【正文】 日 生產(chǎn)卷數(shù) 缺點(diǎn)總數(shù) 日 生產(chǎn)卷數(shù) 缺點(diǎn)總數(shù) 1 18 12 11 18 18 2 18 14 12 18 14 3 24 20 13 18 9 4 22 18 14 20 10 5 22 15 15 20 14 6 22 12 16 20 13 7 20 11 17 24 16 8 20 15 18 24 18 9 20 12 19 22 20 10 20 10 20 21 17 43 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。由于人力短缺 ,所以收集的樣本數(shù)會(huì)變動(dòng) ,但每次移動(dòng)的樣本數(shù)都需收集。 = nuu3?uLCLuUCLukknnncccu...........2121?????41 計(jì)數(shù)型控制圖 :單位產(chǎn)品不合格數(shù) 計(jì)算控制限 :不合格數(shù)的平均值 描控制限 過程控制解釋 (參照 P圖 ) 過程能力解釋 (參照 P圖 ) 過程能力 ,即每報(bào)告單元的不合格數(shù)的均值。 25次檢驗(yàn)后建立 C管制圖 ,如表中為這 25組樣本 ,一張 C管制圖上所有的缺陷數(shù)都能被解釋原因。 P36 ?收集數(shù)據(jù) (可參照 P圖 P16) O樣本的容量必需相同 O分組周期應(yīng)按生產(chǎn)間隔或反饋系統(tǒng)而定 ?計(jì)算控制制 (參照 P圖 P16) 不同之處為 np 上下控制限 UCLnp LCLnp ?過程控制解釋 (參照 P圖 P17) ?過程能力解釋 (參照 P圖 P17) :不合格數(shù) 一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格的數(shù)量 ,主要應(yīng)用于下列檢驗(yàn) O不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 ,以及可以用不合格的平均率表示的地方 O在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中 ,可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格。 與ｐ圖不同 O不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告 O各階段子組的樣本容量同時(shí) ??35 計(jì)算過程能力 從實(shí)例可得： ＝ 目前的過程能力是：功能檢驗(yàn)的失效為 312% (%合格） 評(píng)價(jià)過程能力 如果進(jìn)行 100%的功能檢驗(yàn)并已選出不合格的產(chǎn)品，顧客是得到免受不合格產(chǎn)品的保護(hù)。 O計(jì)算過程能力 通過過程平均不合格品率 來表示，如需要，還可以用符合規(guī) 范的比率（１－ ）來表示。 收據(jù)數(shù)據(jù) 只有每組的 和ｓ出現(xiàn) 計(jì)算控制限 過程控制解釋 (同 P9) 過程能力解釋 (同 P10) ○估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn) Sx?X 1 )(2??? ?nXXS iSBUC L S 4? SLCL S 3 SAXLCL X 3??UC L 3?4/? CS??30 中位數(shù)圖 ● 優(yōu)點(diǎn)： ○ 易于使用并不要求很多計(jì)算 ○ 描出單值的點(diǎn)，可顯示過程輸出的分布寬度，及變差趨勢(shì) ○ 可對(duì)同一過程不同階段的輸出進(jìn)行比較 ● 缺點(diǎn)： ○ 統(tǒng)計(jì)意義上不如均值理想 ● 收集數(shù)據(jù) ○ 子組樣本容量小于或等于１０，若是偶數(shù)則取中間兩個(gè) 數(shù)的均值。 2均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) ○ 如果均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ,其變差便與極差圖中的變差有關(guān) ○如果均值沒能受控 ,則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差 21超出控制限的點(diǎn) 為特殊原因 ,需立即對(duì)操作進(jìn)行分析。 連績(jī) 7點(diǎn)上升或下降。 找出存在特殊原因信號(hào) ,并進(jìn)行調(diào)查。 ○更高的有效能力 ○為討論過程的性能提供共同的語言 22 25 計(jì)量型控制圖 1. R圖均值和極差圖 ◎ 使用控制圖的準(zhǔn)備 ○適用于實(shí)施的環(huán)境 ○定義過程 ○確定待管理的特性 ○確定量測(cè)系統(tǒng) ○使不必要的變差最小 ◎ 收集數(shù)據(jù) 1. ○ 子組大小 ○ 子組頻率 ○ 子組數(shù)的大小 和極差 ◎ 計(jì)算控制限 , 及過程均值 XnxxxX n???? ....21KRRRR k???? ....21Kxxxx k???? ....21最小 值最大 值 XX ?)(X)(R)(X)(R26 –R圖 。 CaTxKTKC PK ??????2,6)1( ??????3)(3)())(),(()()1(LSLLCpkUSLuCpkLCpkUCpkMinCpkCpCaCpk???????﹐或變邊規(guī)格??x規(guī)格下限 規(guī)格上限 超過管制 界限的機(jī)率 x?圖 66 Cpk值之意義圖解 母體均數(shù) 24 統(tǒng)計(jì)過程概述 ７ .控制圖 過程控制工具可控制和不可控制的變差 ８ .控制圖的益處 ◎ 控制圖的功能 ○數(shù)據(jù)的收集 ○控制限 :利用數(shù)據(jù)計(jì)算試驗(yàn)控制限 ○分析及改進(jìn) ● 管理措施 ● 對(duì)于調(diào)整過程的變差 ,應(yīng)在顧客滿意和經(jīng)濟(jì)性 兩方面進(jìn)行權(quán)衡 ○更高的質(zhì)量。所以制程能力指數(shù) Cpk就是將 Ca值 與 Cp值綜合起來 ,評(píng)定其等級(jí) ,從上述公式中 ,我們可以發(fā)現(xiàn)若 Ca = 0時(shí) ﹐ 則 Cpk= (Cpk(U)﹐ Cpk(L))中取較小值 ﹐乃是取容差較小的一邊 ﹔ 也就是制程不良較多的一邊。精確度良好 ,態(tài)太大變異 ,但制程中心不良 ,則不良率也會(huì)提高 ,如圖 66中 .x偏 LSL(規(guī)格下限 )﹐ 且變異也大。88523????? ? )%(5%10010:)%(10%10010850849:)%(20%10010850852:10220840860級(jí)三月級(jí)二月級(jí)元月ACaBCaCCaTTLSLUSL????????????????????22 等級(jí) Cpk 推定不良率 A Cpk P B Cpk P C Cpk 1 86 P 1350 D Cpk 1350P ??C B A 230 240 250 255 260 270 ◎ 過程能力指數(shù) CPk ◎ 過程平均值與規(guī)格中心值其分散寬度與偏離程序 ◎ CPk值愈大表示過程能力愈強(qiáng) .綜合過程能力指數(shù) CPk=Cp(1Ca) CpkA=()= CpkB=()=