spc統(tǒng)計(jì)制程管制培訓(xùn)課件(參考版)
2025-02-22 14:48本頁面
【正文】 ≤Cpk≤,說明制程能力正常 。 43 評(píng)價(jià)過程能力 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 ， 不可接受 。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計(jì)超出規(guī)范的百分比 ：（ PZ ） a 對(duì)于單邊容差，直接使用 Z值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，換算成 百分比。 Zlsl } Zmin 也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk: Cpk= Zmin / 3 =CPU(即 ) 或 CPL(即 ) 的最小值 。 421 對(duì)于單邊容差，計(jì)算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個(gè)） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量的過程均值， σ? =估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 。 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LCL 規(guī)范上限 UCL 范圍 LCL UCL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LCL LCL UCL UCL 范圍 范圍 標(biāo)準(zhǔn)偏差與極差的關(guān)系（對(duì)于給定的樣本容量 ,平均極差 R越大 ,標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? 越大） X σ? 范圍 范圍 X σ? σ? X 范圍 R R R 41 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ? σ? = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注： 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評(píng)價(jià)過程能力。方法如下： b 1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計(jì)算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2，計(jì)算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 過程能力分析管制圖判讀 過程能力分析 5 管制圖抽樣的基本原則 區(qū)分 重要呎寸 次要呎寸 製程能力指數(shù) 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 以下 檢驗(yàn) 全檢 檢驗(yàn) 全檢 ~ 管制圖 高 管制圖 中 ~ 管制圖 查檢表 中 高 查檢表 中 ~ 管制圖 查檢表 低 中 查檢表 低 大於 視情形需要 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 1 ? 判斷失控的規(guī)則 – 樣本點(diǎn)落在管制界限之外 – 連續(xù) 9點(diǎn)在 同側(cè)的 C區(qū)或 C區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 2 – 連續(xù) 6點(diǎn)以上持續(xù)地上升或下降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 3 – 連續(xù) 11點(diǎn)交互一升一降 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 4 – 相連 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)在同側(cè)的 A區(qū)或 A區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 5 – 相連 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)在同側(cè)的 B區(qū)或 B區(qū)之外 A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 連續(xù) 15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)的 C區(qū) A B C C B A UCL LCL CL 過程能力分析管制圖判讀 管制圖判讀 6 – 有 8點(diǎn)在中心線之兩側(cè)，但 C區(qū)並無點(diǎn)子 A B C C B A UCL LCL
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