spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制與控制圖(參考版)
2025-07-10 12:05本頁(yè)面
【正文】 分析用控制圖與控制用控制圖異同點(diǎn)：分析用控制用計(jì)算控制界限需無(wú)收集樣本至少25件1件樣本分析時(shí)間25件以后每件以后目 的了解狀態(tài)是否受控；能力能否滿(mǎn)足保持狀態(tài)END。 提高過(guò)程能力 必須重視減少普通原因。SL：規(guī)范界限 當(dāng)Cp 1 能力不合格； 當(dāng)Cp 1 能力合格；＾ CPU=（USL – X）/（3σR/d2）＾ CPL=（X LSL）/（3σR/d2） Cpk =Zmin/3=CPU或CPL的最小值 評(píng)價(jià)過(guò)程能力 基本目標(biāo)：對(duì)過(guò)程的性能進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)，首先應(yīng)考慮的是哪些過(guò)程應(yīng)優(yōu)先獲得注意。 將均值和極差畫(huà)到控制圖上 B. 計(jì)算控制限 計(jì)算R及X=R1 + R2+ … +RKRK=X1+X2+ … +XKXK 計(jì)算控制限 UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X ＋ A2R LCLX=X － A2R 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線Ｃ. 過(guò)程控制解釋 分析用控制圖受控狀態(tài)的判斷準(zhǔn)則：┈ 連續(xù)25個(gè)點(diǎn)都在控制界限內(nèi)，或┈ 連續(xù)35個(gè)點(diǎn)中，在控制界限外的點(diǎn)不超過(guò)1個(gè)點(diǎn)，或┈ 連續(xù)100個(gè)點(diǎn)中，在控制界限外的點(diǎn)不超過(guò)2個(gè)點(diǎn)，且┈ 點(diǎn)子無(wú)非隨機(jī)排列。 選擇控制圖的刻度對(duì)于X 圖：坐標(biāo)上的刻度的最大值與最小值之差至少為子組均值的最大值與最小值的2倍。 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計(jì)算每個(gè)子組的均值（X）和極差（R）X ＝（X1 + X2 + … + Xn）／nＲ＝Ｘ最大值－Ｘ最小值式中：X1
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