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spc統(tǒng)計過程控制(ppt202頁)(文件)

2025-03-04 15:19 上一頁面

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【正文】 樣 本值1 1 . 0 21 1 . 0 01 0 . 9 81 0 . 9 61 0 . 9 41 0 . 9 21 0 . 9 0L S L 目 標 U S LL S L 1 0 . 9 0目 標 1 0 . 9 5U S L 1 1 . 0 0規(guī) 格1 1 . 0 51 1 . 0 01 0 . 9 51 0 . 9 0組 內(nèi)整 體規(guī) 格標 準 差 0 . 0 2 4 9 3 5 5C p 0 . 6 7C p k 0 . 6 7組 內(nèi)標 準 差 0 . 0 2 4 7 7 2P p 0 . 6 7P p k 0 . 6 7C p m 0 . 6 7整 體直 徑 的 P r o c e s s C a p a b i l i t y S i x p a c kX b a r 控 制 圖R 控 制 圖最 后 2 5 個 子 組能 力 直 方 圖正 態(tài) 概 率 圖A D : 1 . 1 3 3 , P : 0 . 0 0 6能 力 圖X控制圖、 R圖以及時 25子組的散點圖可以用來驗證過程是否穩(wěn)定 能力直方圖、正態(tài)概率圖可以用來驗證過程是否服從正態(tài)分析 能力直方圖、正態(tài)概率圖可以用來驗證過程是否服從正態(tài)分析 kssxkxnxxsnxxkikiiniii????????????????122112?1?1)( v a lu es a m p le ofn u m b e r v a lu e sa s m p le t h eof s u m??mkC機器能力指數(shù)mumlC a n d C v a l u e s t w o t h eofs m a l l e s t ?3??3??6?6????????mklmlumulumCSCSCSSTC??????mkC機器能力指數(shù)何時應用 Cmk指數(shù) 新機器驗收時 機器大修后 新產(chǎn)品試制時 過程不穩(wěn)定 /不 合格追查原因 懷疑機器問題 時 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 50 47 46 50 46 50 47 48 50 49 2 50 53 45 48 48 49 49 50 50 51 3 49 53 49 49 50 52 50 46 49 51 4 52 45 48 49 54 51 48 49 51 46 5 51 50 49 52 50 54 52 51 53 48 平均 s Case study 假設其規(guī)格為 50177。 目的:在于了解短期的制程能力是否能滿足規(guī)格要求,如果短期的制程能力不能保證時,那幺長期制程能力就不能保證。 控制界限的重新計算 : 控制圖經(jīng)過使用一定時期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設備改變以及進行了某種技術改革和管理改革措施后 , 應重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計算控制界限并作出新的控制圖 .建議的做法是: ? 發(fā)生工藝變更時,重新計算控制界限; ? 不發(fā)生工藝變更,一個月或一個季度評審一次以了解過程是否發(fā)生了漂移。 如果過程的分布不是對稱的,則在解釋單值控制圖時要非常小心。 Rm1=|X1X2| Rm2=|X2X3| Rm3=|X3X4| …… Rm24=|X24X25| Rm=(Rm1+Rm2+Rm3+…… Rm24)/24 控制圖mRX ?如果共取樣 25個數(shù)據(jù),那幺只有 24個移動極差 mRmRmRmXmXxRDLCLRDU C LRCLREXLCLREXU C LXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????控制圖mRX ??B計算控制限 控制圖mRX ?C過程控制解釋 ? 審查移動極差圖中超出控制限的點,這是存在特殊原因的信號。但是這需要注意,如果過程分布不是對稱,用前面所述的用于 X圖的規(guī)則來解釋時,可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號。由于這 個原因,在解釋趨勢時要特別注意。 分組頻率:應根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 劃圖區(qū)域 A4將不合格品率描繪在控制圖上 描繪每個子組的 p值,將這些點聯(lián)成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 控制限用水平虛線:一般為紅色虛線。由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的,要求對操作進行分析,并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。它們便變成了操作控制限,當將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后,就對照它來評價。 ? 各階段子組的樣本容量相同。 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。分組的周期應按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。 過程能力分析 計數(shù)型之計件值過程能力指數(shù)評價: 采用 ppm評價 公式: ppm=不良數(shù) /檢驗數(shù) *百萬 評價等級 ppm< 233 過程能力充分 不合格品數(shù) np圖 “ np” 圖是用來度量一個檢驗中的不合格品的數(shù)量,與 p圖不同, np圖表示不合格品實際數(shù)量而不是與樣本的比率。 重新計算控制限 當進行初始過程研究或?qū)^程能力重新評價時,應重新計算試驗控制限,以更排除某些控制時期的影響,這些時期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響,但已被糾正。 C過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點,找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 建立 p圖的步驟 C 分析數(shù)據(jù)點,找出不穩(wěn)定的證據(jù) 點 是否超出控制限? 是否有鏈出現(xiàn)? 是否有明顯的非隨機圖形? 