射線檢測(cè)ⅲ級(jí)資格培訓(xùn)講座25584-3--在線瀏覽
2024-08-17 13:50本頁(yè)面
【正文】 晰度曲線幾何不 清晰度+固有不清晰度+顆粒度 射線照相顆粒度 b 顆粒性——心理顆粒性——照相質(zhì)量主觀評(píng)價(jià)法b 顆粒度——顯微密度計(jì)——照相質(zhì)量客觀評(píng)價(jià)法 射線照相顆粒度（示意圖） 顆粒度產(chǎn)生原因 膠片粒度：感光銀鹽顆粒大小、分布不均勻性 量子噪聲：光子隨機(jī)分布的統(tǒng)計(jì)漲落（射線能量、曝光量、黑度） 隨機(jī)性，不均勻性，不可控性顆粒度產(chǎn)生原因圖示顆粒度產(chǎn)生原因圖示說(shuō)明ω（）——空間頻率， 。 圖38 底片黑度D和△D min的關(guān)系 圖39 金屬絲影像寬度W和△D min的關(guān)系。在適宜的條件下，；。C增感型膠片，G值在某一特定黑度區(qū)域最大圖311 黑度D和ΔD及ΔDmin的關(guān)系 圖312 最佳黑度和正常黑度范圍圖313 黑度和可識(shí)別最小線徑的關(guān)系參數(shù)μ/（1+n）的單位為cm1；透照幾何條件W′≈0 注解：μ/（1+n）—比襯度，比襯度越大，對(duì)比度越高；W′≈0意味著幾何條件不影響對(duì)比度；說(shuō)明：每一條μ/（1+n）曲線代表一組透照參數(shù)， μ/（1+n）越大，可識(shí)別線徑越細(xì)；曲線左邊升高是由于黑度低導(dǎo)致對(duì)比度降低；曲線右邊升高是由于黑度高導(dǎo)致最小可見(jiàn)對(duì)比度增大平板試件透照的最佳黑度由射線照相對(duì)比度公式和圖39所顯示的d和ΔDmin的關(guān)系，結(jié)合試驗(yàn)數(shù)據(jù)推導(dǎo)出如圖313的結(jié)果。 有余高焊縫試件透照的最佳黑度，和有余高焊縫試件透照的最佳射線能量。b 為使焊縫部位和母材靈敏度相等，就需要以最佳黑度為基準(zhǔn)調(diào)節(jié)母材黑度和焊縫黑度。b 黑度的是通過(guò)改變射線能量進(jìn)而改變?chǔ)毯蚽來(lái)實(shí)現(xiàn)的，黑度的具體數(shù)值大小與射線能量和余高高度等參數(shù)有關(guān)。 圖314 母材厚度10mm時(shí)焊縫余高高度和最佳黑度及可識(shí)別的最小線徑說(shuō)明：在上圖曲線的最低點(diǎn)引垂線到下圖，與下圖曲線的相交，從交點(diǎn)引水平線至縱坐標(biāo)，即得母材和焊縫的最佳黑度；交點(diǎn)引垂線至橫坐標(biāo)，即得最佳射線能量。其中：b 比較序號(hào)和7的數(shù)據(jù)，可看出膠片種類對(duì)裂紋檢出的影響：隨著膠片顆粒度增大和梯噪比減小，像質(zhì)計(jì)靈敏度變化雖不明顯，但裂紋識(shí)別度明顯下降?？煽闯鲢U箔增感屏、金屬熒光增感屏和熒光增感屏與不同膠片組合對(duì)裂紋識(shí)別度的影響。由序號(hào)5和8可看出，使用X射線時(shí)，膠片型號(hào)改變對(duì)未焊透檢出的影響不大，但使用γ射線時(shí)，膠片型號(hào)改變對(duì)未焊透檢出有顯著影響；從6可看出，使用粗粒膠片與金屬熒光增感屏組合，即使用X射線透照，未焊透也可能漏檢。 不同透照角度對(duì)裂紋檢出的影響： 照射角度在10176。時(shí)，隨著照射角度的增大，裂紋不能識(shí)別的情況就增多，裂紋檢出率顯著降低。 要點(diǎn)2：幾何條件導(dǎo)致小缺陷影像對(duì)比度降低的原因 ： 底片上缺陷影像由本影和半影組成，當(dāng)d增大、L2增大或L1減小到一定程度，缺陷的本影將消失，其影像只由半影構(gòu)成，對(duì)比度將顯著下降。W′/ W = 1是本影消失的臨界點(diǎn)。幾個(gè)幾何參數(shù)的定義說(shuō)明d：金屬絲直徑W′（d′）：到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線在缺陷位置平面上的截距； d″：到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線穿過(guò)金屬絲的路徑，即b2d2之間長(zhǎng)度；dm″：對(duì)膠片上P點(diǎn)黑度起作用的厚度差，這一厚度差不是金屬絲直徑d，而是變化的，實(shí)際取d″在w′ （或d′）之間的平均值像質(zhì)計(jì)金屬絲的σ值的推導(dǎo)和對(duì)比度修正系數(shù)σ 對(duì)比度修正系數(shù)σ的定義：σ就是dm″與d的比值小缺陷對(duì)比度 下降原因的另一種說(shuō)明 超過(guò)本影消失的臨界點(diǎn)，即當(dāng)W′/ W ＞ 1后，只有焦點(diǎn)的中心部分區(qū)域發(fā)出的射線經(jīng)過(guò)缺陷到達(dá)P點(diǎn)，而焦點(diǎn)的兩端部分區(qū)域發(fā)出的射線可不經(jīng)過(guò)缺陷而直接到達(dá)P點(diǎn)〔圖中黑影部分〕.小缺陷對(duì)比度下降的簡(jiǎn)明數(shù)學(xué)式 由幾何定理可證明存在以下關(guān)系 W′/ W = 2 → df′/df =1/2 →ΔD′/ΔD =1/2 （311a）W′/ W= 4 → df′/df =1/4 →ΔD′/ΔD =1/4 （311b） 由上式可推出下式： W′= W 時(shí)，有σ=σ0 （312a） W′＞W(wǎng)時(shí)，有σ=σ0 W / W′ （312b） 小缺陷對(duì)比度的影響 C=CO Ug＜W （313a） C=COW/Ug Ug＞W(wǎng) （313b） ——————————— σ=σ0 W′＜W （312a） σ=σ0 W / W′ W′＞W(wǎng) （312b） W′與Ug兩者很接近 W′= df L2/（L1+L2） Ug = df L2 / L1 ——（ L2 大大小于 L1 ）（1）—公式的轉(zhuǎn)變公式（38）→公式（314） （2）—公式的數(shù)學(xué)意義 進(jìn)行了一次等面積代換，把一個(gè)餅形或圓形（金屬絲截面）變換為相同面積的矩形： 矩形的寬是到達(dá)P點(diǎn)的射線在金屬絲處的截距 w′； 矩形的高是射線穿過(guò)金屬絲的平均行程dm″（圖322）等面積代換，把一個(gè)餅形或圓形（金屬絲截面）變換為相同面積的矩形（3） 求解任意形狀缺陷的σ值 平均高度dm″ =缺陷截面積ΔS /截距w′
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