x射線多晶衍射法培訓(xùn)課件ppt-資料下載頁(yè)
2025-08-05 19:21本頁(yè)面
【正文】 58 C e ~19 K磷酸二氫銨 （ A DP ） （ 1 12 ） 48 Cd ~16 SGe 46 P d ~15 P異戊四醇 （ P E T ） （ 0 02 ） 40 Z r ~1 3 Al右旋 酒石酸乙二胺 （ E DD T ） 0 20 ） 41 Nb ~13 Al硬脂酸鉛 （ L O D ） 12 M g~5 B使用晶體分光器，根據(jù)衍射公式 和晶體周期性結(jié)構(gòu)，即不同的特征 X熒光射線對(duì)應(yīng)不同的色散角 ?，使不同波長(zhǎng)的 X熒光射線色散，以便選擇待測(cè)元素的特征 X射線熒光波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)定 。 ?? s in2nd?167。 X射線熒光光譜分析 （ 3）檢測(cè)器 [1]正比計(jì)數(shù)器 : 進(jìn)入計(jì)數(shù)器的 X光子與工作氣體產(chǎn)生非彈性碰撞，產(chǎn)生初始離子 電子對(duì) (Ar+ 、e）即光電離。初始電子被高壓電場(chǎng)加速奔向陽(yáng)極絲，途中撞擊其它原子產(chǎn)生更多的離子對(duì)，鏈鎖反應(yīng)，在 ~發(fā) 102~105個(gè)電子，這種現(xiàn)象稱“雪崩”。大量電子在瞬間奔向陽(yáng)極，使其電流突然增大 ,高電壓下降，產(chǎn)生脈沖輸出。在一定條件下，脈沖輸出幅度與入射 X射線光子能量成正比。 把 X射線光子能量轉(zhuǎn)化為電能的裝置，常用的有： 167。 X射線熒光光譜分析 [2]閃爍計(jì)數(shù)器 : 它由閃爍晶體和光電倍增管組成。當(dāng) X射線穿過(guò)鈹窗進(jìn)入閃爍晶體時(shí)，閃爍晶體吸收 X射線并放出一定數(shù)量的可見(jiàn)光電子，再由光電倍增管檢測(cè)，轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)。脈沖高度與入射 X射線光子能量成正比。 [3]半導(dǎo)體計(jì)數(shù)器 : 由摻鋰的硅（或鍺）半導(dǎo)體做成，在 n、 p區(qū)之間有一個(gè) Li漂移區(qū)。當(dāng) X射線作用于鋰漂移區(qū)，由于鋰的離子半徑小，容易漂移穿過(guò)半導(dǎo)體，使鋰電離能，形成電子 空穴對(duì)，它在電場(chǎng)作用下，分別移向 n層及 p層，形成電脈沖，脈沖高度與 X射線能量成正比。 167。 X射線熒光光譜分析 （ 4）記錄系統(tǒng) 記錄系統(tǒng)由放大器、脈沖高度分析器、讀數(shù)顯示等三部分組成。其中脈沖高度分析器是關(guān)鍵部件 ,下面是脈沖高度分析器原理圖 : 167。 X射線熒光光譜分析 能量色散型 X射線熒光光譜儀 該光譜儀是將來(lái)自試樣的 X射線熒光不經(jīng)分光直接由半導(dǎo)體檢測(cè)器接收 ， 并配以多道 （ 1000道以上 ） 脈沖高度分析器 ， 按脈沖幅度大小分別計(jì)數(shù) 。 以計(jì)數(shù)率即熒光強(qiáng)度為縱坐標(biāo) ， 脈沖幅度 ， 即通道數(shù) ， 或光子能量 ， 或 X射線熒光波長(zhǎng)為橫坐標(biāo) ， 得到能量色散型的熒光光譜 。 與波長(zhǎng)色散型譜儀相比 ， 它的設(shè)備簡(jiǎn)單 ， 緊湊， 小型化 ， 檢測(cè)靈敏度可提高 23數(shù)量級(jí) ， 沒(méi)有高次衍射譜線的干擾問(wèn)題 ， 并可同時(shí)測(cè)定試樣中幾乎所有元素 。 但對(duì)輕元素 ， 儀器的分辨率有限 ， 連續(xù)光譜構(gòu)成的背景較大是能量色散型儀器存在的主要問(wèn)題 。 167。 X射線熒光光譜分析 波長(zhǎng)色散型 能量色散型 167。 X射線熒光光譜分析
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