【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 陷評(píng)定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí) ， 應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí) 。 對(duì)各類(lèi)缺陷分別評(píng)定 級(jí)別 ， 取質(zhì)量級(jí)別最低的級(jí)別作為綜合評(píng)級(jí)的級(jí)別 ； 當(dāng)各類(lèi)缺陷的級(jí)別相同時(shí) ， 則 降低一級(jí)作為綜合評(píng)級(jí)的級(jí)別。 11. 檢測(cè)記錄、報(bào)告和資料存檔 記錄 評(píng)片記錄由 Ⅱ 級(jí)人員 按 “工藝卡 ”在 “評(píng)片原始記錄 ” 格式上填寫(xiě) ， 檢測(cè)部位圖由 Ⅱ 級(jí) 人員按實(shí)際焊縫位置繪制，復(fù)評(píng)由 Ⅱ 級(jí)以上人員進(jìn)行。 報(bào)告 按 “焊縫射線檢測(cè)報(bào)告 ” 的格式 ， 由 1I級(jí)人員出具 ， 經(jīng)無(wú)損檢測(cè)質(zhì)控人員審核 、 蓋章 。 資料存檔 完工后的檢測(cè)資料交資料室保管，至少保存 7年。 圖 ， 透照厚度比 K= 圖 ， 透 照厚度比 K= 超 聲 檢 測(cè) 一般要求 主題內(nèi)容以適用范圍 引用標(biāo)準(zhǔn) 檢測(cè)人員 儀器探頭 檢測(cè)的一般方法 校準(zhǔn)與復(fù)合 試塊 報(bào)告和存檔 承壓設(shè)備 鋼板超聲檢測(cè) 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè) 承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè) 鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè) 承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè) 鋼制承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè) 鋁及鋁合金制承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè) 承壓設(shè)備用無(wú)縫鋼管超聲波檢測(cè) 1 一般要求 主題內(nèi)容與適用范圍 本規(guī)程規(guī)定了檢測(cè)人員資格、儀器探頭試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)等。 本規(guī)程采用 A型脈沖反射式超聲儀器對(duì) 鋼板、鍛件、螺柱和焊縫進(jìn)行檢測(cè)。 本規(guī)程按 JB/T47302020編制，符合《容規(guī)》和 GB150的要求。 檢測(cè)工藝卡是規(guī)程的補(bǔ)充，由 Ⅱ 級(jí)人員按要求編制，其檢測(cè)參數(shù)規(guī)定的更具體。 引用標(biāo)準(zhǔn) JB／ T47302020 《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》 GB1502020 《鋼制壓力容器》 JB／ T79131995 《超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)萬(wàn)法》 JB／ T92141999 《 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工怍性能測(cè)試萬(wàn)法》 JB/T100611999 《 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用條件》 JB／ T100621999 《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》 JB/T100631999 《超聲探傷用 l號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件》 檢測(cè)人員 檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，按《特種設(shè)備 無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求，取得相應(yīng)的資格證書(shū)的人員擔(dān)任。檢測(cè)有 Ⅱ 級(jí)人員進(jìn)行， I級(jí)人員作檢測(cè)的輔助工作。 檢測(cè)人員應(yīng)每年一次體檢，其矯正視力不低于 5． 0。 儀器、探頭和試塊 探傷儀 現(xiàn)使用南通友聯(lián) PUXTV1儀器。 采用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為 ，儀器至少在熒光屏滿(mǎn)刻度的 80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具備有 80dB以上的連續(xù)可調(diào) 衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于 2dB，其精度為任意相鄰 12dB的誤差在177。 ldB以?xún)?nèi)，最 大累計(jì)誤差不超過(guò) ldB。水平線性誤差不大于 1%，垂直線性誤差不大于 5%。 探 頭 晶片面積一般不應(yīng)大于 500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于 25㎜。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng) 大于 2。主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。 超聲波探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能 到達(dá)所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于 lOdB。 儀器和直探頭組合 的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：利于頻率為 5MHz的探頭，寬度不大于 10mm；對(duì)于頻率為 ，寬度不大于 15mm。 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng) 分辨力應(yīng)不小于 30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于 6dB。 超聲波檢測(cè)一般方法 檢測(cè)準(zhǔn)備 承壓設(shè)備在制造、 安裝中，超聲檢測(cè)的時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo) 準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定執(zhí)行。 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺 和污物等都 應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得 影響檢測(cè)結(jié) 果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 掃查覆蓋率 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查 到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于 探頭直徑的 15%。 探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò) 150mm∕ s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。 掃查靈敏度 掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。 耦合劑 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水 等。 靈敏度補(bǔ)償 a)耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 b)衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的 檢測(cè)靈敏度下降和缺陷 定 量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 c)曲面補(bǔ)償。對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采取曲率半徑與工件相同或相近的試塊， 通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核 一般要求 系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束 垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面， 以 獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。 儀器校準(zhǔn) 每隔 3個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè) 定，測(cè)定方弦按JB/T10061的規(guī)定。 新購(gòu)探頭測(cè)定 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行 前沿距離 .K值、主聲束偏 離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定 使用儀器一斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、 K值和主聲束偏離 ，調(diào)節(jié)或 復(fù) 核掃描 量程和掃描靈敏度。 