射線檢測(cè)ⅲ級(jí)資格培訓(xùn)講座25584-3-(文件)
【正文】 膠片梯度和較高梯噪比。 輸出信息的信噪比影響因素 輸出信息的信噪比，即底片上缺陷可識(shí)別性，首先取決于主因?qū)Ρ榷龋忠驗(yàn)槭巧渚€照相以底片為載體輸出的，所以還與梯噪比有關(guān)。18 / 18。 噪聲（σD）正比于曝光量的平方根；信號(hào)正比于曝光量： 疊加效應(yīng)對(duì)提高信噪比 的意義 信號(hào)具有穩(wěn)定的差異性，疊加導(dǎo)致差異增大較快； 噪聲具有隨機(jī)性，疊加導(dǎo)致差異增大較慢； 曝光量與信噪比關(guān)系 曝光過(guò)程是大量光子多次迭加，隨曝光時(shí)間延長(zhǎng)，迭加結(jié)果是：噪聲增長(zhǎng)緩慢，信號(hào)增長(zhǎng)較快，信噪比提高。梯噪比體現(xiàn)了膠片系統(tǒng)這一傳遞信息的載體最重要特性，即對(duì)信號(hào)的放大能力和對(duì)附加噪聲的抑制能力。 膠片梯度不僅取決于膠片種類，還與黑度值有關(guān)。 輸入信息的信噪比主因?qū)Ρ榷圈/I為輸入信號(hào)與背景噪聲之比；缺陷處與其附近的輻射強(qiáng)度差值ΔD（Ip′Ip）可稱為信號(hào)，透射射線強(qiáng)度I可稱為背景，這個(gè)背景存在的不均勻性可稱為背景噪聲，背景噪聲可能是由輻射源的不均勻或散射線引起的，也可能是由工件的幾何不均勻或物理不均勻等引起的，主因?qū)Ρ榷仍礁?，也就是輸入信息的信噪比越高，信息的質(zhì)量越好。 噪聲對(duì)缺陷檢出的的影響：細(xì)節(jié)影像有可能在噪聲中被淹沒(méi)（圖330） 。 連續(xù)譜既含有穿透力較強(qiáng)的主能量部分，又含有大量有利于提高對(duì)比度的軟線質(zhì)部分，所以照相靈敏度比線狀譜高。 ②散射比隨工件厚度增加相應(yīng)增大， Ⅱ、在清晰度方面不利影響: ①幾何不清晰度與工件厚度成正比，②固有不清晰度隨射線能量增大而增大。 到達(dá)膠片上P點(diǎn)的射線不是圖中射線束中心線這一條路徑，而是通過(guò)裂紋截面部分所有路徑。 射線方向與裂紋方向一致時(shí)，底片上裂紋影像的對(duì)比度最大，檢出率最高 。 射線照相裂紋檢出研究總結(jié) 形狀特殊——缺陷的第三維尺寸（開(kāi)口寬度W）遠(yuǎn)小于其余兩維尺寸 尺寸特殊——裂紋尺寸很小，有些裂紋本身就是一個(gè)影像細(xì)節(jié) 表達(dá)裂紋形態(tài)自身特征參數(shù) 從射線照相角度來(lái)看，表達(dá)裂紋形態(tài)自身特征參數(shù)有六個(gè)： ①長(zhǎng)度l；②走向α；③埋藏深度h；④裂紋平面對(duì)工件表面法線的傾角θ；⑤自身高度d；⑥開(kāi)口尺寸或?qū)挾萕。這里必須注意，靈敏度公式的應(yīng)用并不是進(jìn)行數(shù)字計(jì)算。 小缺陷體積與影像面積和對(duì)比靈敏度（最小厚度差）相關(guān)性的基本公式。如果缺陷是細(xì)長(zhǎng)線型的，則穿過(guò)缺陷的射線的強(qiáng)度減弱由截面積ΔS決定。 即 ΔI/I=μΔT/（1+n） 應(yīng)改為：ΔI/I=μΔV /（1+n）。