【正文】 MR圖） R 圖 Me圖 中位數(shù)－極差控制圖 （ Me R圖） s 圖 圖 均值－標(biāo)準(zhǔn)差控制 （ S圖） R 圖 圖 均值－極差控制圖 （ R圖） LCL UCL CL 控制圖的名稱與符號 xx xxxxxsRRRRAx 2? RAx 2?RD4 RD3sAx 3? sAx 3?sB4 sB3Me RAMe 4? RAMe 4?RD4 RD3REx 2? REx 2?RD4 RD3控制圖sX ?A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs iSBL C LSBU C LSCLSAXL C LSAXU C LXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差控制圖平均值控制圖B計算控制限 控制圖sX ?? 過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 控制圖sX ?? 過程能力解釋 控制圖sX ?4?cs??子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 每個子組的零件都是在很短的時間內(nèi)及 非常相似的生產(chǎn)條件下生產(chǎn)出來的。 子組是單一的過程流程生產(chǎn)的產(chǎn)品 （如一個模具生產(chǎn)的零件） 初期研究時，子組一般由 1025件，連續(xù) 生產(chǎn)的產(chǎn)品組合。 每個子組內(nèi)的變差主要是普通原因造成的 以上的 4個條件不能滿足時，控制圖可能不會 有效地區(qū)分特殊原因的變差，可能會出一個或 多個點超出控制限 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 在選擇子組與子組數(shù)的大小時，應(yīng)遵循以下原 則： 子組的容量應(yīng)保持恒定 子組數(shù)據(jù)在 25組或以上 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 在適當(dāng)?shù)臅r間收集足夠的子組（ 25組或以上） 這樣的子組才能反應(yīng)潛在的變化，在過程的 初始階段，通常是在較短的時間間隔內(nèi)收集 樣本（如每半小時）子組抽樣的頻率有以下幾 種，但不限于： 每 15分鐘抽樣一次 每 30分鐘抽樣一次 每小時抽樣一次 每 2小時抽樣一次 每 3小時抽樣一次 每 4小時抽樣一次 一天一次（較為少見） 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 控制圖sX ?554321 xxxxxx ?????SBL C LSBU C LSCLSAXL C LSAXU C LXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差控制圖平均值控制圖子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 同 XR圖解釋 控制圖sX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 過程能力指數(shù)計算同上 控制圖sX ?4?cs??控制圖mRX ?單值控制在檢查過程變化時不如 XR圖敏感。 如果過程的分布不是對稱的，則在解釋單值控制圖時要非常小心。 單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用 XbarR。 由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變性，直到子組數(shù)達到 100個以上。 A收集數(shù)據(jù) ? 收集各組數(shù)據(jù) ? 計算單值間的移動極差。 Rm1=|X1X2| Rm2=|X2X3| Rm3=|X3X4| …… Rm24=|X24X25| Rm=(Rm1+Rm2+Rm3+…… Rm24)/24 控制圖mRX ?如果共取樣 25個數(shù)據(jù)，那幺只有 24個移動極差 mRmRmRmXmXxRDLCLRDU C LRCLREXLCLREXU C LXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????控制圖mRX ??B計算控制限 控制圖mRX ?C過程控制解釋 ? 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。記住連續(xù)的移動極差間是有聯(lián)系的，因為它們至少有一點是共同的。由于這個原因，在解釋趨勢時要特別注意。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內(nèi)點的分布，以趨勢或圖形。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號。 子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 每次取樣數(shù)為 1的產(chǎn)品，如破壞性試驗等。 個別值 — 移動極差控制圖在檢查過程變化 時不如 XbarR圖敏感 XRM圖的每個子組只有一個單值，平均值 與標(biāo)準(zhǔn)差會有較大的變差性，因此 XRM圖需 子組數(shù) 25個以上，如果達到 100則更好，這可 以較全面的地判斷過程穩(wěn)定性 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 XRM圖抽樣子組頻率的確定需綜合考慮過程 穩(wěn)定性與經(jīng)濟性 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 控制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDU C LRCLREXLCLREXU C LXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 XRM圖的判讀，可參考 XR判讀方法，不同之 處有以下兩點： 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是 存在特殊原因的信號。連續(xù)移動極差間是有聯(lián) 系的，因為它們至少有一點是共同的。由于這 個原因，在解釋趨勢時要特別注意。 可用單值圖分析超出控制限的點，分析控 制限內(nèi)點的分布，以及趨勢或圖形。但這需要 注意，如果過程分布不是對稱的，用前面所述 的用于 X圖的規(guī)則來解釋時，可能會得出實際 上存在的特珠原因的信號。 