【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 算結(jié)果 OneSample T: C2 Test of mu = 500 vs mu not = 500 Variable N Mean StDev SE Mean C2 20 Variable % CI T P C2 ( , ) P= ，無法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為該批電阻的阻值的均值 未偏離目標(biāo)。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某供應(yīng)商生產(chǎn)的一批電阻，阻值為 500Ω，原阻值精度為 σ2≤2 ，為 確認(rèn)來料阻值精度是變差，取 20個(gè)電阻測(cè)得阻值數(shù)據(jù)如下： 499 501 500 502 498 500 501 501 497 502 499 499 498 499 498 500 499 499 502 501 問該批來料阻值精度是變差。 – 建立假設(shè)： H0：該批物料阻值的標(biāo)準(zhǔn)差 σ≤ σ0＝ Ha：該批物料阻值的標(biāo)準(zhǔn)差 σ σ0 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)。 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗(yàn)類別。因是確定總體標(biāo)準(zhǔn)差是否偏離原來值，故選用 χ2檢驗(yàn)法 ? 計(jì)算 χ2值： χ2檢驗(yàn)＝ ? 查 χ2分布表： (201)= ? 比較計(jì)算出的 χ2與查卡方分布表得出得值，可知 χ2計(jì)算值小于 查表得出的卡方值，故沒有理由拒絕零假設(shè)，即以 95％的置信度認(rèn)為 該批來料阻值精度沒有變差。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 雙樣本假設(shè)檢驗(yàn) 1) 雙樣本 Z檢驗(yàn) 用于單樣本 Z檢驗(yàn)法適用于大樣本容量條件下對(duì)兩 個(gè)總體均值的測(cè)試。 要求樣本容量 n30，且兩個(gè)樣本是獨(dú)立的，總體標(biāo) 準(zhǔn)差已知。 2) 雙樣本 t檢驗(yàn) 雙樣本 t檢驗(yàn)法適用于小樣本容量條件下對(duì)兩個(gè)總體 均值進(jìn)行測(cè)試。（未知總體標(biāo)準(zhǔn)差） A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某 IC供應(yīng)商改進(jìn)其生產(chǎn)工藝，測(cè)得內(nèi)部鍵合拉力數(shù)據(jù)如下： A（改進(jìn)前）： B（改進(jìn)后）： 問改進(jìn)后 鍵合拉力是否有顯著改進(jìn) 。 ? 建立假設(shè)： H0： 改進(jìn)前 鍵合拉力總體均值＝ 改進(jìn)后 鍵合拉力總體 均值 Ha： 改進(jìn)前 鍵合拉力總體均值 ≠改進(jìn)后 鍵合拉力總體均 值 – 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù) 一般 α＝ – 用 Minitab進(jìn)行 t假設(shè)檢驗(yàn)測(cè)試。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 TwoSample TTest and CI: C1, C2 C2 N Mean StDev SE Mean new 5 old 5 Difference = mu (new) mu (old) Estimate for difference: 95% CI for difference: (, ) TTest of difference = 0 (vs not =): TValue = PValue = DF = 6 P= ，無法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為改進(jìn)后鍵合拉力沒有顯著改進(jìn)。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 多樣本均值假設(shè)檢驗(yàn) 若需要同時(shí)檢驗(yàn)多個(gè)樣本均值有無差異，這時(shí)就需要用到方 差分析 ANOVA 例：某編碼下有 3種電阻，實(shí)測(cè)其阻值分別是： A： B： C： 問：三種電阻阻值均值是否有顯著差異。 ? 建立假設(shè)： H0： A阻值均值＝ B阻值均值＝ C阻值均值 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 ANOVA 分析。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 Oneway ANOVA: A, B, C Analysis of Variance Source DF SS MS F P Factor 2 Error 15 Total 17 Individual 95% CIs For Mean Based on Pooled StDev Level N Mean StDev +++ A 6 (*) B 6 (*) C 6 (*) +++ Pooled StDev = P= ，無法拒絕零假設(shè)，即三種電阻阻值均值差別不大。 P＝ 電阻 A、 B、 C阻值均值置信區(qū)間有重合部分 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 雙樣本 F檢驗(yàn) 若需要對(duì)兩個(gè)總體的分布狀況進(jìn)行比較，如對(duì)兩個(gè)車床所加工出 來的零件尺寸精度的比較。這時(shí)就需要用到 F檢驗(yàn) 例：某公司用 2臺(tái)設(shè)備加工一批電阻，為檢驗(yàn)兩臺(tái)設(shè)備加工精度有無差異，各抽取 10個(gè)電阻，測(cè)得其阻值分別是： A： B： 問：這 2臺(tái)設(shè)備加工精度有無差異。 ? 建立假設(shè)： H0：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差＝設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 Ha：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ≠設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 F檢驗(yàn) 。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 Test for Equal Variances Level1 A Level2 B ConfLvl Bonferroni confidence intervals for standard deviations Lower Sigma Upper N Factor Levels 10 A 10 B FTest (normal distribution) Test Statistic: PValue : P= ，無法拒絕零假設(shè)，即兩種設(shè)備加工出的電阻阻值精度無明顯差異。 P＝ A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 多樣本方差檢驗(yàn) 在需要同時(shí)比較多個(gè)方差的場(chǎng)合，需進(jìn)行多樣本方差