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正文內(nèi)容

畢業(yè)論文-zno對低硅高硼低介電常數(shù)玻璃結(jié)構(gòu)和失透行為的影響(編輯修改稿)

2024-07-25 10:10 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 動(例如伸縮振動和變角振動)。分子振動的能量與紅外射線的光量子能量正好對應(yīng),因此當(dāng)分子的振動狀態(tài)改變時,就可以發(fā)射紅外光譜,也可以因紅外輻射激發(fā)分子而振動而產(chǎn)生紅外吸收光譜。 本次實驗采用的是Nicolet Is 10傅立葉紅外光譜儀。技術(shù)指標(biāo):光譜分辨率:;光譜范圍:7800350cm1優(yōu)化的中紅外K/Dd分束器;11000375cm1XT K/Dd寬帶中/近紅外光學(xué)分束器;FTIR精準(zhǔn)線性度(ASTME1421):%T;波數(shù)精度:。示差掃描量熱法(differential scanning calorimetry,簡稱DSC),這項技術(shù)被廣泛應(yīng)用于一系列應(yīng)用,它既是一種例行的質(zhì)量測試工具,也是一種研究工具。該設(shè)備易于校準(zhǔn),使用熔點低,是一種快速和可靠的方法。示差掃描量熱法(DSC)是在程序控制溫度下,測量輸給物質(zhì)和參比物的功率差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。DSC和DTA儀器裝置相似,所不同的是在試樣和參比物容器下裝有兩組補償加熱絲,當(dāng)試樣在加熱過程中由于熱效應(yīng)與參比物之間出現(xiàn)溫差△T時,通過差熱放大電路和差動熱量補償放大器,使流入補償電熱絲的電流發(fā)生變化,當(dāng)試樣吸熱時,補償放大器使試樣一邊的電流立即增大;反之,當(dāng)試樣放熱時,則使參比物一邊的電流增大,直到兩邊熱量平衡,溫差△T消失為止。本次實驗采用的是型號為STA 449 F3 Jupiter的同步TGDSC熱分析儀,其性能參數(shù)如下:1. 溫度范圍:1502000℃2. 升降溫速率:(取決于爐體配置)3. 最大稱重量:液體樣重:510mg;固體樣重:1030mg4. 稱重解析度:5. DSC解析度:<1W(取決于配置的傳感器)6. 氣氛:惰性,氧化,還原,靜態(tài),動態(tài)7. 標(biāo)配用于2路吹掃氣和1路保護(hù)氣的電磁閥8. 保護(hù)氣體(Protective):保護(hù)氣體輸出壓力應(yīng)調(diào)整為<(),流速恒定為20ml/min。開機后,保護(hù)氣體開關(guān)應(yīng)始終為打開狀態(tài)。9. 吹掃氣體(Purge1/Purge2):使用壓力為<(),一般情況下為50ml/min。操作步驟:將玻璃樣品研磨至250目以下,每次測量取1015mg放于氧化鋁坩堝中,設(shè)置參數(shù)為:溫度:室溫1300℃,升溫速度:15K/min。將熔制好的敲碎的玻璃取出,將試樣ZnZnZnZnZn5分別放入不同的器皿中。把上述樣品依次放入溫度為850℃的實驗室電爐中保溫3小時,然后取出,觀察有無失透現(xiàn)象。如果失透現(xiàn)象明顯,則該組樣品不再繼續(xù)實驗;相反,則繼續(xù)。重復(fù)上述過程,依次將溫度調(diào)為950℃、1000℃、1100℃、1200℃、1300℃。玻璃的密度主要與玻璃的化學(xué)組成、溫度和熱歷史有關(guān)。本實驗主要使用天平測定樣品的密度,具體步驟如下:安裝好天平,將溫度計懸掛于燒杯壁上,放置燒杯到容器支架中心位置;將已知密度的參考液體(通常為水或者乙醇)注入燒杯,確保待測固體能被液體完全浸沒1cm以上;放置掛籃于固體支架上,確保其表面無氣泡并不碰到燒杯或者溫度計;去皮后,將待測物放置于掛籃頂部的秤盤中,待天平穩(wěn)定后記錄稱量結(jié)果A。再將待測物放置蒸餾水的稱量網(wǎng)內(nèi),待天平穩(wěn)定后記錄稱量結(jié)果B。根據(jù)密度計算公式計算待測固體密度。密度公式如下 : (21)試中:— 待測物體密度; A=待測物體在空氣中的質(zhì)量; B=待測物體在輔助夜中的質(zhì)量; — 輔助液體密度; — 空氣密度()。為了提高固體密度結(jié)果的準(zhǔn)確性,實驗中,在每組中分別取三個玻璃樣品測試,將得到的密度結(jié)果取平均值。這樣,共得到五組玻璃樣品的密度值。X射線衍射分析(Xray diffraction,簡稱XRD),是利用晶體形成的X射線衍射,對物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時,X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。利用X射線衍射法可以精確的測定晶體結(jié)構(gòu)、物質(zhì)定性、點陣常熟和定量分析,主要用途為未知樣品中一種和多種物相的鑒定、混合樣品中已知相定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、非常規(guī)條件下的晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件)、材料表面分析和金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析。