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正文內(nèi)容

高級無損檢測技術(shù)資格人員(編輯修改稿)

2024-08-10 02:37 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 從而在熒光屏上特定位置出現(xiàn)反射波,這種波即稱為三角反射波。三角反射波一般有二次,均出現(xiàn)在第一次底波B1之后,且位置是固定的,一次是縱波擴(kuò)散聲束在圓柱面上不發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,形成等邊三角形反射,如圓柱體直徑為d,;另一次是縱波擴(kuò)散聲束在一柱體面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,形成等腰三角形反射,平面型缺陷與非平面型缺陷的判別方法如何?(答案從略)?(答案從略)?除提高增益外還有哪些補(bǔ)償辦法?(答案從略):在異質(zhì)界面上,聲壓透過率Tp等于1+Rp(聲壓反射率)是正確的 (答案從略)(答案從略)?[提示]:①在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個方向的缺陷;②便于使用一次、二次聲程掃查整個焊縫截面,不會漏檢;③有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后,可在另一側(cè)面進(jìn)行驗證;④一般母材表面光潔度比焊縫高,易于探頭移動掃查,也可省去焊縫打磨的工作量,故此,焊縫探傷都用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材上表面進(jìn)行(即殘響效應(yīng))?如何加以識別?(答案從略) (答案從略)?[提示]:提高近表面缺陷的探測能力應(yīng)從下面三方面著手:①用TR探頭;②使用窄脈沖寬頻帶探頭;③提高探頭頻率,減小晶片尺寸[提示]缺陷指示長度測量方法可分為相對靈敏度法和絕對靈敏度法:①相對靈敏度法(即6dB、10dB、20dB法),優(yōu)點是:耦合誤差和衰減影響小;不受回波高度影響。缺點是:操作者主觀因素對探傷結(jié)果影響較大;操作誤差大,測量出來的指示長度可能大于缺陷長度;不能實現(xiàn)自動化探傷。②絕對靈敏度法,優(yōu)點:主觀性要求低,容易采用機(jī)械化;可以比較容易實現(xiàn)自動化探傷。缺點:表面接觸誤差大;回波高度影響大。,采用射線照相法與超聲波檢驗法各有什么優(yōu)缺點?(答案從略),而不要求對電和聲共同引起的噪聲電平進(jìn)行測量?答:因為在超聲探傷中,聲噪聲要在超聲波的傳播過程中才能產(chǎn)生,若用試塊代替?zhèn)鞑ソ橘|(zhì),由于目前還沒有建立測量試塊中聲噪聲的理想方法,因此采用不同的試塊,可能會得到不同的測量結(jié)果,失去測量意義三. 三、選擇題(將認(rèn)為正確的序號字母填入題后面的括號內(nèi),只能選擇一個答案),1MHz探頭的分辨率要比5MHz探頭的分辨率(b) ,有可能發(fā)生的現(xiàn)象是(d) ,一個聲程為100mm,另一個為300mm,在不計材質(zhì)衰減的情況下,兩個平底孔的回波聲壓差為(d) ,得知鋁中橫波折射角為60176。,則斜探頭的入射角約為(b):176。4239。 176。2439。 176。1839。 (頻率常數(shù)Nt=)(c) (d): (c) (a) (b) (a),聲速變大 ,聲速變小 ,聲速不變 =,欲制作中心頻率5MHz的晶片,其晶片厚度應(yīng)為(b) (b) (c):=P/2Z =P2/Z2 =P2/2Z =P2/4Z,如果第一種材料的聲阻抗變大,但其聲速與第二種材料相同,則在第二種材料中的折射角(c) 、介質(zhì)密度ρ、聲速c、質(zhì)點振動速度v之間的關(guān)系是(d)=ρ2cv =ρc2v =ρ2cv2 =ρcv(c) (c) ?(b)(CL=5470m/s) (CL=7400m/s) (CL=4400m/s) (CL=4200m/s)疊加效應(yīng)的敘述中,哪點是正確的?