半導(dǎo)體器件失效分析基礎(chǔ)-資料下載頁
2024-12-29 12:34本頁面
【正文】 器除外） 附錄（續(xù)） ? 器件的失效率滿足浴盆曲線。 ? 失效率的單位： 1FIT（ 10e9/hour） =1菲特 ? 認(rèn) 證：政府行為。 ? 認(rèn) 定：企業(yè)行為。 ? 附錄（續(xù)） ? 失效分析 ：是對失效元器件進(jìn)行分析的一種方法。分析對象是失效品。 ? DPA分析 ：是對良品元器件進(jìn)行破壞性物理分析的一種分析方法。分析對象是良品。 ? 解剖分析 ：是失效分析、 DPA分析中的一個(gè)過程。分析對象是失效品、良品。 附錄（續(xù)） ? 二、潮濕敏感等級(jí) (MOISTURE SENSITIVITY LEVEL) ? ? 潮敏等級(jí) 存放時(shí)間 存放條件 ? ? 1 級(jí) 無限制 ≤常溫 85%RH （相對濕度） ? 2 級(jí) 一 年 ≤30℃ /60%RH（相對濕度） ? 3 級(jí) 一 周 ≤30℃ /60%RH（相對濕度） ? 4 級(jí) 72小時(shí) ≤30℃ /60%RH（相對濕度） ? 5 級(jí) 48小時(shí) ≤30℃ /60%RH（相對濕度） ? 6 級(jí) 24小時(shí) ≤30℃ /60%RH（相對濕度） ? 附錄（續(xù)） ? 三、質(zhì)量等級(jí)與工作溫度范圍 ? 軍 級(jí) 55℃ ＋ 125 ℃ ? 工業(yè)級(jí) 40 ℃ ＋ 85 ℃ ? 亞工業(yè)級(jí) 25 ℃ ＋ 85 ℃ ? 電信級(jí) 10 ℃ ＋ 70 ℃ ? 商業(yè)級(jí) 0℃ ＋ 70 ℃ 內(nèi)部資料，注意保密 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 X光機(jī) 立體顯微鏡 金相顯微鏡 濺射解剖機(jī) 金相剖面制做設(shè)備 機(jī)械探針臺(tái) 晶體管特性曲線圖示儀 LATCHUP測試儀 ESD測試儀 阻抗分析儀 LCR分析儀 數(shù)字示波器 TEK8000分析儀 網(wǎng)絡(luò)分析儀 射頻信號(hào)源 邏輯分析儀 其他儀器、設(shè)備 失效分析設(shè)備一覽表 失效分析儀器設(shè)備介紹 ? （ 1）金相顯微鏡 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 2）立體顯微鏡 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 3）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 4） X光機(jī) 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 5）濺射解剖機(jī) 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 6）金相剖面制備設(shè)備 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 7）機(jī)械探針臺(tái) 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 8）晶體管特性曲線圖示儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 9） IC測試儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 10） LATCHUP / ESD測試儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 11）阻抗分析儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 12）網(wǎng)絡(luò)分析儀 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 13）掃描電鏡（外協(xié)） 失效分析儀器設(shè)備介紹（續(xù)） ? （ 14）超聲掃描顯微鏡（外協(xié)） 典型失效分析照片介紹 ? 典型失效分析案例照片介紹： ? 祥見 “ 典型失效分析照片介紹 ” 文檔！ 內(nèi)部資料，注意保密 結(jié)束語 ! 謝謝大家！
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