spc的起源和發(fā)展培訓(xùn)課件-展示頁(yè)
2025-02-26 14:43本頁(yè)面
【正文】 SPC參考手冊(cè)為例） a:超出控制界限的 點(diǎn) ： 出 現(xiàn) 一 個(gè) 或多 個(gè)點(diǎn) 超出任何一 個(gè) 控制界限是過程處于 失控 狀態(tài) 的主要 證據(jù)。 控制圖如何區(qū)分普通原因與特殊原因？ 由于Σ = Σ R=357，參見上表，所以得出：R= 控制上限 UCL=D4 R == 中心限 CL= R = 控制下限 LCL=D3 R =0 D D3查下表 36373）計(jì)算 X控制圖的中心值、上下界限值 控制上限： UCL=X+A2R=+ = 中心限： CL=X= 控制下限： LCL=XA2 R = = 384） R、 X控制圖描點(diǎn)對(duì)照數(shù)據(jù)表中的 25個(gè) R、 X值分別在 R、 X控制圖上描點(diǎn)，并連成折線。又由于是大量生產(chǎn)，不難取得數(shù)據(jù)，所以決定選用靈敏度高的 XR控制圖。 R= Xmax Xmin級(jí)差的意義與局限性！28五、反映波動(dòng)的變量標(biāo)準(zhǔn)偏差 S甲隊(duì)： 17 17 17 17 17 176乙隊(duì)： 17 17 17 17 17 176兩組身高，誰入選國(guó)家依仗隊(duì)？為什么？ 兩隊(duì)平均值 X、 R雖相同，但標(biāo)準(zhǔn)偏差 S能說明問題 S甲 = S乙 =29五、反映波動(dòng)的變量標(biāo)準(zhǔn)偏差 S30五、反映波動(dòng)的變量總體與樣本樣本總體31六、常用控制圖 XR圖的繪制32 XR圖的繪制某汽車配件廠為了提高品品質(zhì)，應(yīng)用 柏拉圖 分析成品不合格的各種原因，結(jié)果發(fā)現(xiàn)扭矩不良占第一位，品管部決定使用控制圖對(duì)扭矩進(jìn)行控制。24222018161412108642四、如何識(shí)別普通原因與特殊原因凡過程處于非受控狀態(tài)（即異常狀態(tài)），其變差對(duì)應(yīng)的原因，就是 特殊原因 ?？刂茍D可以運(yùn)用到任何領(lǐng)域，遠(yuǎn)不只限于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)控制?？刂茍D的意義主要就是區(qū)分普通原因和特殊原因。23四、如何識(shí)別普通原因與特殊原因一個(gè)游戲的啟示D:\培訓(xùn) \五大手冊(cè)教材 \SPC\nP控制圖模板(紅珠實(shí)驗(yàn) ).xls啟示：波動(dòng)是不可避免的。 如設(shè)備故障，原材料不合格，沒有資格的操作工……特殊原因 由基層承擔(dān)責(zé)任。 休哈特將上述原因分為兩類：普通原因 由領(lǐng)導(dǎo)層承擔(dān)責(zé)任。20三、波動(dòng)（變差）的原因波 動(dòng) 原因人機(jī)器材料方法測(cè)量環(huán)境21三、波動(dòng)（變差）的原因 普通原因 ： 指的是造成 隨著時(shí)間推移 具有穩(wěn) 定的且可重 復(fù) 的分布 過 程中的 許 多 變 差的原因，我 們稱之為 ： “處于統(tǒng)計(jì) 控制 狀態(tài) ”、“受 統(tǒng)計(jì) 控制 ”，或有 時(shí)間稱 “受控 ”，普通原因表 現(xiàn)為 一 個(gè)穩(wěn) 定系統(tǒng)的偶然原因。公差制度實(shí)際上就是對(duì)這個(gè)事實(shí)的客觀承認(rèn)。生產(chǎn)實(shí)踐證明，無論用多么精密的設(shè)備和工具，多么高超的操作技術(shù)，甚至由同一操作工，在同一設(shè)備上，用相同的工具，生產(chǎn)相同材料的同種產(chǎn)品，其加工后的質(zhì)量特性（如： 重量、尺寸等 ）總是有差異，這種差異稱為 波動(dòng) 。身高體重工資壽命命運(yùn)19二、波動(dòng)（變差）的概念DuringControlMethodControlanalyzingMethodControlQualityGuideofManufactureofShewhart1931發(fā) 表1931年 Shewhart發(fā) 表了“Economic因其用法 簡(jiǎn)單且效果 顯 著，人人能用，到 處 可用，遂成 為實(shí)施品 質(zhì) 管制不可缺少的主要工具 。