【正文】 。spc SPC(Statistical Process Control) 統計制程管制 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數據并畫在圖上 控制 根據過程數據計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 管制圖類型 計量型數據 XR 均值和極差圖 計數型數據 P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart 不良數管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點數管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數管制圖 均值和極差圖（ XR） 收集數據 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產品，并周性期的抽取子組。 注： 應制定一個收集數據的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據。（ 注： 數據僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產出來的零件，即一個單一的生產流。對正在生產的產 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一 次等。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數據，以便調整。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應的。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。控制限是由子組的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內的變差的量來決定的。其系數值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實線。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 5 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當的措施。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應分析 R圖。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統已改變（包括數據編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現象之表明過程已改變或出現某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側； ? 連續(xù) 7點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設備工作不正常或固定松動 ） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 注 1： 當子組數（ n）變得更?。?5或更小）時，出現低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數據點的分布在整個控制限內，或子組內數據間有規(guī)律的關系等。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點落在離 R 很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一種或更多進行調查： c1 控制限或描點已計算錯描錯 。 c3 數據已經過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混