spc統(tǒng)計(jì)制程管制培訓(xùn)課件(編輯修改稿)
2025-03-10 14:48 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測(cè)量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗(yàn)員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說(shuō)明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過(guò)程的極差（有超過(guò)控制限的點(diǎn)） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過(guò)程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過(guò)程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無(wú)規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng) ） 或是由于過(guò)程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問(wèn)題都是常見(jiàn)的問(wèn)題 ， 需要糾正 。 a2 測(cè)量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 b2 測(cè)量系統(tǒng)的改好。 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n）變得更?。?5或更小）時(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過(guò)程變差減小。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸 到鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過(guò)程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過(guò)程的極差（存在長(zhǎng)的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 一般情況，各點(diǎn)與 R 的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過(guò) 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 。 c2 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過(guò)程均值的過(guò)程流的測(cè)量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來(lái)測(cè)取數(shù)據(jù)）。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對(duì)于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 d2 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有 明顯不同的變化性的過(guò)程流的測(cè)量值（如：輸入材料批次混 淆）。 注： 如果存在幾個(gè)過(guò)程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過(guò)程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時(shí)分析問(wèn)題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開(kāi) 始分析過(guò)程原因。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過(guò)程研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，失控的原因已 被識(shí)別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識(shí)別并解決或固定下來(lái)的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下來(lái)， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。并且一定要改變過(guò)程，以使特殊原因不會(huì)作為過(guò)程的一部分重現(xiàn)。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 341 超出控制限的點(diǎn)： a 一點(diǎn)超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) a2 過(guò)程已更改，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢(shì)的一部分。 a3 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過(guò)程的均值（有一點(diǎn)超過(guò)控制限） 受控制的過(guò)程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過(guò)程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)：
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