spc統(tǒng)計(jì)過程控制概述(ppt49頁)(參考版)
2025-03-03 12:38本頁面
【正文】 John Z. Rao 2023 169。169。將各點(diǎn)用直線聯(lián)接起來從而得到可見的圖形和趨勢。John Z. Rao 2023 A5將均值和極差畫到控制圖上將均值和極差分別畫在其各自的圖上。R圖：刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。John Z. Rao 2023 A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X和 R的測量值。169。對每個(gè)子組，計(jì)算：式中： X1， X2? 為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。169。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。 X和 R的值為縱坐標(biāo)，按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo)。John Z. Rao 2023 169。b. 子組頻率在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組過程穩(wěn)定后，子組間的時(shí)間間隔可以增加。John Z. Rao 2023 A1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)A2 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)A3 計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X）和極差（ R）A4 選擇控制圖的刻度A5 將均值和極差畫到控制圖上169。John Z. Rao 2023 X圖的控制線? 設(shè)過程正常， x~N(?， ?2)? 則可證明 X~N((?， ?2/n)， n為樣本大小? 若 ?、 ?已知，則 X圖的控制線為? UCL=? CL? LCL169。169。John Z. Rao 2023 XR控制圖? 計(jì)量值最常用、重要的控制圖? 適用范圍廣：– X圖：? X正態(tài) ?X正態(tài)? X非正態(tài) ?近似正態(tài)（中心極限定理）? 中心極限定理使得 X圖廣為應(yīng)用。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時(shí)間特性值?無規(guī)律變化?不變169。John Z. Rao 2023 ?、 ?變化示意圖時(shí)間特性值?不變?無規(guī)律變化169。John Z. Rao 2023 不合格率的 p圖計(jì)算控制界限1. 計(jì)算過程平均不合格品率– P=2. 計(jì)算上、下控制界限（ UCL、 LCL）– UCL=p+3– LCL=p3. 畫線并標(biāo)注– 過程平均 —— 水平實(shí)線– 控制線路（ UCL、 LCL） —— 水平虛線169。John Z. Rao 2023 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖的種類? 不合格品率 p控制圖? 不合格品數(shù) np控制圖? 不合格數(shù) c控制圖? 單位不合格數(shù) u控制圖169。John Z. Rao 2023 控制圖選用程序169。169。169。? 漏發(fā)警報(bào) (alarm missing):過程異常，但樣本正好抽到仍位于控制界限以內(nèi)，根據(jù)判異規(guī)則判定過程正常。John Z. Rao 2023 判異規(guī)則（二）? 兩種錯(cuò)誤? 虛發(fā)警報(bào) (false alarm)：過程正常，但樣本正好抽到 %處，根據(jù)判異規(guī)則判定過程異常。在這兩種可能性中選擇一種，當(dāng)然選擇過程異常。為什么？若過程正常，則點(diǎn)子超出 UCL的概率為 %。
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