本次實驗所采用的是DX2500的X射線衍射儀,衍射條件為Cu靶,管電壓為30KV,管電流為20mA,掃描角度(2θ)范圍為10176。80176。,掃描步長為176。具體步驟為:將玻璃磨成粉末,再將粉末倒入300目的篩子中,然后篩出所需細(xì)粉,裝入樣品袋,隨后將得到的粉末作XRD檢測。然后將得到的XRD圖譜與衍射卡片進(jìn)行對照,采用標(biāo)定的方法來確定試樣中的相成分。掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,簡稱SEM),掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、投射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,也可產(chǎn)生電子空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理,采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對X射線的采集,可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。正因如此,根據(jù)不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。本次實驗采用的是JSM6460LV掃描電子顯微鏡,技術(shù)參數(shù)如下:1. 分辨率 高真空模式:(30KV)低真空模式:(30KV)2. 低真空度1 to 270Pa,高、低真空切換3. 樣品移動范圍 X:125nm Y:100nm Z:580nm T:10~+90176。 R:360degree4. to 30KV束流1pA1操作步驟:在5組試樣中,各選取一塊合適的玻璃。將玻璃進(jìn)行鑲嵌,再將鑲嵌好的玻璃用砂紙磨平,直到符合指定要求。待磨平之后,進(jìn)行拋光,時長約為5min。將拋光后的試樣置于配置好的溶液中腐蝕1min,然后取出干燥。第3章 實驗結(jié)果與分析,試樣5分別表示ZnO含量為0%、3%、6%、9%、12%。:5個試樣中的吸收峰相同特征振動譜帶分別位于3450,1380,1090,800,670cm1附近。在3450cm1處的吸收帶可以歸因于游離OH基團(tuán)或游離水分子的反對稱伸縮振動,5個試樣在這個范圍的吸收帶沒有明顯的變化。由表31可以看出:在1380cm1和670cm1處的振動是由[BO3]中的BOB彎曲振動所致,同樣,5個試樣在這個范圍的吸收帶沒有明顯的變化。在硼系和硼硅系玻璃中,B四面體之間是相互排斥的,一般由[BO4]鏈接[BO3];鋁硅系玻璃中,[AlO4]之間相互排斥;在鈉鋁硼系中,四面體排斥規(guī)則也同樣存在,包括[BO4]和[AlO4]。從四面體之間的這種排斥行為看,1090cm1應(yīng)當(dāng)主要是SiOSi橋氧的振動。從圖中可以看出,該處的波峰基本沒有變化,說明試樣中SiOSi是基本穩(wěn)定的。800cm1處是[AlO4]中AlOAl的振動所致[1921]。試樣1~5的910cm1處的吸收峰逐漸增強,此時的吸收峰是由非橋氧振動引起的,從而導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)連接破壞,引起玻璃分相。通過紅外光譜分析可得:ZnO的加入導(dǎo)致非橋氧振動增強,破壞網(wǎng)絡(luò),導(dǎo)致玻璃分相。表31 硼、鋁硅、硼硅系玻璃中紅外光譜中的峰位 試樣的紅外光譜圖 ZnO含量為0時的DSC圖 ,試樣的起始失透溫度為788℃,析晶峰溫度為980℃,終止失透溫度1145℃。所以,試樣的失透溫度大概為788~1145℃。熱處理過后的結(jié)果如表32所示:表32 熱處理結(jié)果 溫度 情況含量03%6%9%12%850℃失透失透失透失透失透950℃——部分失透失透1000℃———失透失透1100℃———部分失透1200℃————失透1300℃————部分由表32可以看出, 當(dāng)溫度相同時,隨著ZnO含量的增加,玻璃失透越來越容易;當(dāng)ZnO含量相同時,隨著溫度的增加,玻璃失透越來越容易。所以可以得出結(jié)論:隨著ZnO含量的增加,玻璃失透的趨勢越來越明顯。 (a) (b) (c) (d) (a)、(b)玻璃未失透試樣 (c)、(d)玻璃失透試樣為了保證實驗的準(zhǔn)確性,將每組樣品分別測三次,然后再計算其平均值,測得T=17℃,此時查表可知= 經(jīng)過計算,得出各含量的平均密度如表33所示:表33 平均密度ZnO(mol/%)ρ/(gcm3)036912作出ZnO含量與密度的關(guān)系圖,: 不同ZnO含量時玻璃的密度。,隨著氧化鋅含量的增加,玻璃的密度逐漸增大。查閱資料發(fā)現(xiàn),能引起密度變化的原因有玻璃的化學(xué)組成、溫度、熱歷史,而影響該密度的主要原因是玻璃的化學(xué)組成。在一般硅酸鹽玻璃中,引入R2O和RO氧化物時,隨著它們的離子半徑的增大,玻璃的密度增加。半徑小的陽離子如Li+、Mg2+等可以填充于網(wǎng)絡(luò)間空隙,雖然使硅氧四面體[SiO4]的連接斷裂,但并不引起網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的擴大,因而使結(jié)構(gòu)“積聚”,密度增加。對一般硅酸鹽玻璃來說,常見氧化物對其密度提高的程度大致是PbO>BaO>ZnO>CaO>MgO
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