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正文內(nèi)容

淺析無(wú)鉛制程pcba可靠度測(cè)試規(guī)范(參考版)

2025-04-12 02:36本頁(yè)面
  

【正文】 測(cè)試數(shù)量 10片4. 附檔附文件1(錫須圖片) 附檔2(錫須長(zhǎng)度計(jì)算方法) 錫須長(zhǎng)度=A+B 錫須長(zhǎng)度=A+B+C+D 1 / 12 附文件3(拉拔力測(cè)試圖片) a 手插零件 b 機(jī)插零件 c IC(不包括微型芯片) 。如錫須為彎曲的﹐則各段分別量測(cè)后相加(參考附檔2)。 測(cè)試方法和設(shè)備 測(cè)試方法: 40℃ 240小時(shí) 試驗(yàn)前對(duì)PCBA進(jìn)行外觀和功能檢查﹐然后將10片良品的焊錫面朝上放入恒溫恒濕箱中測(cè)試﹐試驗(yàn)完成后﹐再對(duì)PCBA進(jìn)行外觀(增加切片)和功能檢查。 測(cè)試設(shè)備: 恒溫恒濕箱(型號(hào)﹕THSD4C150 THSA3L100或HCD3P) 電氣測(cè)試治具 顯微鏡(200X 或更多) 允收標(biāo)準(zhǔn) 對(duì)錫絲與焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查﹐沒(méi)有假焊﹐漏焊等現(xiàn)象﹐錫須(參考附檔1)長(zhǎng)度少于50微米﹐測(cè)試其電氣功能Pass。附﹕ a 切片測(cè)試流程﹕外觀檢查→切斷→研磨→顯微鏡觀察b 在檢查中﹐手不可觸摸錫面﹐以免破壞錫須。 測(cè)試數(shù)量 5片(每種零件每片測(cè)試至少一個(gè)﹐如電容﹑電阻及IC等) 高溫儲(chǔ)存 目的評(píng)估PCBA在高溫環(huán)境中的適用能力﹐了解此條件下產(chǎn)品在結(jié)構(gòu)及功能上
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