(c) ,它的頻率高于(b) (e) (b) (b)的各質(zhì)點構(gòu)成的空間曲面 (a)相互作用 (c): (a) ,在頻率一定的情況下,在給定的材料中,橫波探測缺陷要比縱波靈敏,這是因為(a) ,具有的特性是(a),傳播速度約為縱波速度的1/2 、衰減小、故有很高的靈敏度,故從耦合液體傳遞到被檢物體時有高的耦合率 ,在給定頻率的情況下,產(chǎn)生最短波長的波是(d) (a) (d) 、管材(b): ,不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是(a) ,并且與聲壓的振幅平方正比的聲能稱為(b) ,隨著(b)增加,聲壓單調(diào)下降的區(qū)域 ,隨晶片直徑變小而(a): ,并且(a) ,在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做(d) (c) (a) (b) (b)有關(guān) ,產(chǎn)生和接收超聲波的方法,通常是利用某些晶體的(c) (d) (d): ,為了保證探傷結(jié)果的可靠性,除了完全執(zhí)行檢驗規(guī)程和增強(qiáng)責(zé)任心之外,還應(yīng)建立的制度是(d) ,指的是(c) ,采用底波對比而測得的結(jié)果 ,和AVG曲線的原理相同,一個聲程為100mm,另一個為300mm,在不計材質(zhì)衰減的情況下,兩個平底孔的回波聲壓差為(d) ,得知鋁中橫波折射角為60176。,則斜探頭的入射角約為(b):176。4239。 176。2439。 176。1839。 、密度之間的關(guān)系式是(c)=(E/ρ)1/2 =[(E/ρ)(1+σ)/(1+σ)(12σ)]1/2=[(E/ρ)(1σ)/(1+σ)(12σ)]1/2 =(G/ρ)1/2,薄層缺陷是一個很差的反射體,若要得到最大反射信號,其厚度應(yīng)為(b) ,薄層缺陷是一個很差的反射體,若要得到最大反射信號,其厚度應(yīng)為(d) ,薄層缺陷是一個很差的反射體,若要得到最大反射信號,其厚度應(yīng)為(b) ,其半擴(kuò)散角度大約是(c)176。 176。 176。 176。176。,則折射角約為(c) 176。 176。 176。 176。(b): ,該聲束將(d) ,不但要選擇合適的入射角,而且要給斜探頭選擇合適的斜楔材料,應(yīng)滿足(a) =:1水平定位法,并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格,第二次回波前沿出現(xiàn)在第九格的半圓試塊,該試塊的半徑應(yīng)是(a) ,缺陷一次回波的顯示情況可能有(d) ,只有底波降低或消失 ,得到如下一組衰減量與回波高度的對應(yīng)數(shù)值,則該儀器的垂直線性誤差(d)% % % %衰減量(dB)02468101214161820222426波高值(%)100816525156(c) (d) (c) 、聲速C、質(zhì)點振動速度V之間的關(guān)系是(d)∝ρ2CV ∝ρC2V ∝ρ2CV2 ∝ρCV,其能量逐步降低的原因是(d) ,若下述等式成立,則透聲效果較佳(b) =Zc =(ZaZc)1/2 =ZaZb =ZbZc(b) =(c) % % % %%,由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上,聲壓反射率為(b)% % % %=50mm,R2=25mm的牛角試塊(V2試塊),使斜探頭對正R1圓弧,則R1圓弧的第三次回波必定出現(xiàn)在(c): ,如果折射角為50176。,超聲波的正確傳播方式是(b)(c)、垂直線性、動態(tài)范圍 、探測深度、重復(fù)頻率、盲區(qū)、分辨力 、近場長度、擴(kuò)散角,使用“抑制”旋鈕的抑制作用,可以減少雜波顯示,與此同時也會隨之出現(xiàn)(d),動態(tài)范圍減小 ,如果第一種材料的聲阻抗較大,但其聲速與第二材料相同,則在第二種材料中的折射角(c) ,寬脈沖的橫向分辨率大是因為它的擴(kuò)散角(a) 176。,不向材料深處傳播的超聲波是(a) (d) ,則聲束擴(kuò)散角將(a) ,176。時,在鋼中只有反射橫波而無反射縱波,這個角度稱為(c) ,鋼中只有反射橫波而無反射縱波的橫波入射角稱為第三臨界角,這個角度約為(c) 176。 176。 176。 176。,為了得到良好的透聲效果,應(yīng)當(dāng)使薄層厚度等于1/4波長的奇數(shù)倍,并且其聲阻抗Z2=(a)a.(Z1Z3)1/2 (a) 176。切變波探頭在金屬中產(chǎn)生的聲波(d) 176。角的方向上偏振 176。角的方向上偏振(a): (最大位移)的位置時速度為(c) ,任一點的聲壓和該點振動速度之比稱為(b) (a)表示 ,其加速度方向總是指向(c) ,其加速度的大小與振動的位移(a) (b): ,因受表面影響,能產(chǎn)生縱波與橫波相組合的一種復(fù)合波,即是(d) (c)有關(guān) ≥3N的距離上,球孔的回波聲壓與距離的平方成反比,與球徑成正比,但此時的球徑d必須滿足(a)的要求 ≥ ≤ ≥ ≤(λx)1/2≥3N的距離上,平底孔的回波聲壓與距離的平方成反比,與孔徑的平方成正比,但此時的孔徑d必須滿足(e)的要求 ≥ ≤ ≥ ≤(λx)1/2 (a),探頭和接收器的組合性能 (c ): ,其掃描鋸齒波形的好壞程度,決定了儀器(c)的好壞 ,主要還決定于接收放大器在強(qiáng)信號沖擊下的(a)時間 ,放大器這一非飽合的放大區(qū)域稱為(b) ,脈沖的持續(xù)時間稱為(c) ,用工件底面作為探傷靈敏度校正基準(zhǔn)時,可以(d) (d) (d) ,超聲波的散射會影響檢驗結(jié)果?