確保信號完整性的電路板設(shè)計準(zhǔn)則-資料下載頁
2025-01-13 15:26本頁面
【正文】 的信息來解決問題并調(diào)整生產(chǎn)率。 9 、后制造階段 采取上述措施可以確保電路板的 SI 設(shè)計品質(zhì)，在電路板裝配完成之后，仍然有必要將電路板放在測試平臺上，利用示波器或者 TDR( 時域反射計 ) 測量，將真實電路板和仿真預(yù)期結(jié)果進行比較。這些測量數(shù)據(jù)可以幫助你改進模型和制造參數(shù)，以便你在下一次預(yù)設(shè)計調(diào)研工作中做出更佳的 ( 更少的約束條件 ) 決策。 10 、模型的選擇 關(guān)于模型選擇的文章很多，進行靜態(tài)時序驗證的工程師們可能已經(jīng)注意到，盡管從器件數(shù)據(jù)表可以獲得所有的數(shù)據(jù)，要建立一個模型仍然很困難。 SI 仿真模型正好相反，模型的建立容易，但是模型數(shù)據(jù)卻很難獲得。本質(zhì)上， SI 模型數(shù)據(jù)唯一的可靠來源是 IC 供貨商，他們必須與設(shè)計工程師保持默契的配合。 IBIS 模型標(biāo)準(zhǔn)提供了一致的數(shù)據(jù)載體，但是 IBIS 模型的建立及其品質(zhì)的保證卻成本高昂， IC 供貨商對此投資仍然需要市場需求的推動作用，而電路板制造商可能是唯一的需方市場。 11 、未來技術(shù)的趨勢 設(shè)想系統(tǒng)中所有輸出都可以調(diào)整以匹配布線阻抗或者接收電路的負(fù)載，這樣的系統(tǒng)測試方便， SI 問題可以通過編程解決，或者按照 IC 特定的工藝分布來調(diào)整電路板使 SI 達到要求，這樣就能使設(shè)計容差更大或者使硬件配置的范圍更寬。 目前，業(yè)界也在關(guān)注一種 SI 器件技術(shù)，其中許多技術(shù)包含設(shè)計好的端接裝置 ( 比如 LVDS) 和自動可編程輸出強度控制和動態(tài)自動端接功能，采用這些技術(shù)的設(shè)計可以獲得優(yōu)良的 SI 品質(zhì)，但是，大多數(shù)技術(shù)與標(biāo)準(zhǔn)的 CMOS 或者 TTL 邏輯電路差別太大，與現(xiàn)有仿真模型的配合不大好。 因此， EDA 公司也正加入到“輕輕松松設(shè)計”的競技場之中，人們?yōu)榱嗽谠O(shè)計初期解決 SI 問題已經(jīng)做了大量工作，將來，不必 SI 專家就能借助自動化工具解決 SI 問題。盡管目前技術(shù)還沒有發(fā)展到那個水平，但是人們正探索新的設(shè)計方法，從“ SI 和時序布線”出發(fā)開始設(shè)計的技術(shù)仍在發(fā)展，預(yù)計未來幾年內(nèi)將誕生新的設(shè)計技術(shù)。
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