spc統(tǒng)計(jì)制程管制教材(編輯修改稿)
2025-03-10 01:22 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 增大，反之 ,則 α增大而 β減小。177。3σ 177。4σ177。2σαβ? 因此 ,只能根據(jù)這兩類(lèi)錯(cuò)誤造成的總損失最小來(lái)確定上下控制界限。? 在此原則下 α 與 β 總和的最低點(diǎn)恰落於 177。3σ 處 ，故以平均值加減三倍標(biāo)準(zhǔn)差為管制界限。 三倍標(biāo)準(zhǔn)差的由來(lái)三倍標(biāo)準(zhǔn)差的由來(lái) （（ 3））計(jì)量值計(jì)量值 管制圖與製程能力分析管制圖與製程能力分析數(shù)據(jù)計(jì)量值數(shù)據(jù)n = 1n 10n ? 10計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)不良數(shù)缺點(diǎn)數(shù) I – MR(個(gè)別值與移動(dòng)全距 )X – R(平均值與全距 )X – S(平均值與標(biāo)準(zhǔn)差 )NP(不良數(shù)管制圖 )C(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 )單位一定P(不良率管制圖 )U(單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 )單位不定n不定n一定計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 1：： XbarR(1)XbarR管制圖之繪製Step1： 收集數(shù)據(jù)216。以下為 PHO區(qū)膜厚量測(cè)值，試?yán)?SPC管制圖加以管制 計(jì)算各組平均值 Xi , i =1,…, k 計(jì)算各組全 距 Ri ,i = 1, …, k 總平均 X : 全距平均值 R： XbarR管制圖之繪製Step2： 計(jì)算平均值 全距 ﹝ 各組 ﹞Step3： 計(jì)算平均值 全距 ﹝ 總?cè)后w ﹞計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 1：： XbarR(2) 管制圖：R管制圖：XbarR 管制圖之繪製Step4： 計(jì)算管制上下限計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 1：： XbarR(3)Step5： Minitab軟體繪製範(fàn)例 先判定 R ChartR Chart 於 CL內(nèi)再判定 x bar chart計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 1：： XbarR(4)Step2： Minitab軟體繪製範(fàn)例 XbarS管制圖之繪製Step1：繪製步驟同 XbarR管制圖計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 2：： XbarS(1)216。 以下為 CELL GAP量測(cè)值，試?yán)?XbarS管制圖加以管制計(jì)量值管制圖計(jì)量值管制圖 2：： XbarS(2)Step2： Minitab軟體繪製範(fàn)例 Step1：繪製步驟同 XbarR管制
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