(c) ,縱向分布的缺陷最可能發(fā)生的影響是(c) ,無法確定反射體的位置 ,各自采用底波校正靈敏度(Φ2mm平底孔),在工件中間相同聲程處發(fā)現(xiàn)相同波高的缺陷,則(b) ,應(yīng)該采用的頻率(c) (c) ,應(yīng)盡可能使探頭隔聲層的放置與棒材軸線(b) 176。角 176。角,第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度2處,則圓弧面的第三次回波必定出現(xiàn)在水平刻度的(d)處: ,用工件底面作為探傷靈敏度校正基準(zhǔn)時,可以(d) (d) (d) (d) ,儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表(b) (F/B百分比法)對缺陷定量時,下面哪種說法正確?(b),缺陷當(dāng)量相同 ,發(fā)現(xiàn)某局部位置處的底波前沿不在50mm刻度處,而是在46mm刻度處,這可能是(c) ,較好的處理方法是(c) ,精加工后對形狀許可的部位再做檢驗 ,如果入射角為33176。(sin33176。=),在板中將會產(chǎn)生(b) ,也沒有橫波,能否把熒光屏上的反射波區(qū)分出是內(nèi)部缺陷還是表面缺陷?(b) (d) ,應(yīng)把槽加工在管子的(a) ,主要是由于(d) ?(a),缺陷尺寸一定較大 ,要求入射角在(a)之間、二臨界角 、三臨界角 、三臨界角 ,如果聚焦點不能調(diào)整到被檢管件的中心軸線上,而是偏離中心軸線一定距離,則管壁內(nèi)將出現(xiàn)(c) ,出現(xiàn)草狀回波的原因很有可能是由于(c) (b) ,若缺陷垂直于探測面且缺陷面有曲折或較粗糙時,若采用高靈敏度探傷,其反射波特征是(c) ,寬度較大,儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕應(yīng)置于(a)的位置: ,必須正確調(diào)整儀器的水平或深度比例,主要是為了(e) ,如焊縫磨平,為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷,應(yīng)在焊縫上沿焊縫的(a)方向探測: 鋼中縱波始波占寬15mm,則(d) ,具體數(shù)值與靈敏度和檢測對象及條件有關(guān),都要求校正時基掃描線(俗稱定標(biāo)),這是為了(c) ,選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是(c) ?(c) ,下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點是錯誤的?(d) ,引起底波明顯降低或消失的因素有(d) ,要使第二次水層界面回波與鋼板第二次底波重合,則水層厚度與鋼板厚度之比應(yīng)為(c)::1 : :2 :1,若探頭的折射角度過于偏小,可能出現(xiàn)的問題是(b) (c)的工件表面 ,有時a有時b,最好的操作方法是(a) 176。夾角 (d),常常要在鑄態(tài)的毛糙表面上進(jìn)行探傷 ,底面不一定與探傷面平行,超聲波衰減大,雜波較多 ,表面粗糙的零件作超聲波檢測時,通常使用(a) ,軸的直徑應(yīng)不小于(b) ,為了防止遇到垂直于底面的缺陷時回波聲壓太低,一般都盡可能避免使用折射角為(c)的斜探頭:176。 176。 176。 176。(d) ,減小晶片尺寸 ,為使鋼板的第四次底波與水層界面的第二次回波重合,水層厚度應(yīng)為(b) ,D1為管子內(nèi)徑,CL1為入射介質(zhì)的縱波速度,CS1為入射介質(zhì)的橫波速度,CL2為管子的縱波速度,適合于管子水浸橫波探傷的折射角βS應(yīng)當(dāng)滿足(c)≥sinβS≥CS1/CL1 ≥sinβS≥CL1/CL2 ≥sinβS≥CS2/CL2 ≥sinβS≥CL1/CS2(d) ,適合于粗晶材料探傷的是(a)、低頻、縱波、窄脈沖探頭探傷 ,不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果(a) ,目前達(dá)到的現(xiàn)狀是(d) ,在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生波型變換所致,其遲到波間距對于鋼材為(c)d ,如果該缺陷會給出多個回波顯示,則所用探頭的主聲束可能存在下述情況(d) (d)176。的擺動 ,在焊縫上作平行于焊縫的掃查(b) E317 E164 E500 A418?(c) ,反射波較低,這是因為(c) ,其反射
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