【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ，稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL) 及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來表示製程或品質(zhì)變異的容許範(fàn)圍或均勻性。管制圖可用來判斷品質(zhì)變異之顯著性，以測(cè)知製程是否在正常狀態(tài)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 38 Unimicron 管制圖基本原理 UCL LCL CL 時(shí)間軸 數(shù)據(jù)軸 管制圖與一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異趨勢(shì)，且能顯示變異是屬於機(jī)遇性或是非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而採取適當(dāng)之措施。管制圖同時(shí)可展示時(shí)間順序的資料。 World Class Quality CONFIDENTIAL 39 Unimicron 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 40 Unimicron 管制圖種類 ? 管制圖依蒐集數(shù)據(jù)的型態(tài)可分為： 1) 解析用管制圖 – 目的在於 研究製程能力 同時(shí) 解析製程以 進(jìn)行製程管制之準(zhǔn)備 。 2) 管制用管制圖 – 偵測(cè) 可歸屬原因 是否發(fā)生同時(shí) 追查 並迅速消除 此原因。 1) 計(jì)量值管制圖 (Variable Control Chart) 2) 計(jì)數(shù)值管制圖 (Attribute Control Chart) ? 依用途目的可分為： World Class Quality CONFIDENTIAL 41 Unimicron 管制圖繪製流程 決定管制特性 安定狀態(tài) ? 決定抽樣計(jì)劃 蒐集數(shù)據(jù) 並分析製程能力 繪製解析用管制圖 探討、並去除 可歸屬原因 NO 執(zhí)行管制用管制圖 YES World Class Quality CONFIDENTIAL 42 Unimicron 計(jì)量值管制圖的種類 ? 計(jì)量值管制圖依抽樣方式或數(shù)據(jù)特性的不同可分為： 1) 平均值與全距管制圖 (XR Chart) 2) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (XS Chart) 3) 中位值與全距管制圖 (XR Chart) 4) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (XRm Chart) _ _ ~ 以下將以平均值與全距管制圖為例，說明管制圖作業(yè)的詳細(xì)步驟： World Class Quality CONFIDENTIAL 43 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 平均值與全距管制圖作業(yè)細(xì)則 ? 適用情況： 平均值與全距管制圖適用於小樣本 ( n 10)的抽樣方式。而當(dāng)樣本大小超過 10時(shí)，則建議使用平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖。 ? 管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項(xiàng)目 – 在製程中選擇對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)特性有重要影響之要因或重要品質(zhì)特性作為管制項(xiàng)目。 World Class Quality CONFIDENTIAL 44 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 b. 蒐集數(shù)據(jù) – 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 120個(gè)以上，分析其製程表現(xiàn) (是否合乎規(guī)格 )，若製程表現(xiàn)指標(biāo) (Ppk)太差，應(yīng)重新調(diào)整製程條件以改善現(xiàn)況。 c. 決定樣本分組方式 – 在確認(rèn)製程表現(xiàn)合乎規(guī)格要求後，便開始設(shè)計(jì)如何抽取樣本數(shù)據(jù) (paneltopanel, lottolot, fixed time period…. ) 及樣本大小 (Sample Size)。 d. 蒐集並分析樣本組數(shù)據(jù) – 將分組的數(shù)據(jù)輸入系統(tǒng)，累積20~30組數(shù)據(jù)。在蒐集的過程中有異常的數(shù)據(jù)應(yīng)捨棄。 World Class Quality CONFIDENTIAL 45 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 e. 計(jì)算每組平均值 (X)及全距 (R) f. 計(jì)算總平均值 (X)及平均全距 (R)。 g. 計(jì)算平均值管制圖的中心線及上下管制界限 (查表法 ) _ _ CL = X UCL = X + A2R LCL = X A2R _ _ _ _ _ 註： A2之值請(qǐng)參照前述之係數(shù)表 _ World Class Quality CONFIDENTIAL 46 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 CL = R UCL = D4R LCL = D3R _ _ _ i. 點(diǎn)圖 – 將每組平均值點(diǎn)入平均值管制圖、每組全距點(diǎn)入全距管制圖。 j. 管制界限之探討 如所有之點(diǎn)全部在管制界限內(nèi)且係隨機(jī)散佈著，將可以用作建立製程管制用管制圖。 