spc統(tǒng)計(jì)過程控制概述(ppt49頁)-資料下載頁
2025-03-01 12:38本頁面
【正文】 、 ?已知，則 X圖的控制線為? UCL=? CL? LCL169。John Z. Rao 2023 ? 若 ?、 ?未知，則需對其進(jìn)行估計(jì)，即169。John Z. Rao 2023 A1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)A2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)A3 計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X）和極差（ R）A4 選擇控制圖的刻度A5 將均值和極差畫到控制圖上169。John Z. Rao 2023 A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a. 子組大小使各樣本之間出現(xiàn)變差的機(jī)會小在過程的初期研究中，子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個(gè)單一的過程流。b. 子組頻率在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組過程穩(wěn)定后，子組間的時(shí)間間隔可以增加。c. 子組數(shù)的大小一般 100個(gè)單值讀數(shù)， 25個(gè)子組169。John Z. Rao 2023 169。John Z. Rao 2023 A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)XR 圖通常是將 X圖畫在 R圖之上方，下面再接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。 X和 R的值為縱坐標(biāo)，按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo)。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。同時(shí)還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（ X）、極差（ R）以及日期 /時(shí)間或其他識別子組的代碼的空間。169。John Z. Rao 2023 A3計(jì)算每個(gè)子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個(gè)子組的樣本均值（ X）和樣本極差（ R），合在一起后它們分別反映整個(gè)過程的均值及其變差。對每個(gè)子組，計(jì)算：式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。 N為子組的樣本容量。169。John Z. Rao 2023 169。John Z. Rao 2023 A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X和 R的測量值。X圖：坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值勤（ X）的最大值與最小值差的 2倍。R圖：刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。169。John Z. Rao 2023 A5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差分別畫在其各自的圖上。該工作在確定了刻度以后應(yīng)盡快完成。將各點(diǎn)用直線聯(lián)接起來從而得到可見的圖形和趨勢。簡要地瀏覽一下所有畫上去的點(diǎn)，看它們是否合理，如果有的點(diǎn)比別的點(diǎn)高得很多或低得很多，需確認(rèn)計(jì)算及畫圖是否正確，應(yīng)確保所畫的 X和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。169。John Z. Rao 2023 169。John Z. Rao 2023 169。John Z. Rao 2023 謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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