尋找并糾正特殊原因 當從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時,則必須研究操作過程以便確定其原因。 記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況,當這些情況被發(fā)現(xiàn)時,將它們記錄在控制圖的 “ 備注 ” 部份。 Ppn 5~1?A2計算每個子組內(nèi)的不合格品率 記錄每個子組內(nèi)的下列值 ? 被檢項目的數(shù)量 ─ n ? 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 ─ np ? 通過這些數(shù)據(jù)計算不合格品率 nnpndp ??A3選擇控制圖的坐標刻度 描繪數(shù)據(jù)點用的圖應將不合格品率作為縱坐標,子組識別作為橫坐標。但這需要 注意,如果過程分布不是對稱的,用前面所述 的用于 X圖的規(guī)則來解釋時,可能會得出實際 上存在的特珠原因的信號。 個別值 — 移動極差控制圖在檢查過程變化 時不如 XbarR圖敏感 XRM圖的每個子組只有一個單值,平均值 與標準差會有較大的變差性,因此 XRM圖需 子組數(shù) 25個以上,如果達到 100則更好,這可 以較全面的地判斷過程穩(wěn)定性 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 XRM圖抽樣子組頻率的確定需綜合考慮過程 穩(wěn)定性與經(jīng)濟性 控制圖mRX ?子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 記錄保存 控制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDU C LRCLREXLCLREXU C LXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????子組選擇 子組數(shù)大小選擇 子組抽樣的頻率確定 計算控制界限 判圖 過程能力分析 XRM圖的判讀,可參考 XR判讀方法,不同之 處有以下兩點: 審查移動極差圖中超出控制限的點,這是 存在特殊原因的信號。由于這個原因,在解釋趨勢時要特別注意。 由于每一子組僅有一個單值,所以平均值和標準差會有較大的變性,直到子組數(shù)達到 100個以上。 子組是單一的過程流程生產(chǎn)的產(chǎn)品 (如一個模具生產(chǎn)的零件) 初期研究時,子組一般由 1025件,連續(xù) 生產(chǎn)的產(chǎn)品組合。 B A 6 9 12 15 18 規(guī)格上限USL 規(guī)格下限LSL m=12 Cpm例 解答 A: B: A: B: 15 6 18 15min , 3 3 ????????????12 6 18 12min , 3 2 3 2Cpk????????????? ?2218 6 6 15 12C pm ???? ? ?? ?2218 6 6 2 12 12C pm ???? ? ?練習 樣本 X1 X2 X3 X4 X5 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 規(guī)格為 100+3 請判定過程是否穩(wěn)定? 過程能力? 過程繼續(xù)控制 當初始過程穩(wěn)定并可接收時,即轉入量產(chǎn)的過程控制階段。 取樣時間:批量生產(chǎn)后,至少 25天以上。 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK 13 2 T 10 14 18 12 16 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK 14 2 μ Cp CPL CPU CPK 15 2 指數(shù)差異說明 —— 練習 指數(shù)差異說明 μ Cp CPL CPU CPK 16 2 μ Cp CPL CPU CPK 17 2 10 14 18 T 12 16 10 14 18 T 12 16 練習: 在鋼珠生產(chǎn)過程中,假定顧客允許的鋼珠直徑的變異范圍為( ,) ,請分析過程能力? 1 1 . 0 21 1 . 0 01 0 . 9 81 0 . 9 61 0 . 9 41 0 . 9 21 0 . 9 0L S L 目 標 U S LL S L 1 0 . 9目 標 1 0 . 9 5U S L 1 1樣 本 均 值 1 0 . 9 5 0 2樣 本 N 1 2 5標 準 差 ( 組 內(nèi) ) 0 . 0 2 4 8 4 1標 準 差 ( 整 體 ) 0 . 0 2 4 7 7 2過 程 數(shù) 據(jù)C p 0 . 6 7C P L 0 . 6 7C P U 0 . 6 7C p k 0 . 6 7P p 0 . 6 7P P L 0 . 6 8P P U 0 . 6 7P p k 0 . 6 7C p m 0 . 6 7整 體 能 力潛 在 ( 組 內(nèi) ) 能 力P P M L S L 0 . 0 0P P M U S L 2 4 0 0 0 . 0 0P P M 合 計 2 4 0 0 0 . 0 0實 測 性 能P P M L S L 2 1 5 6 4 . 4 8P P M U S L 2 2 5 8 1 . 3 4P P M 合 計 4 4 1 4 5 . 8 2預 期 組 內(nèi) 性 能P P M L S L 2 1 2 7 5 . 1 8P P M U S L 2 2 2 8 3 . 4 1P P M 合 計 4 3 5 5 8 . 5 9預 期 整 體 性 能組 內(nèi)整 體直 徑 的 過 程 能 力兩條線重合,這說明,除組內(nèi)隨機誤差外,組間差差異不顯著。 舉例:若金屬加工的上、下規(guī)范限為: USL=, LSL= 如果已知總平均值 ,它可作為總體均值 μ的估計。 3, 試計算 CPK值。 Cp≥ Ⅲ 過程能力充足 , 表示技術管理能力較勉強 , 應設法提高為 Ⅱ 級 。 過程性能( Process Preformance) : 一個過程總變差的總范圍。 控制圖 不穩(wěn)定 的 分析 首先確定計算有無錯誤、確認抽樣正確與否、確認測量的準確性; 接著調(diào)查以下各項: ? 原料是否與原來所用的不同(批號 /型號 /混用); ? 操作者是否狀態(tài)不佳、或為新手; ? 操作者是否按照作業(yè)標準工作; ? 設備是否經(jīng)過維修或在不良狀態(tài); ? 工夾具是否新更換或磨損松動; ? 測量系統(tǒng)是否有能力分辨過程、并穩(wěn)定; ? 環(huán)境條件是否發(fā)生變化??赡艿脑颍? ? 新工人、原材料、機器、工藝; ? 檢驗方法、標準改變; ? 操作者的技能、意識變化等 UCL CL LCL C B A
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