)的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新證據(jù),及時分析問題是很重要的。應(yīng)對這些特殊原因進(jìn)行評定。控制圖本身就是問題分析的有用的工具,能提示何時該條件開始以及該條件持續(xù)多長時間。 * *參見附錄 A。過程或抽樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值(例如:輸入材料批次混淆) 。如果顯著少于 2/3以下的描點(diǎn)落在離 R很近的區(qū)域(對于 25個子組,如果有 40%或少于 40%的點(diǎn)落在中間三分之一的區(qū)域) ,則應(yīng)對下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào)查:過程或取親方法被分層;每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值(例如:從幾組軸中,每組抽一根,測取數(shù)據(jù)) *;如果顯著多于 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處(對于 25個子組,如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限三分之一的區(qū)域) ,則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查:非隨機(jī)的圖形例子:明顯的趨勢(盡管它們不屬于鏈的情況) ,周期性,數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個控制限內(nèi),或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等(例如:第一個讀數(shù)可能總是最大值) 。圖 13 R圖—非隨機(jī)模式c.明顯的非隨機(jī)圖形(見圖 13)——除了會出現(xiàn)超過控制界的點(diǎn)或長鏈之外,數(shù)據(jù)中還可能出現(xiàn)其他的易分辨的由于特殊原因造成的圖形。測量系統(tǒng)改變,這樣會遮掩過程真實(shí)性能的變化。低于平均極差的鏈,或下降鏈表明存在下列情況之一或全部:輸出值的分布寬度增加,其原因可觀膽無規(guī)律的(例如設(shè)備工作不正?;蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某個要素變化(例如,使用新的不是很一致的原材料) ,這些都是常見的問題,需要糾正;分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)改變或趨勢的大致時間。連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè);比較極差和均值圖的圖形也可以更深刻地理解。這種情況會給出首次警告:應(yīng)糾正不利條件。測量系統(tǒng)已改變(包括數(shù)據(jù)編輯或變換) ??刂葡藁蛎椟c(diǎn)錯誤;測量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪ΑA慵g的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大(即變壞) ,這種增大的可以發(fā)生在某個時間點(diǎn)上,也可能是整個趨勢的一部分;超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種:因此,任何超出控制限的點(diǎn)是立即進(jìn)行分析,找出存在特殊原因的信號。超出控制限的點(diǎn)(圖 11)——出現(xiàn)一個或多個點(diǎn)超出任何一個控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)。因此首先分析 R圖。R 圖和 X圖應(yīng)分別分析,但是對兩個圖形進(jìn)行比較時,有時可以幫助深入了解影響過程的特殊原因。而且,數(shù)據(jù)中不會出現(xiàn)與由于隨機(jī)變化產(chǎn)生的圖形有明顯不同的圖形與趨勢。B.3 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線(見圖 10)將平均極差(R)和過程均值(X)畫成水平實(shí)線,各控制限(UCL R,LCL R,UCL X,LCL X)畫成水平虛線;把線標(biāo)上記號,在初始研究階段,這些被稱為試驗(yàn)控制限??刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。B.1 計算平均極差(R)及過程均值(X) (見圖 10)在研究階段,計算:R=X=式中:k 為子組的數(shù)量,R 1和 X1即為第 1個子組的極差和均值,R2和 X2為第 1個子組的極差和均值,等等。圖 10 有控制限的 X—R圖計算控制限首先計算極差圖的控制限,再計算均值圖的控制限,計量型數(shù)據(jù)的控制圖的控制限的計算要使用下列公式中的字母表示的系數(shù)。注:為了再次強(qiáng)調(diào)生產(chǎn)現(xiàn)場的所有控制限的控制圖的應(yīng)用,還沒有計算控制限(由于沒有足夠的數(shù)據(jù))的初期操作控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。將各點(diǎn)用直線聯(lián)接起來從而得到可見的圖形趨勢。A.5 將均值和極差畫到控制圖上(見圖 9)將均值和極差分別畫在其各自的圖上。對于 R圖,刻度值應(yīng)從最低值 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差(R)的 2倍。X1+X2 +…Xnn圖 9 X—R圖——“初始研究”A.4 選擇控制圖的刻度(見圖 9)兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X和 R的測量值,用于確定刻度值的一些通用的指南是有幫助的,盡管它們在特殊情況下可能要修改。對每個子組,計算: X=R=X 最大值 —X 最小值式中:X 1 ,X 2 …為子組內(nèi)的每個測量值。填入每個子組的單個讀數(shù)及識別代碼。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個讀數(shù)的空間。圖 8 R圖——數(shù)據(jù)A.2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)(見圖 8)X—R圖通常是將 X圖畫在 R圖之上方,下面再接一個數(shù)據(jù)欄。然而,只有它們是最近的,并且對建立子組的基礎(chǔ)很清楚的情況下才能使用?!