spc統(tǒng)計過程控制模式(參考版)
2025-07-10 12:04本頁面
【正文】 分析用控制圖與控制用控制圖異同點：分析用控制用計算控制界限需無收集樣本至少25件1件樣本分析時間25件以后每件以后目 的了解狀態(tài)是否受控；能力能否滿足保持狀態(tài)END。 提高過程能力 必須重視減少普通原因。SL：規(guī)范界限 當Cp 1 能力不合格； 當Cp 1 能力合格；＾ CPU=（USL – X）/（3σR/d2）＾ CPL=（X LSL）/（3σR/d2） Cpk =Zmin/3=CPU或CPL的最小值 評價過程能力 基本目標：對過程的性能進行持續(xù)改進，首先應(yīng)考慮的是哪些過程應(yīng)優(yōu)先獲得注意。 將均值和極差畫到控制圖上 B. 計算控制限 計算R及X=R1 + R2+ … +RKRK=X1+X2+ … +XKXK 計算控制限 UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX=X ＋ A2R LCLX=X － A2R 在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線Ｃ. 過程控制解釋 分析用控制圖受控狀態(tài)的判斷準則：┈ 連續(xù)25個點都在控制界限內(nèi)，或┈ 連續(xù)35個點中，在控制界限外的點不超過1個點，或┈ 連續(xù)100個點中，在控制界限外的點不超過2個點，且┈ 點子無非隨機排列。 選擇控制圖的刻度對于X 圖：坐標上的刻度的最大值與最小值之差至少為子組均值的最大值與最小值的2倍。 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計算每個子組的均值（X）和極差（R）X ＝（X1 + X2 + … + Xn）／nＲ＝Ｘ最大值－Ｘ最小值式中：X1
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1