使用儀器一直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力 ，調(diào)節(jié) 或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核： a)校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)； b)檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化； c)連續(xù)工作 4h以上時(shí)： d)工作結(jié)束時(shí)。 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 a)每 次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一 點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò) 掃描線讀數(shù)的 10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢 測(cè)部 位進(jìn)行復(fù)檢。 b)每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距 離一波幅曲線的校核不應(yīng) 少于 3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn) 幅度下降 2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè) 部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升 2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi) 關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。 試塊 l 標(biāo)準(zhǔn)試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊 a)鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊： CBⅠ 、 CBⅡ ； b)鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊： CSⅠ 、 CSⅡ ； c)焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊： CSKⅠ A、 CSKⅡ A、 CSKⅢ A。 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性 能相同或近似的材料制成，該材料用直頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于 216。2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合要求，并經(jīng) 計(jì)量部門(mén)檢定合格。 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符臺(tái) JB/T10063和 JB/T7913的規(guī)定。 對(duì)比試塊 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表 被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相 對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng) 由其最大厚度確定。 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符臺(tái)本規(guī)程的規(guī)定。 報(bào)告和存檔 按“超聲波探傷”報(bào)告表樣由 Ⅱ 級(jí)人員填寫(xiě)， 經(jīng)無(wú)損檢測(cè)質(zhì)控人員審核。鍛件、鋼板 報(bào)告交委托人存檔，壓力容器焊縫檢測(cè)報(bào)告與容器資料一起交資料室存檔不少于7年。 2 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 范圍 本條適用于板厚為 650mm的碳素鋼 、 低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。奧氏體鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本條。 探頭的選用 探頭選用應(yīng)按表 l的規(guī)定進(jìn)行。 表 1 承壓設(shè)備 用板材超聲檢測(cè)探頭選用 板厚， mm 采用探頭 公稱(chēng)頻率， MHz 探頭晶片尺寸 620 雙晶直探頭 5 晶片面積不小 150mm2 2040 單晶直探頭 5 216。14mm216。20mm 4050 單晶直探頭 216。20mm216。25mm 標(biāo)準(zhǔn)試塊 用雙晶 直探頭檢測(cè)厚度不大于 20mm的鋼板時(shí)，采用如圖 1所示的 CB I標(biāo)準(zhǔn)試塊。 用單直探頭檢測(cè)厚度大于 20mm的鋼板時(shí) ， CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖 2和表 2的規(guī)定 。 試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。 表 2 CBⅡ 標(biāo) 準(zhǔn)試塊 試塊編號(hào) 被檢鋼板厚度 檢測(cè)面到平底孔的距離 s 試塊厚度 T CBⅡ 1 2040 15 ≥ 20 CBⅡ 2 4050 30 ≥ 40 基準(zhǔn)靈敏度 板厚不大于 20mm時(shí)，用 CBⅠ 試塊將工 件等厚部位第一次底渡高度調(diào)整到滿(mǎn)刻度的 50％．再提高 lOdB作為基準(zhǔn)靈敏度。 板厚大干 20mm時(shí)，應(yīng)將 CBⅡ 試塊 216。5平底孔第 一次反射渡高調(diào)整到滿(mǎn)刻度的50%作 為基準(zhǔn)靈敏度。 檢測(cè)方法 檢測(cè)面 可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè) 。 若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí) ， 也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn) 行檢測(cè)。 耦合方式 耦合方式可采用直接接觸法。 掃查方式 a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于 100mm的平行線進(jìn)行掃 查。在鋼板剖口 預(yù) 定線兩側(cè)各 50mm（當(dāng)板厚超過(guò) l00mm時(shí)．以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作 100%掃查 ，掃查示意圖見(jiàn)圖 3。 b)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。 缺陷的測(cè)定與記錄 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a)缺陷 第一次反射波 (Fl)波高大于或等于滿(mǎn)刻度的 50%，即 Fl≥ 50%。 b)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǜ?(B1)波高未達(dá)到滿(mǎn)刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波 (Fl)波高與底面第一次反射波 (B1)波高之比大于或等于 50%，即 Bl100%，而 Fl/Bl≥ 50%。 c)底面第一次反射波 (Bl)波高低于滿(mǎn)刻度的 50%，即 Bl 50%。 缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法 a)檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的范圍。 b)用雙晶直探頭 確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí) ， 探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿(mǎn)刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為 50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 ， 探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn) 。 兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 c)用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí) ， 移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波 高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件 下熒光屏滿(mǎn)刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高與底 面第一次反射波波高之比為 50%。 此時(shí) ， 探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 ， 探 頭中心即為的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較為嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 17 d)確定 c中缺陷的 邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭﹙單直探頭或雙晶直探 頭﹚使底面第一次反射波升高到熒光屏滿(mǎn)刻度的 50%。此時(shí)探頭中心 移動(dòng)距離即為 缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 e﹚當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng) 以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。 缺陷的評(píng)定方法 單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小