spc統(tǒng)計(jì)制程管制培訓(xùn)教材(編輯修改稿)
2024-10-24 22:18 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 1 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大?。阂话銥?件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具/沖頭/過(guò)程流等。（注：數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來(lái)的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。）,112 子組頻率：在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班/操作人員更換/材料批次不同等原因引起。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班2次，或一小時(shí)一次等。 113 子組數(shù)：子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一般為25組，首次使 用管制圖選用35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù),1計(jì)算每個(gè)子組的均值（X）和極差R 對(duì)每個(gè)子組計(jì)算： X=（X1+X2+…+Xn）/ n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測(cè)量值。 42 刻度選擇 ：,對(duì)于X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（X）的最大值與最小值的差的2倍，對(duì)于R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（R）的2倍。 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否合理，有無(wú)很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的X 和R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。 注：對(duì)于還沒(méi)有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。,2 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。 21 計(jì)算平均極差（R）及過(guò)程均值（X） （K表示子組數(shù)量） R=（R1+R2+…+Rk）/ k X =（X1+X2+…+Xk）/ k,22 計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來(lái)決定的 計(jì)算公式： UCLx=X + A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R,23 計(jì)算過(guò)程能力 Cpk= Min[(UsX),(XLs)]/(3*δw) δw=R / d2 (δw稱為過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差） 24 計(jì)算短期能力指數(shù) Ppk= Min[(UsX),(XLs)]/(3*δo) δo= √
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