內(nèi)部資料-6西格碼培訓(xùn)教材(文件)
【正文】 假設(shè)檢驗(yàn) χ2檢驗(yàn)法： χ2檢驗(yàn)法用于對(duì)樣本標(biāo)準(zhǔn)差的假設(shè)檢驗(yàn)。 ? 建立假設(shè)： H0：該批物料阻值均值 μ ＝ 500 Ha：該批物料阻值均值 μ ≠500 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù) 一般 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗(yàn)類(lèi)別 因是確定總體均值是否偏離目標(biāo)，因樣本容量較小，故選用 t檢驗(yàn)法 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 502501500499498497C2Boxplot of C2(with Ho and 95% tconfidence interval for the mean)[ ]X_Ho用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 OneSample T: C2 Test of mu = 500 vs mu not = 500 Variable N Mean StDev SE Mean C2 20 Variable % CI T P C2 ( , ) P= ，無(wú)法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為該批電阻的阻值的均值 未偏離目標(biāo)。因是確定總體標(biāo)準(zhǔn)差是否偏離原來(lái)值，故選用 χ2檢驗(yàn)法 ? 計(jì)算 χ2值： χ2檢驗(yàn)＝ ? 查 χ2分布表： (201)= ? 比較計(jì)算出的 χ2與查卡方分布表得出得值，可知 χ2計(jì)算值小于 查表得出的卡方值，故沒(méi)有理由拒絕零假設(shè)，即以 95％的置信度認(rèn)為 該批來(lái)料阻值精度沒(méi)有變差。（未知總體標(biāo)準(zhǔn)差） A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某 IC供應(yīng)商改進(jìn)其生產(chǎn)工藝，測(cè)得內(nèi)部鍵合拉力數(shù)據(jù)如下： A（改進(jìn)前）： B（改進(jìn)后）： 問(wèn)改進(jìn)后 鍵合拉力是否有顯著改進(jìn) 。 ? 建立假設(shè)： H0： A阻值均值＝ B阻值均值＝ C阻值均值 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 ANOVA 分析。 ? 建立假設(shè)： H0：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差＝設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 Ha：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ≠設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 F檢驗(yàn) 。 ? 建立假設(shè)： H0： бa2＝ бb2＝ бc2 Ha： бa2 ≠ бj2 設(shè)至少一對(duì)不相等 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab ANOVA。s Test (normal distribution) Test Statistic: PValue : Levene39。 ? 缺陷率的假設(shè)檢驗(yàn) 用以比較缺陷率數(shù)據(jù)之間是否具有顯著差異 ? 比例的卡方（ χ2） 檢驗(yàn)法： 用以對(duì)多水平獨(dú)立變量進(jìn)行比較。 P A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4）多個(gè)比例的檢驗(yàn) 例：我司某單板，同時(shí)使用 4種器件，為確認(rèn)是否各器件對(duì)產(chǎn)品過(guò)熱缺陷有無(wú)顯著不同，收集了一個(gè)月的生產(chǎn)數(shù)據(jù)如下： 問(wèn)是否某種器件對(duì)過(guò)熱缺陷的影響與其他器件不同？ ? 建立假設(shè)： H0： PA=PB=PC=PD Ha：至少一個(gè)比例與其他存在明顯差異 ? 確定置信度水平為 95％ ? Minitab： Control Charts P 器件類(lèi)別 檢查數(shù) “過(guò)熱”不良數(shù) 不良率 A 15600 291 % B 21000 315 % C 5600 76 % D 900 21 % A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4321Sample NumberProportionP Chart for C2P=== 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 PA超出置信區(qū)間，故拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為器件 A對(duì)產(chǎn)品過(guò)熱缺陷的影響與其他器不同，比其他器件影響大。經(jīng)追溯將缺陷與生產(chǎn)線對(duì)應(yīng)起來(lái)，取得數(shù)據(jù)如下： 問(wèn)缺陷類(lèi)別是否與生產(chǎn)線存在關(guān)系？ ? 建立假設(shè)： H0： 缺陷類(lèi)型是否與生產(chǎn)線無(wú)關(guān) Ha： 缺陷類(lèi)型是否與生產(chǎn)線有關(guān) ? 確定置信度水平為 95％ 生產(chǎn)線 漏件 劃傷 板裂 元器件破損 A 30 41 92 23 B 51 62 69 15 C 64 35 38 44 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 觀察頻率 分析標(biāo)準(zhǔn)殘差 進(jìn)行 χ2分析 變量類(lèi)別 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 Tabulated Statistics: 生產(chǎn)線 , 缺陷類(lèi)型 Rows: 生產(chǎn)線 Columns: 缺陷類(lèi)型 1 2 3 4 All 1 30 41 92 23 186 2 51 62 69 15 197 3 64 35 38 44 181 All 145 138 199 82 564 ChiSquare = , DF = 6, PValue = P ，拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為缺陷類(lèi)別與生產(chǎn)線有關(guān)。為確認(rèn) 4個(gè)照片工位那個(gè)對(duì)此缺陷影響明顯，收集了一個(gè)月的生產(chǎn)數(shù)據(jù)如下： 問(wèn) 4個(gè)工位是否某個(gè)工位生產(chǎn)的缺陷比例與其他工位的比率顯著不同？ ? 建立假設(shè)： H0：各工位產(chǎn)生的缺陷比率相同 Ha：至少一個(gè)工位產(chǎn)生的缺陷比率與其他工位不同 ? 確定置信度水平為 95％ ? Minitab： Control Charts U 工位 檢查數(shù) 缺陷數(shù) 缺陷比率 A 35000 4169 % B 26000 5208 20% C 38000 3941 % D 41000 6135 15% A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4321Sample NumberSample CountU Chart for DU=
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