x射線衍射譜線的線形分析6注意事項及應(yīng)用實例(編輯修改稿)
2025-06-15 16:42 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 衍射幾何條件下分別測得幾何線形和總線形 。 B、 X射線衍射參量分析 ， 比如譜線峰位 、 譜線峰面積 、 譜線峰非對稱性 、 譜線峰半高寬 、 積分寬度 ， 整個線形 (profile)的柯西分量 、 高斯分量等 。 C、 晶體結(jié)構(gòu)參量精煉 ， 比如晶胞參數(shù) ， 晶面間距 ， 晶胞中原子坐標(biāo) ， 形變晶體中亞晶塊大小有 效值 ， 塊內(nèi)微觀應(yīng)變平均值 ， 位錯密度平均值 ， 位錯分布參量平均值 ， 抽出型 、 插入型和孿生型層錯幾率 ， 堆垛層錯能 ， 體彈性貯能密度平均值等 。 D、 晶體性能表征：例如基于積分強(qiáng)度作物相鑒定，基于應(yīng)變變化線形分析表征微觀應(yīng) 力。由于 X射線衍射方法直接測量的不是應(yīng)力而是應(yīng)變，常用應(yīng)變表達(dá)參量再乘以彈性常為后才可表征出應(yīng)力。 (3) 各種方法比較及其可靠性 線形分析有三種方法 ， 即近似函數(shù)法 、 傅氏分析法和方差法 。 要比較各種方法的優(yōu)缺點以及由它們所得到的晶體結(jié)構(gòu)類型和不完整性 (晶體缺陷 )參量數(shù)值大小和可靠性程度的估計是困難的 ， 因為各自處理方法和定義不同 。 但在經(jīng)過長期分析測試對比中也發(fā)現(xiàn)它們之間有某種對應(yīng)關(guān)系 。 堆垛層錯密度或幾率表示有堆垛層錯晶面占此方向上總晶面的百分?jǐn)?shù) ， 它又分為抽出型 、 插入型和孿生型三種 。 為了測定某一具有一定結(jié)構(gòu)不完整性的晶體衍射物理線形 ， 必須使用一定精度的幾何儀器在一定條件下進(jìn)行測量 ， 得到含有物理因素和幾何因素在內(nèi)的總衍射線形 ， 其中幾何線形可由認(rèn)為是無缺陷的完整晶體的標(biāo)準(zhǔn)
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