【正文】 若想獲得更多資料，敬請訪問 。 ③ 電弧等離子區(qū)中大量載體原子蒸氣的存在，阻礙了被測元素在等離子區(qū)中自由運動范圍，增加它們在電弧中的停留時間，提高譜線強度。 基體效應 是指試樣組成和結構對譜線強度的影響，或稱元素間的影響。 ①控制試樣中的蒸發(fā)行為 通過化學反應，使試樣中被分析元素從難揮發(fā)性化合物（主要是氧化物）轉化為低沸點，易揮發(fā)的化合物，使其提前蒸發(fā)，提高分析的靈敏度。它們多為一些化合物、鹽類、碳粉等。在礦石光譜分析中，緩沖劑的作用是不可忽視的。 常用的緩沖劑有： 堿金屬鹽類 用作揮發(fā)元素的緩沖劑； 堿土金屬鹽類 用作中等揮發(fā)元素的緩沖劑， 碳粉 也是緩沖劑常見的組份。對于成分復雜的樣品，第三元素的影響往往非常顯著，并引起較大的分析誤差。 （ 4）內標元素和內標線 （ 5）光譜緩沖劑 試樣組份影響弧焰溫度，弧焰溫度又直接影響待測元素的譜線強度。 （ 2）光源 可根據被測元素的含量、元素的特征及分析要求等選擇合適的光源。 ICP光電直讀光譜儀中都帶有自動校正背景的裝置。 注意： 背景的扣除不能用黑度直接相減，必須用譜線強度相減。 （ 2）背景的扣除 攝譜法 測出背景的黑度 SB，然后測出被測元素譜線黑度為分析線與背景相加的黑度 S(L+B)。 雜散光 也造成不同程度的背景。 景 。 b. 連續(xù)輻射 在經典光源中熾熱的電極頭，或蒸發(fā)過程中被帶到弧焰中去的固體質點等熾熱的固體發(fā)射的連續(xù)光譜。 （ 1）光譜背景來源 a. 分子輻射 在光源作用下，試樣與空氣作用生成的分子氧化物、氮化物等分子發(fā)射的帶狀光譜。 在被測元素濃度低時，自吸系數 b = 1，分析線對強度 R?c， Rc圖為一直線，將直線外推，與橫坐標相交截距的絕對值即為試樣中待測元素含量 Cx 。 （ 2）標準加入法 當測定低含量元素時， 找不到合適的基體來配制標準試樣時 ，一般采用標準加入法。 ICP光電直讀光譜儀商品儀器上帶有內標通道，可自動進行內標法測定。 △ S = ?blgc + ?lga 分析線對黑度值都落在乳劑特征曲線直線部分，分析線與內標線黑度差△ S 與被測元素濃度的對數 lgc呈線性關系。選用的分析線對波長比較靠近，此分析線對所在的感光板部位乳劑特征相同。 ①攝譜法 將標準樣品與試樣在同一塊感光板上攝譜，求出一系列黑度值，由乳劑特征曲線，求出未知元素含量。 （ 1）標準曲線法 在確定的分析條件下，用 三個或三 個以上含有不同濃度被測元素的標準樣品與試樣在相同的條件下激發(fā)光譜，以 分析線強度 I或內標分析線對強度比 R或 lgR對濃度 c或 lgc做校準曲線 。 分析線對兩條譜線應沒有自吸或自吸很小，并不受其它譜線的干擾。 若內標元素與被測元素的電離電位相近，分析線對激發(fā)電位也相近，這樣的分析線對稱為“ 均勻線對 ”。 ③ 分析線對選擇需匹配 ； 兩條原子線或兩條離子線。但在 礦石光譜分析 中，由于組分變化很大，又因基體元素的蒸發(fā)行為與待測元素也多不相同，故一般都不用基體元素作內標，而是 加入定量的其它元素 。 內標元素與分析線對的選擇 金屬光譜分析 中的內標元素，一般采用基體元素 。 