h. 計(jì)算全距管制圖的中心線及上下管制界限。 World Class Quality CONFIDENTIAL 47 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如有點(diǎn)超出管制界限 ,則應(yīng)調(diào)查原因，並加以消除。然後去除這些點(diǎn)之?dāng)?shù)據(jù) ,再用剩下來之?dāng)?shù)據(jù)，重新計(jì)算管制界限。 雖有點(diǎn)超出管制界限，但原因不明，或已查明原因，而無法消除時(shí)，這些點(diǎn)將無頇除去。 重新計(jì)算管制界限後，仍有點(diǎn)超出管制界限時(shí)，無頇除去。 World Class Quality CONFIDENTIAL 48 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 k. 繪製直方圖 – 將所有數(shù)據(jù)作成次數(shù)分配，如不呈常態(tài)分配，則宜應(yīng)用層別，合理分組等方法，檢討原數(shù)據(jù)，直到數(shù)據(jù)呈常態(tài)分配。 l. 與規(guī)格比較 如製程分佈範(fàn)圍在規(guī)格界限內(nèi)，且中心在規(guī)格中心附近，可認(rèn)為製程能力能滿足規(guī)格要求。在這種情況下，原有的管制界限則可以延長(zhǎng)使用。 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為窄，但中心離開規(guī)格中心且偏向一方，致使產(chǎn)品上限或下限超出規(guī)格界限，此時(shí)宜調(diào)整製程平均值，使與規(guī)格中心一致(或接近）後，方可延長(zhǎng)作為管制用管制圖之界限。 World Class Quality CONFIDENTIAL 49 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 如製程分佈範(fàn)圍比規(guī)格界限之寬度為寬時(shí)，表示製程能力不足。對(duì)原數(shù)據(jù)應(yīng)按原料別、機(jī)械別、時(shí)間別、操作人員別等加以層別，分別檢討其分配之情況，找出變異較大之處，應(yīng)用工程與技術(shù)知識(shí)加以改善。如果目前情況下，由於技術(shù)或經(jīng)濟(jì)之限制無法改善製程能力，則應(yīng)檢討規(guī)格界限是否可以放寬，以獲得較經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn)，如無法改善製程能力又無法改變規(guī)格時(shí)，則應(yīng)行全數(shù)檢查 (選剔 )。 如無規(guī)格界限時(shí)，可直接延長(zhǎng)使用，而由最後成品之品質(zhì)特性 (水準(zhǔn) )，是否能滿足成品規(guī)格來檢討。 World Class Quality CONFIDENTIAL 50 Unimicron 計(jì)量值管制圖作業(yè)步驟 2) 建立管制用管制圖 經(jīng)解析用管制圖對(duì)製程解析後，確定製程能力能滿足規(guī)格需求，且將來係按此種同樣條件繼續(xù)生產(chǎn)時(shí)，可以固定管制界限開始管制製程。建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號(hào)、批號(hào)、機(jī)臺(tái)別、班別、操作者等資料填入管制圖。 b. 持續(xù)蒐集數(shù)據(jù)並點(diǎn)圖 c. 管制界限之重新計(jì)算 – 管制工作持續(xù)一段時(shí)間以後，製程可能發(fā)生變化，此時(shí)再用原來之管制界限來判斷製程就不適合，應(yīng)該再蒐集資料，重新計(jì)算管制界限，以符合製程之現(xiàn)況。 World Class Quality CONFIDENTIAL 51 Unimicron 計(jì)量值管制圖實(shí)例 範(fàn)例：電鍍線的管制圖製作 依分組之資料計(jì)算出以下各項(xiàng)目值： 總平均值 X = 平均全距 R = _ _ _ _ _ _ UCL = X + A2R = + * = LCL = X A2R = * = 平均值管制圖的上下管制界限： 全距管制圖的上下管制界限： UCL = D4R = * = LCL = D3R = 0 * = 0 _ _ World Class Quality CONFIDENTIAL 52 Unimicron 計(jì)量值管制圖實(shí)例 World Class Quality CONFIDENTIAL 53 Unimicron 管制圖的檢定規(guī)則 (Test Rules for Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 54 Unimicron 管制圖的判讀 ? 管制圖判定基本法則：正常管制圖上的點(diǎn)，必頇符合「隨意分散」 (Random Fluctuation)與「常態(tài)分佈」 (Normal Distribution) 的原則，所以至少要滿足下面幾點(diǎn)要求： 1) 中心線上下的點(diǎn)數(shù)要大約相等 (各佔(zhàn) 40%~60%)。 2) 大部份的點(diǎn) (約 70%)集中在中心線，但不能所有的點(diǎn)都靠近中心線。 3) 僅有少數(shù)點(diǎn) (約 5%)靠近管制界限。 4) 任何連續(xù)多點(diǎn)不可形成向上或向下的「趨勢(shì)」 (Trend)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 55 Unimicron 管制圖的判讀 1) 最近一點(diǎn)落在管制界限外。 2) 在管制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)特殊圖樣 (Pattern)。 但是下列法則若有一成立，則判斷製程異常： 在統(tǒng)計(jì)製程管制中的「製程異常」指的是目前的製程