監(jiān)測表面貼裝組件的貼裝-資料下載頁
2025-06-30 23:22本頁面
【正文】 技術(shù)可能還不足夠穩(wěn)健，對具有高度自然變化性的工藝過程，如電子裝配，産生正確的決定。 近年來，人們作出許多努力來開發(fā)基於來自人工智慧(AI, artificial intelligence)和Bayesian概率理論的概念上的“軟決策(softdecision)”方法。在軟決策方法中，計(jì)算一個(gè)問題或缺陷存在的概率(probability)或似然性(plausibility)，而不是有/沒有類型的決定。一個(gè)軟決策方法可以提供在很嘈雜的環(huán)境中得到正確結(jié)論的更穩(wěn)健性。在喬治亞工學(xué)院的研究已經(jīng)集中在用於電子製造的缺陷查找的軟決策方法的開發(fā)上。GEM介面的使用 在喬治亞工學(xué)院的裝配線上的設(shè)備是通過一個(gè)GEM(generic equipment model)介面連接與一部主機(jī)上。使用一個(gè)商業(yè)的基於GEM的套裝軟體來收集裝配線運(yùn)行期間的資料。該套裝軟體大大地簡化了資料收集，並爲(wèi)可能的資料處理寫出簡單的應(yīng)用模組。作爲(wèi)處理系統(tǒng)構(gòu)架的一部分，我們寫出了一個(gè)應(yīng)用程式，使得每一個(gè)板可看作一個(gè)隨其在裝配線上移動(dòng)積累資料的物體。使用這個(gè)設(shè)定，來自裝配線上不同設(shè)備專案的資料，可以比較或關(guān)聯(lián)，以得出有關(guān)裝配線狀態(tài)的結(jié)果。 結(jié)論 對更高的PCB電路密度的持續(xù)的推動(dòng)，給裝配程序控制提出了甚至更加嚴(yán)厲的要求。即使有新一代設(shè)備改進(jìn)的性能，裝配線狀態(tài)總是需要監(jiān)測的，部分是由於操作設(shè)備的人爲(wèi)錯(cuò)誤。這個(gè)監(jiān)測將顯示是否需要調(diào)整來維持品質(zhì)。一個(gè)主要的挑戰(zhàn)是開發(fā)一個(gè)自動(dòng)的方案，來處理大量的測量資料，以産生對運(yùn)行狀態(tài)的正確決定 在一個(gè)嘈雜的環(huán)境裏穩(wěn)健地實(shí)施。本文所提及的參數(shù)的自動(dòng)處理可對生產(chǎn)線運(yùn)作提供一個(gè)有用的工具。
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