【正文】 143 ETBEST Consulting CompanyCase study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 2 1 1 3 3 2 1 2 2 1“c” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 3 2 1 4 1 2 1 2 3 1“c” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 1 2 4 1 2“c” 0 1 2 0 1144 ETBEST Consulting Company謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/nn 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 “u”圖和 “c”圖適用於相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多於一個(gè) “單位產(chǎn)品 ”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用 “u”圖，並且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用 “u”圖。138 ETBEST Consulting CompanyCase studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 c控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？139 ETBEST Consulting Company單位產(chǎn)品缺陷數(shù)的 u圖n “u”圖用來(lái)測(cè)量具有容量不同的樣本 (受檢材料的量不同 )的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。n 主要不同之處如下：134 ETBEST Consulting CompanyA收集數(shù)據(jù)n 檢驗(yàn)樣本的容量 (零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長(zhǎng)度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n)， 在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù) (c)135 ETBEST Consulting CompanyB計(jì)算控制限136 ETBEST Consulting Company過(guò)程控制解釋、過(guò)程能力解釋n 過(guò)程控制解釋n 同 p圖解釋n 過(guò)程能力解釋n 過(guò)程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數(shù)平均值。n D過(guò)程能力解釋：過(guò)程能力如下：130 ETBEST Consulting Company100 100 100 100 100 100 100 100 100 1001 2 1 0 1 2 1 2 0 2不合格品數(shù) np圖131 ETBEST Consulting CompanyCase study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 150 150 150 150 150“d” 0 1 2 0 1132 ETBEST Consulting CompanyCase studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 np控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？133 ETBEST Consulting Company缺陷數(shù) c圖n “c”圖內(nèi)來(lái)測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量， c圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恆定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：n 不合格分佈在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如每匹維尼龍上的瑕疪，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) )，以及可以用不合格的平均比率表示的地方 (如每 100平方米維尼龍上暇疵 )。n 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) (np)。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。n 各階段子組的樣本容量相同。124 ETBEST Consulting CompanyCase study組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10“n” 100 150 100 200 150 100 100 200 150 100“d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20“n” 150 200 100 150 100 100 150 200 200 150“d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0組 21 22 23 24 25“n” 100 150 200 150 100“d” 0 1 2 0 1125 ETBEST Consulting CompanyCase studyn 請(qǐng)計(jì)算出上表的 p控制圖的控制限？n 請(qǐng)判定過(guò)程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？126 ETBEST Consulting Company不合格品數(shù) np圖n “np”圖是肉來(lái)度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。n 在過(guò)程改變期間出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別並糾正後，過(guò)程將按一個(gè)新的過(guò)程均值處?kù)督y(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。n 對(duì)過(guò)程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。n 可以使用諸如排列圖分析法及因果分析圖等解決問(wèn)題技術(shù)。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接採(cǎi)取管理措施，否則過(guò)程能力不可能得到改進(jìn)。121 ETBEST Consulting Company評(píng)價(jià)過(guò)程能力過(guò)程穩(wěn)定，不良率維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率採(cǎi)取管理上的措施降低偶因，如此才能縮小控制界限，降低不良率縮小控制限122 ETBEST Consulting Company改善過(guò)程能力n 過(guò)程一旦表現(xiàn)出處?kù)督y(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過(guò)程所保持的不合格平均水平即反應(yīng)了該系統(tǒng)的變差原因─ 過(guò)程能力。n 當(dāng)正式研究過(guò)程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。如需要，還可以用符合規(guī)範(fàn)的比例 (1p)來(lái)表示。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來(lái)的數(shù)據(jù)收集記錄了後，就對(duì)照它來(lái)評(píng)價(jià)。115 ETBEST Consulting Company控制圖的即時(shí)性process TIMEREAL TIME 116 ETBEST Consulting Company重新計(jì)算控制限n 當(dāng)進(jìn)行初始過(guò)程研究或?qū)^(guò)程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限，以更排除某些控制時(shí)期的影響，這些時(shí)期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。由於特殊原因是通過(guò)控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)操作進(jìn)行分析，並且希望操作者或現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因並糾正。114 ETBEST Consulting Company尋找並糾正特殊原因n 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)現(xiàn)了失控的情況時(shí)，則必須研究操作過(guò)程以便確定其原因。n 控制限用水平虛線：一般為紅色虛線。n 記錄過(guò)程的變化或者可能影響過(guò)程的異常狀況，當(dāng)這些情況被發(fā)現(xiàn)時(shí)，將它們記錄在控制圖的 “備註 ”部份。劃圖區(qū)域107 ETBEST Consulting CompanyA4將不合格品率描繪在控制圖上n 描繪每個(gè)子組的 p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助於發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。105 ETBEST Consulting CompanyA2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率n 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值n 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─nn 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─npn 通過(guò)這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率106 ETBEST Consulting CompanyA3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度n 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)。n 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的週期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。但是這需要注意，如果過(guò)程分布不是對(duì)稱，用前面所述的用於 X圖的規(guī)則來(lái)解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因的信號(hào)98 ETBEST Consulting Companyn 估計(jì)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差：n 式中， R為移動(dòng)極差的均值， d2是用於對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量 n而變化的常數(shù)。由於這個(gè)原因，在解釋趨勢(shì)時(shí)要特別注意。96 ETBEST Consulting CompanynB計(jì)算控制限97 ETBEST Consulting Companyn C過(guò)程控制解釋n 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。通常最好是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值 (例如第一和第二個(gè)讀數(shù)點(diǎn)的差，第二和第三讀數(shù)間的差等 )。n 由於每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。n 如果過(guò)程的分布不是對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。n 最差情形，可以允許製程中心，偏差 177。n Can Cpn Cpkn Ppn Ppk74 ETBEST Consulting Company75 ETBEST Consulting Company76 ETBEST Consulting Company何時(shí)應(yīng)用 Cmk指數(shù)n 新機(jī)器