設分析線強度 I， 內標線強度 I0， 被測元素濃度與內標元素濃度分別為 c和 c0， b和 b0分別為分析線和內標線的自吸系數。 此法可在很大程度上 消除光源放電不穩(wěn)定等因素帶來的影響 ，因為盡管光源變化對分析線的絕對強度有較大的影響，但對分析線和內標線的影響基本是一致的，所以對其相對影響不大。這兩條線組成 分析線對 。 內標法是通過測量譜線相對強度來進行定量分析的方法。 a值受試樣組成、形態(tài)及放電條件等的影響， 在實驗中很難保持為常數，故通常不采用譜線的絕對強度來進行光譜定量分析，而是采用“ 內標法 ”。式中b為自吸系數 。 三、光譜定量分析 光譜定量分析主要是根據 譜線強度 與 被測元素濃度 的關系來進行的。黑度若相同，則可做出試樣中被測元素的含量與標準樣品中某一個被測元素含量近似相等的判斷。在相同條件下，在同一塊感光板上標準系列與試樣并列攝譜。例如鋼材與合金的分類、礦產品位的大致估計等等，特別是分析大批樣品時，采用光譜半定量分析，尤為簡單而快速。 ? 二、光譜半定量分析 光譜半定量分析可以給出試樣中某元素的大致含量。 (2)標準試樣光譜比較法 將要檢出元素的純物質和純化合物與試樣 并列攝譜于同一感光板上 ，在映譜儀上檢查試樣光譜與純物質光譜。 判斷某一元素是否存在，必須由其靈敏線決定。 比較時首先須將譜片上的鐵譜與標準光譜圖上的鐵譜對準，然后檢查試樣中的元素譜線。 鐵光譜比較法實際上是與標準光譜圖進行比較，因此又稱為 標準光譜圖比較法。在實驗室中有標準光譜圖對照進行分析。 ② 譜線間距離都很近 在上述波長范圍內均勻分布。 （二）分析方法 （ 1）鐵光譜比較法 目前最通用的方法，它采用鐵的光譜作為波長的標尺，來判斷其他元素的譜線。 最后線 是指當樣品中某元素的含量逐漸減少時，最后仍能觀察到的幾條譜線。 檢出某元素是否存在必須有兩條以上不受干擾的 最后線與靈敏線。 進行分析時所使用的譜線稱為 分析線 。 （ 一 ） 元素的分析線與最后線 每種元素發(fā)射的特征譜線有多有少（ 多的可達幾千條 ） 。 攝譜法操作簡單 ， 價格便宜 ， 快速 。 光譜定性分析一般多采用攝譜法 。 光譜儀按照使用 色散元件 的不同，分為棱鏡光譜儀和光柵光譜儀；按照 光譜記錄與測量方法的不同，又分為 照相式攝譜儀 和 光電直讀光譜儀 。 光電法用光電倍增管檢測譜線強度。 定量分析用的感光板， ? 值應在１左右。反襯度 ? 表示曝光量改變時，黑度變化的快慢。 BC在橫坐標上的投影 bc稱為 感光板乳劑的展度 ，在一定程度上，它決定了感光板適用的定量分析含量范圍的大小。 Hi的倒數是感光板乳劑的靈敏度。 此時， S和 lgH的關系為： lgHi是直線 BC的延長線在橫坐標上的截距，是外推至 S=0時的曝光量。 CD部分稱為曝光過度部分，斜率逐漸減小。若以黑度為縱坐標，曝光量的對數為橫坐標，得到的實際的乳劑特征曲線。設通過感光板上沒有譜線部分的光強i0通過譜線部分的光強為 i， 則透過率 T為 T = i / i0 黑度 S定義為透過率倒數的對數，故 S = lg1/T = lg i0 / i 感光板上感光層的黑度 S與曝光量 H之間的關系極為復雜。黑度用測微光度計測量。 曝光量 等于感光層所接受的 照度 和 曝光時間 的乘積； H = E ?t 式中， H為曝光量， E為照度， t為時間。用 測微光度計 測