【文章內(nèi)容簡介】
結(jié): “統(tǒng)計學(xué)的長期貢獻(xiàn)與其說是因為在工業(yè)中引進(jìn)了許多經(jīng)過高級培訓(xùn)的統(tǒng)計學(xué)家,還不如說是由于創(chuàng)造了一代具有統(tǒng)計思想的物理學(xué)家、化學(xué)家、工程師及其他可以參與開發(fā)和指導(dǎo)明天的生產(chǎn)過程的杰出人士。” 6σ黑帶的知識大綱 美國質(zhì)量協(xié)會( ASQ) Ⅰ .全企業(yè)展開 (9 個問題 ) C C C C 、輸出和反饋 C C C /知識管理 C /6σ基礎(chǔ) C Ⅱ .業(yè)務(wù)過程管理 (9 個問題 ) AN AN AN AN AN K AP AN AP AN AN Ⅲ .項目管理 (15 個問題 ) /計劃要素 AN AP S AN AP AN AP AP AP AP AP AP AP AP AP AP Ⅳ .6σ改進(jìn)方法和工具 —— 界定 (9 個問題 ) S AN S Ⅴ .6σ改進(jìn)方法和工具 —— 測量 (30 個問題 ) AN E E E AP E E AN E C E C AP AP E AP E E E E E (非正態(tài)數(shù)據(jù)過程能力 ) AP AP Ⅵ .6σ改進(jìn)方法和工具 —— 分析 (23 個問題 ) AP 性回歸 E E AN E 、勢、第Ⅰ類和第Ⅱ類誤差 E AP AN 、方差和比例的檢驗 E E E ( ANOVA) E E AP Ⅶ .6σ改進(jìn)方法和工具 —— 改進(jìn) (20 個問題 ) ( DOE) C E AP E /下降試驗 AN AN ( EVOP) C E 和分析 E AN AN Ⅷ .6σ改進(jìn)方法和工具 —— 控制 (15 個問題 ) C AP 子組 AP AP AN AN C AP E Ⅸ .精益企業(yè)( 9 個問題) C C ( CFM) C AP C AP ( TPM) C Ⅹ .6σ的設(shè)計( 9 個問題) ( QFD) AN C AP AN AN ( FMEA) AN 設(shè)計( DFX) C K 注: I~ X 內(nèi)容后面括號內(nèi)的數(shù)目為考試題數(shù)量 除了指明內(nèi)容外,隱含的細(xì)節(jié)也指出該主題的測試問題的復(fù)雜水平。這些水平基于“認(rèn)知水平”(來自 Bloom的分類學(xué), 1956),并按照由易至難的順序表述。 K- Knowledge,知識:(一般需要識別,回憶,或者知識的硬背)能夠記住或識別術(shù)語、定義、事實、觀念、材料、模式、序列、方法、原則等。 C- Comprehension,理解:能閱讀并 了解描述、信息、報告、制表、圖表等。 AP- Application,應(yīng)用:在與工作相關(guān)的環(huán)境中能