咏M數(shù)的大小應(yīng)滿足兩個原則,從過程的角度來看,收集越多的子組可以確保變差的主要原因有機(jī)會出現(xiàn),一般情況下,包含 100或更多單值讀數(shù)的 25或更多個子組可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性,如果過程已穩(wěn)定,則可以得到過程位置和分布寬度的有效的估計值。當(dāng)證明過程已處于穩(wěn)定狀態(tài)(或已對過程進(jìn)行改進(jìn)) ,子組間的時間間隔可能增加。這些變化的潛在原因可能是換班、或操作人員更換、溫升趨勢、材料批次等原因造成的?!淠康氖菣z查經(jīng)過一段時間后過程中的變化。當(dāng)這些條件不滿足時,最后的控制圖可能不會有效地區(qū)分變差的特殊原因,或可能出現(xiàn)本節(jié) 。這樣做的目的是每個子組內(nèi)的零件都是在很短的時間間隔內(nèi)及非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的并且相互之間砂存在其他的系統(tǒng)的關(guān)系。如果一個子組內(nèi)的變差代表很短時間內(nèi)的零件間的變差,則在子組之間出現(xiàn)不正常的變差則表明過程發(fā)生變化,應(yīng)進(jìn)行調(diào)查并采取適當(dāng)?shù)拇胧?。A.1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)(見圖 7)——計量型控制圖的第一關(guān)鍵步驟就是“合理子組”的確定——這一點(diǎn)將決定控制圖的效果及效率。這些數(shù)據(jù)是以樣本容量恒定的小子組的形式報出的,這種子組通常包括2~5件連續(xù)的產(chǎn)品,并周期性的抽取子組(例如:每 15分鐘抽樣一次,每班抽樣兩次等) 。在所有情況下,過程記錄表上應(yīng)堅(jiān)持記錄所有相關(guān)事件,例如:刀具更換、新的原材料批次等,這將有利于下一步的過程分析。這一點(diǎn)可能簡單地意味著觀察過程按預(yù)定的方式運(yùn)行,或意味著用已知的輸入材料恒定的控制設(shè)定值進(jìn)行控制的研究。有關(guān)這一主題的詳細(xì)介紹見第 IV節(jié)。測量設(shè)備的本身的準(zhǔn)確性和精密性必須是可預(yù)測的。定義測量系統(tǒng)必須可操作地定義其特性,這樣,今天就可以以與昨天意義一樣的方式將數(shù)據(jù)送給所有有關(guān)人員。在缺乏現(xiàn)存過程的知識時,可能要設(shè)計一個試驗(yàn)來驗(yàn)證這些關(guān)系和重要性。另外,如果一具項(xiàng)目的幾個單獨(dú)的特性具有相同的變化趨勢,可能只用一個特性來畫圖就足夠了。這些是改進(jìn)的機(jī)會,需要應(yīng)用管理企業(yè)所涉及的知識;——特性之間的相互關(guān)系:為了有效率及有效果地研究應(yīng)利用特性間的關(guān)系。應(yīng)適當(dāng)考慮如下因素:——顧客的需求:包括使用產(chǎn)品和服務(wù)作為輸入的后續(xù)過程顧客和作為最終產(chǎn)品的顧客。確定作圖的特性 用來確定這些特性的例子為通用公司的《關(guān)鍵特性命名系統(tǒng)》(參見附件 H,參考文獻(xiàn) 24) 。因果分析圖、過程流程表等技術(shù)可以使這些更加直觀并且讓理解過程的不同方面的人員的經(jīng)驗(yàn)集中起來。 必須排除機(jī)構(gòu)內(nèi)阻礙人們公正的顧慮。使不必要的變差最小第 1節(jié)均值和極差圖(X—R 圖)在使用 X—R圖之前,必須作幾點(diǎn)適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)備:確定待管理的特性考慮到: ——顧客的需求 ——當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 ——特性間的相互關(guān)系建立適用于實(shí)施的環(huán)境本章第 1節(jié)討論中較長篇幅討論 X—R圖,本章第二節(jié)討論 X和s圖(R 圖的替代) ,第三節(jié)討論中位數(shù)圖(平均值和極差圖的簡單替代圖) ,本章第 4節(jié)討論用于單值的控制圖(當(dāng)必須在單值而不是子組的基礎(chǔ)上作出決定時) 。最常用的是 X和 R圖。計量型控制圖可以通過分布寬度(零件間的變異性)和其位置(過程的平均值)來解釋數(shù)據(jù)。 (見圖 6)計量型數(shù)據(jù)的控制圖應(yīng)用廣泛,有如下原因:大多過程和其輸出具有可測量的特性,所以其潛在應(yīng)用廣泛;量化的值(例如:“直徑為 ”)比簡單的是—否陳述(例如:”直徑符合規(guī)范” )包含的信息更多;雖然獲得一個測得的數(shù)據(jù)比獲得一個通過或不通過的數(shù)據(jù)成本高,但為了獲得更多的有關(guān)過程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較少,因此,在某些情況下測量的費(fèi)用更低;由于在作出可靠的決定之前,只需檢查少量產(chǎn)品,因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間隔;用計量型數(shù)據(jù)可以分析一個過程的性能,可以量化所作的改進(jìn),即使每個單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。例如:軸承的直徑、關(guān)門所用的力,或?qū)彶橐粡埵論?jù)所用的時間等。與過程有關(guān)的控制圖 測量結(jié)果 ? 計量單位(mm,kg 等) ? 原點(diǎn)(0 mm,32*F 等) 過程結(jié)果舉例 控制圖舉例? 軸的外徑(英寸)? 從基準(zhǔn)面到孔的距離(mm)? 電阻(Ω)? 軌道車通過時間(h)? 工程更改處理時間(h)用于均值測量的 X圖用于極差測量的 R圖測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果人員 設(shè)備 環(huán)境材料 方法 不精密 精密不準(zhǔn)確準(zhǔn)確**注:當(dāng)前有的計量學(xué)書籍將準(zhǔn)確度定義為沒有偏倚。一個好語音是在每張控制圖上列出測量設(shè)備的重復(fù)性和再現(xiàn)性(GRamp。注:附錄 I提供了兩個空白的控制圖和過程記錄表格的示例。在學(xué)習(xí)這些技術(shù)說明及建議時,最好要記住若想從控制圖中得到的真正的好處就要掌握和有效地使用它。這樣可以減少混淆、挫折以及誤導(dǎo)性解決問題的努力而造成的高成本。所需的數(shù)據(jù)量將隨受檢的過程而變化。當(dāng)需
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