材料分析方法第三章多晶體x射線衍射分析方法(編輯修改稿)
2025-01-04 10:06 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的位置（ 2θ 角度）和強度，獲得衍射譜。 ?衍射譜的橫坐標為 2?；縱坐標 為衍射強度 。 ?探測器的掃描范圍可以從 20186。到 +165186。； 測角儀的聚焦幾何 ? 測角儀的衍射線的聚焦條件是根據(jù) 聚焦原理 設計的。 ? 根據(jù)聚焦原理： “ 同一圓周上的同弧圓周角相等”，當一束 X射線從 S照射到試樣表面 AOB上，它們的同一（ HKL）的衍射線的會聚點 F必落到同一聚焦圓上。這時圓周角∠ SAF=∠SOF=∠SBF= π 2θ 。 ? 設測角儀圓半徑為 R，聚焦圓半徑為 r，可以證明： ? r = R/2sinθ ? 探測器在運轉(zhuǎn)過程中，聚焦圓 半徑 時刻變化著。 當θ→ 0186。 ， r → ∞ ； θ→ 90186。 ， r → r min = R/2。 ? 因此， 衍射儀 采用平板試樣。目的 是 使試樣表面始終保持與聚焦圓相切，近似滿足聚焦條件。 測角儀的光路布置 ? 光路布置如圖。 ? 狹縫的寬度以度（ ?）來計量，有一系列的尺寸供選用。 ? 在測定時，可根據(jù)樣品的情況選擇各狹縫的寬度。 ? 狹縫寬度影響衍射峰形及強度！ 二、探測器與記錄系統(tǒng) ? 輻射 探測器 ? 輻射探測器 的作用：接收樣品衍射線（光子），并將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡姡ㄋ矔r脈沖）信號。 ? X射線衍射儀可用的輻射探測器有：正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器、 Si（ Li）半導體探測器等。 ? 其中常用的是正比計數(shù)器和閃爍計數(shù)器。 正比計數(shù)器 ? 正比計數(shù)器是利用 X射線光子使計數(shù)器內(nèi)惰性氣體電離，所形成的電子流在外電路中產(chǎn)生一個電脈沖。 ? 脈沖大小與入射 X射線光子能量成正比，可與脈沖高度分析器聯(lián)用。 閃爍計數(shù)器 ? 工作原理：利用 x射線能激發(fā)某些固體物質(zhì) (磷光體 )發(fā)射可見熒光，并通過光電倍增管轉(zhuǎn)換和放大為能夠測量的電流； ? 由于輸出的電流和 X光子的能量成正比，因此 也 可與脈沖高度分析器聯(lián)用，從而 用來測量衍射線的強度。 ? 閃爍計數(shù)器由磷光體及光電倍增管組成，其構造及探測原理如圖所示。 輻射測量電路 ? 將探測器接收的信號轉(zhuǎn)換成電信號并進行計量后輸出可讀取數(shù)據(jù)的電子電路部分。 ? 組成主要有： ? ① 脈沖高度分析器 ? ② 定標器 ? ③ 計數(shù)率器 三、實驗條件 ? 試樣 ? 衍射儀法試樣是
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