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 直接用估計 σ 值來評價過程能力， 式中的 R表示極差的均值 過程能力指數(shù)計算同上 控制圖mRX ?2/Rd第六章 計數(shù)型控制圖 P不良率控制圖 np不良數(shù)控制圖 c缺點數(shù)控制圖 u單位缺點數(shù)控制圖 不良和缺陷的說明 結(jié)果舉例 控制圖 車輛不泄漏／泄漏 P圖 NP圖 燈亮／不亮 孔的直徑尺寸太小或太大 給銷售商發(fā)的貨正確／不正確 風(fēng)窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門上油漆缺陷 發(fā)票上的錯誤 P控制圖的制做流程 A收集數(shù)據(jù) B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 p圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量 子組容量 分組頻率 子組數(shù)量 A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率 A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 A4將不合格品率描繪在控制圖 A1子組容量、頻率、數(shù)量 子組容量：用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品，但樣本數(shù)如果太 多 也會有不利之處。 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 Ppn 5~1?A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率 記錄每個子組內(nèi)的下列值 ? 被檢項目的數(shù)量 ─ n ? 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 ─ np ? 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率 nnpndp ??A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。 劃圖區(qū)域 A4將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個子組的 p值，將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 當(dāng)點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時，將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。 Ｂ計算控制限 B1計算過程平均不合格品率 B2計算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B npppL C LnpppU C LndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3. . . .. . . . . . . . . .. . . .2121212211????????????????????????中心線計算平均不合格率及控制限 畫線并標(biāo)注 均值用水平實線線：一般為黑色或藍色實線。 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。 盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則 控制界限將會變成鋸齒形。 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 建立 p圖的步驟 C 分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù) 點 是否超出控制限？ 是否有鏈出現(xiàn)？ 是否有明顯的非隨機圖形？ 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時，則必須研究操作過程以便確定其原因。然 后 糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對操作進行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正?？衫弥T如排列圖和因果分析圖等解決定問題數(shù)據(jù)。 重新計算控制限 當(dāng)進行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時，應(yīng)重新計算試驗控制限，以更排除某些控制時期的影響，這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗的控制限內(nèi)，則可將控制限延伸到將來的時期。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對照它來評價。 Ｄ過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 過程能力解釋 偶因和異因並存 找出異因 只剩偶因 運用控制圖 過程穩(wěn)定 (連 25點不超限 ) 計算過程能力 對于 p圖，過程能 力 是通過過程平均不合率來表 示 ，當(dāng)所有點都受控后才計算該值。 過程能力分析 計數(shù)型之計件值過程能力指數(shù)評價： 采用 ppm評價 公式： ppm=不良數(shù) /檢驗數(shù) *百萬 評價等級 ppm＜ 233 過程能力充分 不合格品數(shù) np圖 “ np” 圖是用來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實際數(shù)量而不是與樣本的比率。 p圖和 np圖適用的基本情況相同，當(dāng)滿足下列情況可選用 np圖 ? 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。 ? 各階段子組的樣本容量相同。 “ np” 圖的詳細(xì)說明與 p圖很相似，不同之處如下： A收集數(shù)據(jù) 受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。 B計算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnL C LppnpnU C LkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk????????????????