內(nèi)部資料-6西格碼培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2024-08-18 18:07 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 nalyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例：某供應(yīng)商生產(chǎn)的一批電阻，阻值為 500Ω，為確認(rèn)來(lái)料是否與目標(biāo)值 500Ω吻合，測(cè)得 20個(gè)阻值數(shù)據(jù)如下： 499 501 500 502 498 500 501 501 497 502 499 499 498 499 498 500 499 499 502 501 問(wèn)該批來(lái)料阻值是否偏離目標(biāo)值。 ? 建立假設(shè)： H0：該批物料阻值均值 μ ＝ 500 Ha：該批物料阻值均值 μ ≠500 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù) 一般 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗(yàn)類別 因是確定總體均值是否偏離目標(biāo)，因樣本容量較小，故選用 t檢驗(yàn)法 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 502501500499498497C2Boxplot of C2(with Ho and 95% tconfidence interval for the mean)[ ]X_Ho用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 OneSample T: C2 Test of mu = 500 vs mu not = 500 Variable N Mean StDev SE Mean C2 20 Variable % CI T P C2 ( , ) P= ，無(wú)法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為該批電阻的阻值的均值 未偏離目標(biāo)。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 5025015004994984976543210C2FrequencyHistogram of C2(with Ho and 95% tconfidence interval for the mean)[ ]X_HoA分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某供應(yīng)商生產(chǎn)的一批電阻，阻值為 500Ω，原阻值精度為 σ2≤2 ，為 確認(rèn)來(lái)料阻值精度是變差，取 20個(gè)電阻測(cè)得阻值數(shù)據(jù)如下： 499 501 500 502 498 500 501 501 497 502 499 499 498 499 498 500 499 499 502 501 問(wèn)該批來(lái)料阻值精度是變差。 ? 建立假設(shè)： H0：該批物料阻值的標(biāo)準(zhǔn)差 σ≤ σ0＝ Ha：該批物料阻值的標(biāo)準(zhǔn)差 σ σ0 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)。 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗(yàn)類別。因是確定總體標(biāo)準(zhǔn)差是否偏離原來(lái)值，故選用 χ2檢驗(yàn)法 ? 計(jì)算 χ2值： χ2檢驗(yàn)＝ ? 查 χ2分布表： (201)= ? 比較計(jì)算出的 χ2與查卡方分布表得出得值，可知 χ2計(jì)算值小于 查表得出的卡方值，故沒(méi)有理由拒絕零假設(shè)，即以 95％的置信度認(rèn)為 該批來(lái)料阻值精度沒(méi)有變差。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 雙樣本假設(shè)檢驗(yàn) 1) 雙樣本 Z檢驗(yàn) 用于單樣本 Z檢驗(yàn)法適用于大樣本容量條件下對(duì)兩 個(gè)總體均值的測(cè)試。 要求樣本容量 n30，且兩個(gè)樣本是獨(dú)立的，總體標(biāo) 準(zhǔn)差已知。 2) 雙樣本 t檢驗(yàn) 雙樣本 t檢驗(yàn)法適用于小樣本容量條件下對(duì)兩個(gè)總體 均值進(jìn)行測(cè)試。（未知總體標(biāo)準(zhǔn)差） A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某 IC供應(yīng)商改進(jìn)其生產(chǎn)工藝，測(cè)得內(nèi)部鍵合拉力數(shù)據(jù)如下： A（改進(jìn)前）： B（改進(jìn)后）： 問(wèn)改進(jìn)后 鍵合拉力是否有顯著改進(jìn) 。 ? 建立假設(shè)： H0： 改進(jìn)前 鍵合拉力總體均值＝ 改進(jìn)后 鍵合拉力總體 均值 Ha： 改進(jìn)前 鍵合拉力總體均值 ≠改進(jìn)后 鍵合拉力總體均 值 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù) 一般 α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 t假設(shè)檢驗(yàn)測(cè)試。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 oldnewC2C1Boxplots of C1 by C2(means are indicated by solid circles)用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 TwoSample TTest and CI: C1, C2 C2 N Mean StDev SE Mean new 5 old 5 Difference = mu (new) mu (old) Estimate for difference: 95% CI for difference: (, ) TTest of difference = 0 (vs not =): TValue = PValue = DF = 6 P= ，無(wú)法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為改進(jìn)后鍵合拉力沒(méi)有顯著改進(jìn)。 P＝ 總體均值的置信區(qū)間 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 多樣本均值假設(shè)檢驗(yàn) 若需要同時(shí)檢驗(yàn)多個(gè)樣本均值有無(wú)差異，這時(shí)就需要用到方 差分析 ANOVA 例：某編碼下有 3種電阻，實(shí)測(cè)其阻值分別是： A： B： C： 問(wèn)：三種電阻阻值均值是否有顯著差異。 ? 建立假設(shè)： H0： A阻值均值＝ B阻值均值＝ C阻值均值 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 ANOVA 分析。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 CBABoxplots of A C(means are indicated by solid circles)CBADotplots of A C(group means are indicated by lines)用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 Oneway ANOVA: A, B, C Analysis of Variance Source DF SS MS F P Factor 2 Error 15 Total 17 Individual 95% CIs For Mean Based on Pooled StDev Level N Mean StDev +++ A 6 (*) B 6
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