工學(xué)取樣積分ppt課件-資料下載頁
2024-11-03 20:39本頁面
【正文】 門寬 Tg=， 求指數(shù)式取樣積分器的參數(shù) Tc和 Ts。 解： 2() 5 m s2 gcS N I R TT ??積分時間常數(shù) 總測量時間 25 7 5 scBsgT T TTT??25 基線取樣與雙通道取樣積分器 1. 基線取樣 若基線存在漂移，則既要對信號進行取樣，又要對基線進行取樣，兩者相減可扣除基線漂移的影響 無基線漂移 有基線漂移 26 積分 1 信號輸入 參考輸入 時基控制 信號選通 積分 2 輸出 + 具有基線補償?shù)娜臃e分器 基線選通 27 被測信號 取樣脈沖 參考觸發(fā) 時基 及 比較電平 V1 V2 A B A B 取樣脈沖 A和 B控制兩個積分器交替工作，分別對基線和信號進行取樣積分，兩個積分器積分結(jié)果相減便扣除了基線漂移 定點式取樣積分 28 被測信號 取樣脈沖 參考觸發(fā) 時基 及 比較電平 V1 V2 A B A B V2換成慢掃描鋸齒波， V1不變 信號：掃描式取樣積分 基線：定點式取樣積分 29 2. 雙通道取樣積分器 積分 信號 信號選通 積分 + 基線選通 積分 激勵 信號選通 積分 + 基線選通 運算 激勵的變化會導(dǎo)致傳感器的輸出也發(fā)生變化，但這不是有用信號，必須加以扣除，因此應(yīng)對激勵進行監(jiān)測 A B 若最后的運算選用 A/B的運算，則可從被測信號中消除激勵強度變化的影響 30 多點取樣積分器 掃描式取樣積分器屬于單點式取樣積分器，雖然能恢復(fù)信號波形，但由于一個信號周期中只取樣積分一次，信號利用率很低，所需要的測量時間較長，有時甚至長得難以實現(xiàn) 例：被測信號周期為 T=， 用指數(shù)式取樣積分器恢復(fù)波形 ， 取樣門寬Tg=， 要求信噪改善比 SNIR=100， 全周期恢復(fù)波形 ， 即測量范圍TB=T=， 求所需測量 Ts。 解： 所需測量時間 262 . 5 ( ) 2 . 5 1 0 s 2 9 da y sBsgT T SN IRTT? ? ? ?多點式取樣積分器在每個信號周期中對多個點進行取樣積分 ， 信號利用率高 ，所需要的測量時間大大縮短 31 多點式取樣積分器工作波形 積分 3 積分 2 積分 1 。 輪 流 輸 出 選 擇 。 積分 n 32 多點式取樣積分器電路結(jié)構(gòu) A1 A2 取 樣 時 間 控 制 邏 輯 。 觸發(fā)電路 觸發(fā)輸入 信號輸入 輸出
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