3）品質(zhì)實(shí)在太差，未經(jīng)過全檢的數(shù)據(jù)。 不規(guī)則型 1）純粹是不太熟悉直方圖的人員做的假數(shù)據(jù)。 13基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定雙峰型 1）有兩個(gè)不同的組合，如兩部機(jī)器或兩家不同的供應(yīng)商。2）經(jīng)過全檢挑選的數(shù)據(jù)。3）機(jī)臺(tái)設(shè)備在過程中出現(xiàn)特殊原因，產(chǎn)生了變異。 不是正態(tài)分布，不服從統(tǒng)計(jì)規(guī)律 12基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定 偏態(tài)型 1）習(xí)慣作業(yè)造成作業(yè)方法不對(duì)。3）次數(shù)分配不當(dāng)，如作圖時(shí)分組太多。USL10基礎(chǔ) 直方圖D:\培訓(xùn) \五大手冊(cè)教材 \SPC\直方圖計(jì)算().xls11基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定 正常型 正態(tài)分布，服從統(tǒng)計(jì)規(guī)律，過程正常 缺齒形 1）有經(jīng)驗(yàn)的人員故意做的假數(shù)據(jù)。SL6基礎(chǔ) 直方圖⑤ 計(jì)算組距（ h）h=R/10=≈ ，取 ；⑥ 求出各組的上、下限值第一組下限值 －測(cè)量最小單位/2=－ 第二組下限值（第一組上限值）=+= 7基礎(chǔ) 直方圖⑦ 計(jì)算中心值組中心值 =（組上限值 +組下限值） /2 第一組中心值 =（ +）/2=（以此類推） 8基礎(chǔ) 直方圖⑧ 制作頻數(shù)表（如下表）：9基礎(chǔ) 直方圖⑨ 按頻數(shù)表面畫出直方圖（如下圖） LSL小數(shù)點(diǎn) 2位時(shí)，測(cè)量最小單位為 ，如果數(shù)據(jù)為 ，那么它的測(cè)量最小單位為 。 5基礎(chǔ) 直方圖④ 確定測(cè)量最小單位（按小數(shù)點(diǎn)的位數(shù)來決定）整數(shù)位測(cè)量最小單位為 1，如果數(shù)據(jù)是 50或 100時(shí)，那么它的測(cè)量最小單位為 1。55分 0分 1楊振洪工作室13995589312S P C(Statistical Process Control)2基礎(chǔ) 直方圖思考重慶市高考的成績(jī)有什么規(guī)律？20 55 90100分3基礎(chǔ) 直方圖直方圖（頻數(shù)分布圖）的制作步驟 ① 收集數(shù)據(jù)（見下表，單位 mm） 4基礎(chǔ) 直方圖② 算出極差Xmax= Xmin= R=XmaxXmin==③ 設(shè)定組數(shù)在這里我們選定 10組，每組 10個(gè)數(shù)據(jù)。小數(shù)點(diǎn) 1位時(shí)，測(cè)量最小單位為 ，如果數(shù)據(jù)為 ，那么它的測(cè)量最小單位為 。本組數(shù)據(jù)有 1位小數(shù)點(diǎn)，所以本組的測(cè)量最小單位為 。2）測(cè)量?jī)x器精確度不夠，而要求的精確度較高，檢驗(yàn)員只好進(jìn)行估計(jì)。 4）較多特性差異的數(shù)據(jù)混雜在一起。2）工具、檢具、模具已經(jīng)磨損或松動(dòng)。 高原型 1）人為做的假數(shù)據(jù)。3）測(cè)量?jī)x器精確度不夠。2）在過程中有變異產(chǎn)生，而作了較大調(diào)整。2）數(shù)據(jù)太多或太少。 14基礎(chǔ) 直方圖 直方圖的常見形態(tài)與判定離島型 原因？ 15統(tǒng)計(jì)過程控制(Statistical Process Control) S P C16一、 SPC的起源和發(fā)展 控制 圖 的 起源 控制 圖 是 1924年由美 國(guó) 品管大 師 . Shewhart（休哈特） 博士 發(fā) 明。1719
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