【文章內容簡介】 檢出有差異 強光直接照射檢出效果 NG 強光漫反射檢出效果 OK 壓傷 佐證的證據 結論 Panel放置於 Tray效果圖 贓污之 Tray不良圖 1 贓污之 Tray不良圖 2 被污染之 Panel不良圖 1. Tray盤為產品承載治具 ,與產品直接接觸 2. 長期使用過程中 Tray盤存在破損 ,變形 ,贓污等現象 3. 異常之 Tray承載產品時 ,存在污染源交替 ,疊加效果 .特徵 :不良 Mode一致 ,Mapping位置集中性 真因三 : Tray盤贓污 /破損 1. 回收 Tray未清潔乾淨 ,導致產品與 Particle接觸受力 ,存在壓傷風險 2. 已破損 Tray未及時挑除 ,造成產品刺壓傷 佐證的證據 結論 HLEAN SYSTEM 幸福 精益 高效企業(yè)管理系統！ 我們關注企業(yè)的愿景，是幫助企業(yè)提升競爭力的發(fā)動機！ 17 要因分析與真因驗證 電檢棚規(guī)格 : 尺寸 :(L)*(W)*2(H) 作業(yè)員 : 3人 電檢棚實物圖 1. 為防止 Clean Room照明燈光干擾 CT2檢測棚均用黑色簾幕遮擋 2. 棚內空間狹小 ,相對密閉 ,由於人員呼吸 /機臺散熱 /燈光照明等因素 3. 造成內部空氣混濁 ,人員情緒煩躁 真因五 : 電檢棚內空氣不流通 佐證的證據 結論 1. 由於空間狹小 ,相對密閉導致電檢棚內空氣無法流通 ,空氣質量差人員容易疲倦 2. 電測棚封閉無法隨時監(jiān)控在檢人員紀律及作業(yè)狀況 HLEAN SYSTEM 幸福 精益 高效企業(yè)管理系統！ 我們關注企業(yè)的愿景，是幫助企業(yè)提升競爭力的發(fā)動機！ 18 對策擬定 重要性 影響性 迫切性培訓課程安排 52 48 59 159 Y 4 / 1 1 始 浩略/建鋒線上作業(yè)指導 54 50 56 160 Y 4 / 1 2 始 柳華/宋鳳製作參考樣本 48 53 55 156 N 4 / 1 2 始 珍珍/柳華發(fā)塵部位規(guī)範 PM 頻率 49 50 55 154 Y 4 / 0 9 始 柳華/珍珍機臺環(huán)測機制導入 47 53 58 158 Y 4 / 1 5 始 柳華/珍珍增加 H e p a 裝置 21 45 33 99 N N / A N / A採購新 T r a y 23 50 22 95 N N / A N / A髒污 T r a y 清潔 50 49 53 152 Y 4 / 1 6 始 方兵/薛振建立管控機制 42 58 57 157 Y 4 / 1 6 始 方兵/薛振破損 T r a y 清理清除 50 58 58 166 Y 4 / 1 6 始 方兵/薛振採購可調節(jié)燈具 24 38 26 88 N N / A N / A利用白板降低照度 51 50 52 153 Y 4 / 2 7 始 珍珍/宋鳳規(guī)劃 L a y o u t 統一方向 39 48 49 136 N N / A N / A關閉部份照明燈 60 60 55 175 Y 4 / 2 5 始 建鋒增加排氣風扇 26 46 35 107 N N / A N / A取消遮光簾幕 55 50 47 152 Y 5 / 0 2 始 劍鋒/浩略增加人員休息頻率 39 42 48 129 N N / A N / A加大棚內空間 21 33 25 79 N N / A N / A評分標準 : 優(yōu)者 9 分、尚可 3 分、差者 1 分。 總分大於 1 5 1 . 2 即列為要因 (6 3 * 3 * 8 0 % = 1 5 1 . 2 )為何P o lL o s s壓傷刺傷偏高人員作業(yè)技能不足T r a y 盤臟污 / 破損光源光線不合理電檢棚空氣不流通機臺內部環(huán)境差總分是否實施實施時間責任人評估項目問題點 真因 擬定對策 降低 Pola Loss改善對策 通過 5個造成偏損飆高的要因 ,對重要性 ,影響性 ,迫切性 ,擬定 10個對策 HLEAN SYSTEM 幸福 精益 高效企業(yè)管理系統！ 我們關注企業(yè)的愿景，是幫助企業(yè)提升競爭力的發(fā)動機！ 19 Plan Do Check Action CHIMEI INNOLUX QCC HLEAN SYSTEM 幸福 精益 高效企業(yè)管理系統！ 我們關注企業(yè)的愿景，是幫助企業(yè)提升競爭力的發(fā)動機！ 20 對策實施及檢討 計劃改善 (Plan) 對策實施 (Do) 檢討與標準化 (Action) 改善效果 (Check) 安排線內外教育訓練 建立教育訓練系統 4學個時 /人 標準化 無標準化 人員教育訓練 1. 隨線抽檢漏檢率平均 % D A P C 2. 每月人均培訓課時 4H達成91% 0 . 72 %1 . 01 % 1 . 03 %2 . 92 %0 . 81 %1 . 00 %0 . 99 % 1 . 05 %1 . 26 %1 . 16 %0 . 64 %0 . 38 %0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 % 0 . 00 %1 . 08 % 1 . 11 % 1 . 03 %0 . 81 %1 . 21 %1 . 57 %1 . 16 %0 . 69 %0 . 43 %0 . 00 %0 . 50 %1 . 00 %1 . 50 %2 . 00 %2 . 50 %3 . 00 %3 . 50 %050000100000150000202300250000Ja n F e b W 11 W 12 W 13 W 14 W 15 W 16 W 17 W 18 W 19 W 20 W 21 W 22 W 23 W 24 W 25 W 26 W 27 W 28 W 29 W 30 0隨 線 抽 檢 良 率 趨 勢 圖A I S 抽檢數量 CT 2 抽檢數量A I S 漏檢比率 CT 2 漏檢比率T a r g e t1 12 2 2 2 2 2 2 2321 12 232 2 23 3 3 301234567W 1 0 W 1 1 W 1 2 W 1 3 W 1 4 W 1 5 W 1 6 W 1 7 W 1 8 W 1 9 W 2 0 W 2 1 W 2 2 W 2 3 W 2 5 W 2 7 W 2 9 W 3 1線外培訓 線內培訓T a r g e t T o t a l HLEAN SYSTEM 幸福 1