【正文】
de? Containment How to prevent shipping defective product? Detection PCS 確定量測計劃 ? 量測劃計劃包括 : – 量測設(shè)備 : ? 硬件 ? 軟件 – 量測程序 : ? 校正頻率和技術(shù) ? 時間 ? 建立程序 ? 樣本準(zhǔn)備 ? 操作程序 – 量測設(shè)備操作環(huán)境 真 實的數(shù)據(jù) 測得的數(shù)據(jù)量測系統(tǒng)量測的影響 不好的量測系統(tǒng)得到的數(shù)據(jù)沒有意義 : 本來穩(wěn)定的制程顯得不穩(wěn)定 , 本來能力足夠的制程顯得能力不足 . 確定抽樣頻率 ?確定多久收集一次數(shù)據(jù) . ?用 PDC結(jié)果來確定短期和長期的制程的穩(wěn)定性 . ?確定的抽樣頻率能有規(guī)定的時間段內(nèi)偵測出失控的制程 . ?一般地在確定抽樣頻率時需要綜合考慮制程的穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)收集成本之間的平衡 . 抽樣示例 當(dāng)短期變異與長期變異比較時較小時可以加長抽樣之間的時間間隔 . L o t N u m b e r抽樣示例 當(dāng)短期變異與長期變異比較時較大時需要加強抽樣的頻率 . L o t N u m b e r確定樣本數(shù) 確定收集多少樣本以及如何收集樣本 . ? 對於批次生產(chǎn)的制程一般是從每批中收集樣本 . 用PDC的結(jié)果可以考察每批的變異狀況 ,可以使我們作如下決定 : ?如何收集數(shù)據(jù) , ?每批需要多少數(shù)據(jù) . ? 對於連續(xù)生產(chǎn)的制程 ,選定的樣本數(shù)能夠監(jiān)測出制程的變異 . ? 一般地確定樣本數(shù)時需要綜合考慮制程的變異和收集數(shù)據(jù)成本之間的平衡 . 確定樣本數(shù) ? 下例中假定是批次生產(chǎn)的制程並有如下的結(jié)構(gòu) : L o t L o t . . . L o tSu b L o t Su b L o t . . . Su b L o tU n i t U n i t . . . U n i t確定樣本數(shù) ? 建議使用的樣本數(shù) : ? 從每批中收集樣本 . ? 每批中抽取 23個小的分次 . ? 每分批中抽 35個樣本 . % o f T o ta lV a ri a ti o nLot S u b L o t U n it確定樣本數(shù) ? 建議使用的樣本數(shù) : ? 從每批中收集樣本 . ? 從每批中抽取 510個小的分批 . ? 從每分批中抽取一個樣本 . % o f T o ta lV a ri a ti o nLot S u b L o t U n it確定樣本數(shù) % of Tot alVariati onLot Sub Lot Unit? 建議使用的樣本數(shù) : ? 不必從每批中收集樣本 . ? 從每批中抽取 35個小的分批 . ? 從每分批中抽取 23個樣本 . 設(shè)定數(shù)據(jù)收集表 建立數(shù)據(jù)的輸入和存貯系統(tǒng) . 有以下幾種方法 : 依紙張上存貯的數(shù)據(jù)由人工輸入數(shù)據(jù) : ? 快速且容易執(zhí)行 , ? 不需要任何經(jīng)驗 , ? 不需要太多的培訓(xùn) . ? 但不是長久的解決方案 依電腦上存貯的數(shù)據(jù)進行人工輸入工作 : ? 比較快速且容易執(zhí)行 . ? 需要對電腦的軟硬體進行一定的投資 , ? 需要一定的培訓(xùn) , ? 如能盡量減少輸入的錯誤這將是比較好的長久解決方案 . 設(shè)定數(shù)據(jù)收集表 依電腦上存貯的數(shù)據(jù)進行自動的數(shù)據(jù)輸入工作 . ? 最不好執(zhí)行 , ? 費用取貴 , ? 不需要培訓(xùn) . ? 確保數(shù)據(jù)錄入的時效性和無誤性 ? 最好的長久解決方案 . 設(shè)定數(shù)據(jù)收集表 不論采取何種數(shù)據(jù)錄入的方法 ,以下幾點需要保證 : ? 能夠及時地將正確的數(shù)據(jù)正確地錄入 . ? 數(shù)據(jù)要能夠保存好以備以后的使用 . ? 數(shù)據(jù)能夠容易地被其它場合所使用 . 設(shè)定數(shù)據(jù)收集表 進行數(shù)據(jù)計算 在管制圖上進行描點之前需要對數(shù)據(jù)進行適當(dāng)?shù)挠嬎阋岳妒褂?. 例如 : – 單個的測量值 – 幾個量測值的平均值 – 幾個量測值的方差 – 幾個量測值的全距 – 良率 – 不良率