射線檢測(cè)ⅲ級(jí)資格培訓(xùn)講座25584-3-(編輯修改稿)
2024-08-03 13:50 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 透照的最佳黑度，達(dá)到最佳黑度所使用的射線能量稱為有余高焊縫試件透照的最佳射線能量。 圖314 母材厚度10mm時(shí)焊縫余高高度和最佳黑度及可識(shí)別的最小線徑說(shuō)明：在上圖曲線的最低點(diǎn)引垂線到下圖，與下圖曲線的相交，從交點(diǎn)引水平線至縱坐標(biāo)，即得母材和焊縫的最佳黑度；交點(diǎn)引垂線至橫坐標(biāo)，即得最佳射線能量。 缺陷檢出試驗(yàn)b 表33反映了不同的膠片和增感屏組合對(duì)裂紋檢出的影響。其中：b 比較序號(hào)和7的數(shù)據(jù)，可看出膠片種類對(duì)裂紋檢出的影響：隨著膠片顆粒度增大和梯噪比減小，像質(zhì)計(jì)靈敏度變化雖不明顯，但裂紋識(shí)別度明顯下降。b 比較序號(hào)5和9的數(shù)據(jù)?？煽闯鲢U箔增感屏、金屬熒光增感屏和熒光增感屏與不同膠片組合對(duì)裂紋識(shí)別度的影響。表34反映了不同射源、膠片、增感屏組合對(duì)未焊透及未熔合檢出的影響。由序號(hào)5和8可看出，使用X射線時(shí)，膠片型號(hào)改變對(duì)未焊透檢出的影響不大，但使用γ射線時(shí)，膠片型號(hào)改變對(duì)未焊透檢出有顯著影響；從6可看出，使用粗粒膠片與金屬熒光增感屏組合，即使用X射線透照，未焊透也可能漏檢。從序號(hào)9至16的數(shù)據(jù)可看出：對(duì)未熔合缺陷的檢測(cè)，射線照相總體是不可靠的，底片顯示的缺陷尺寸和實(shí)際尺寸存在較大誤差；從序號(hào)12和14的數(shù)據(jù)可看出：金屬熒光增感屏的缺陷檢出率低于鉛屏；從序號(hào)11和116的數(shù)據(jù)可看出：使用Ir192γ射線源的缺陷檢出率明顯低于X射線。 不同透照角度對(duì)裂紋檢出的影響： 照射角度在10176。以下時(shí)，裂紋的識(shí)別情況變化不大；但照射角度超過(guò)15176。時(shí)，隨著照射角度的增大，裂紋不能識(shí)別的情況就增多，裂紋檢出率顯著降低。 圖317 照射角度和裂紋平均檢出率的關(guān)系 裂紋檢出率還受到板厚、透照靈敏度以及裂紋幾何尺寸的影響，所以上述數(shù)據(jù)只表明該試驗(yàn)條件下的結(jié)果 幾何因素對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響 要點(diǎn)1：小缺陷定義：橫向尺寸（垂直于射線束方向的尺寸）遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于射線焦點(diǎn)尺寸的缺陷，包括小的點(diǎn)狀缺陷和細(xì)的線狀缺陷。 要點(diǎn)2：幾何條件導(dǎo)致小缺陷影像對(duì)比度降低的原因 ： 底片上缺陷影像由本影和半影組成，當(dāng)d增大、L2增大或L1減小到一定程度，缺陷的本影將消失，其影像只由半影構(gòu)成，對(duì)比度將顯著下降。 的臨界幾何條件 W′為到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線在缺陷位置平面上的截距；W′與缺陷寬度W的比值大小決定了缺陷是否有本影。W′/ W = 1是本影消失的臨界點(diǎn)。 缺陷本影消失 的幾何條件 比度影響的定量分析和σ值要點(diǎn)1：像質(zhì)計(jì)金屬絲的σ值的推導(dǎo) ；要點(diǎn)2：對(duì)比度修正系數(shù)σ的定義；要點(diǎn)3： 當(dāng)w′≤d時(shí)（39 a）——有本影情況； 當(dāng) w′d時(shí)（39 b） ——無(wú)本影情況。幾個(gè)幾何參數(shù)的定義說(shuō)明d：金屬絲直徑W′（d′）：到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線在缺陷位置平面上的截距； d″：到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線穿過(guò)金屬絲的路徑，即b2d2之間長(zhǎng)度；dm″：對(duì)膠片上P點(diǎn)黑度起作用的厚度差，這一厚度差不是金屬絲直徑d，而是變化的，實(shí)際取d″在w′ （或d′）之間的平均值像質(zhì)計(jì)金屬絲的σ值的推導(dǎo)和對(duì)比度修正系數(shù)σ 對(duì)比度修正系數(shù)σ的定義：σ就是dm″與d的比值小缺陷對(duì)比度 下降原因的另一種說(shuō)明 超過(guò)本影消失的臨界點(diǎn)，即當(dāng)W′/ W ＞ 1后，只有焦點(diǎn)的中心部分區(qū)域發(fā)出的射線經(jīng)過(guò)缺陷到達(dá)P點(diǎn)，而焦點(diǎn)的兩端部分區(qū)域發(fā)出的射線可不經(jīng)過(guò)缺陷而直接到達(dá)P點(diǎn)〔圖中黑影部分〕.小缺陷對(duì)比度下降的簡(jiǎn)明數(shù)學(xué)式 由幾何定理可證明存在以下關(guān)系 W′/ W = 2 → df′/df =1/2 →ΔD′/ΔD =1/2 （311a）W′/ W= 4 → df′/df =1/4 →ΔD′/ΔD =1/4 （311b） 由上式可推出下式： W′= W 時(shí)，有σ=σ0 （312a） W′＞W(wǎng)時(shí)，有σ=σ0 W / W′ （312b） 小缺陷對(duì)比度的影響 C=CO Ug＜W （313a） C=COW/Ug Ug＞W(wǎng) （313b） ——————————— σ=σ0 W′＜W （312a） σ=σ0 W / W′ W′＞W(wǎng) （312b） W′與Ug兩者很接近 W′= df L2/（L1+L2） Ug = df L2 / L1 ——（ L2 大大小于 L1 ）（1）—公式的轉(zhuǎn)變公式（38）→公式（314） （2）—公式的數(shù)學(xué)意義 進(jìn)行了一次等面積代換，把一個(gè)餅形或圓形（金屬絲截面）變換為相同面積的矩形： 矩形的寬是到達(dá)P點(diǎn)的射線在金屬絲處的截距 w′； 矩形的高是射線穿過(guò)金屬絲的平均行程dm″（圖322）等面積代換，把一個(gè)餅形或圓形（金屬絲截面）變換為相同面積的矩形（3） 求解任意形狀缺陷的σ值 平均高度dm″ =缺陷截面積ΔS /截距w′σ=平均高度dm″ /缺陷最大高度ΔT（4）裂紋的σ值公式 （5）裂紋的σ值曲線 幾何因素對(duì)小缺陷影像對(duì)比度影響的總結(jié)（1） 1．對(duì)橫向尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于焦點(diǎn)尺寸的小缺陷或影像細(xì)節(jié)，必須考慮幾何因素對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響。 影響小缺陷影像對(duì)比度的幾何因素一共有五個(gè) ：①
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1