GD） ΔX = （Cs（圖325） 圖325 焦距變化時(shí)，裂紋靈敏度及各種像質(zhì)計(jì)靈敏度的相應(yīng)變化裂紋靈敏度急劇下降的解釋 用幾何不清晰度增大和對(duì)比度減小的共同作用來(lái)解釋裂紋靈敏度急劇下降： W′/ W ＞ 1時(shí)，裂紋本影消失，致使對(duì)比度急劇下降，檢出靈敏度也急劇下降。幾何因素導(dǎo)致小缺陷影象發(fā)生的變化是：對(duì)比度降低，橫向尺寸變寬，邊界變模糊幾何因素對(duì)小缺陷影像對(duì)比度影響的總結(jié)（3）由幾何因素臨界條件（W′＞W(wǎng)）判定裂紋可檢出最小尺寸；常規(guī)參數(shù)：LI=600mm，L2=30 mm， df=3 mm計(jì)算 d′= df L2 /(L1 + L2 )= 影響小缺陷影像對(duì)比度的幾何因素一共有五個(gè) ：①焦點(diǎn)尺寸df、②焦點(diǎn)到缺陷距離L③缺陷到膠片距離L2 、④ 缺陷截面形狀F、⑤缺陷寬度w。 的臨界幾何條件 W′為到達(dá)膠片P點(diǎn)的射線在缺陷位置平面上的截距；W′與缺陷寬度W的比值大小決定了缺陷是否有本影。以下時(shí)，裂紋的識(shí)別情況變化不大；但照射角度超過(guò)15176。表34反映了不同射源、膠片、增感屏組合對(duì)未焊透及未熔合檢出的影響。 缺陷檢出試驗(yàn)b 表33反映了不同的膠片和增感屏組合對(duì)裂紋檢出的影響。使母材黑度比D=，同時(shí)使焊縫黑度比D=。由圖中曲線可知，對(duì)于任何材質(zhì)μ或散射比n的變化，（即圖中點(diǎn)劃線），此黑度稱為平板試件透照的最佳黑度。 在不同亮度條件下，人眼對(duì)黑度差識(shí)別的敏感程度不同，此即第三章討論過(guò)的最小可見(jiàn)對(duì)比度Δdmin。L2 2/3 （Ug≤L2 1/31/15） 經(jīng)驗(yàn)公式，上世紀(jì)70年代德國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)首先采用； L2 ↑→允許的最大Ug↑；固有不清晰度的影響因素（1）射線的能量（MeV或管電壓）對(duì)Ui的影響300KV： Ui= mm；Ir192：Ui= mm；CO60：Ui= mm；2MV：Ui= mm；8MV：Ui= mm；射線的能量↑ → Ui ↑固有不清晰度的影響因素（2） 屏一片貼緊程度對(duì)Ui的影響前后屏與膠片不貼緊影響＞前屏與膠片不貼緊影響＞后屏與膠片不貼緊影響； mm，Ui增大一倍； 增感屏種類（鉛、銅、鋼或鉭 ）對(duì)Ui的影響JB47302005增感屏使用規(guī)定:Co60、高能X射線：鉛屏限在A、AB級(jí)；B級(jí)應(yīng)使用銅、鋼或鉭屏，不用鉛屏。186。（顯影配方、時(shí)間、溫度）顯影溫度引起膠片特性曲線改變（圖250/圖4)顯影溫度引起膠片特性曲線改變1—顯影溫度為16℃；2—顯影溫度為20℃；3—顯影溫度為26℃ 小缺陷的照相對(duì)比度公式照相對(duì)比度公式：ΔD = /（1+n）小缺陷照相對(duì)比度公式：ΔD=（1+n）幾何條件影響小缺陷對(duì)比度射線照相幾何條件對(duì)小缺陷對(duì)比度的影響 射線照相清晰度圖33（a）不清晰度=0的黑度分布圖形，固有不清晰度=0；圖34（b）幾何不清晰度≠0的黑度分布圖形，圖34（c）幾何不清
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