x射線光電子能譜分析-展示頁
2025-05-22 16:46本頁面
【正文】 金屬鋁低結(jié)合能端 的放大譜 (精細結(jié)構(gòu) ) 相鄰的肩峰則分 別對應(yīng)于 Al2O3中 鋁的 2s和 2p軌道 的電子 化學(xué)位移 由于化合物結(jié)構(gòu)的變化和元素氧化狀態(tài)的變化引起譜峰有規(guī)律的位移稱為化學(xué)位移 化合物聚對苯二甲酸乙二酯中三種完全不同的碳原子和兩種不同氧原子 1s譜峰的化學(xué)位移 化學(xué)位移現(xiàn)象起因及規(guī)律 內(nèi)層電子一方面受到原子核強烈的庫侖作用而具有一定的結(jié)合能，另一方面又受到外層電子的屏蔽作用。 在實驗時樣品表面受輻照損傷小，能檢測周期表中除 H 和 He 以外所有的元素，并具有很高的絕對靈敏度。 X射線光電子能譜（ XPS） 由于各種原子軌道中電子的結(jié)合能是一定的，因此 XPS 可用來測定固體表面的化學(xué)成分 ,一般又稱為化學(xué)分析光電子能譜法（ Electron Spectroscopy for Chemical Analysis，簡稱 ESCA）。因此對分析分子的電子結(jié)構(gòu)是非常有用的一種技術(shù)。 與原來未配對電子的自旋相互作用可出現(xiàn)平行和反平行二種情況 ， 從而有二種不同能量狀態(tài) ， 并使光電子能量也不同 ，引起譜線的分裂 。39。 )]0()([ 39。 譜圖特征 苯在 Ni(111)上的 UPS譜 橫坐標(biāo)為分子的電離能 In 或 光電子動能 nn IhvE ??紫外光電子譜圖的形狀取決于電離后離子的狀態(tài)。 紫外光電子能譜 (UPS) 紫外光電子譜是利用能量在 的真空紫外光子照射被測樣品 ， 測量由此引起的光電子能量分布的一種譜學(xué)方法 。 光電子或俄歇電子 ， 在逸出的路徑上自由程很短 ， 實際能探測的信息深度只有表面幾個至十幾個原子層 ，光電子能譜通常用來作為表面分析的方法 。 與 X射線相比能量較低，只能使原子的價電子 電離，用于研究價電子和能帶結(jié)構(gòu)的特征。各種元素內(nèi)層電子的結(jié)合能是有特征性的 ， 因此可以用來鑒別化學(xué)元素。spkb EhvE ????39。 bE???? bk EEhv 功函數(shù) ???? bk EEhv功函數(shù) 為防止樣品上正電荷積累，固體樣品必須保持和譜儀的良好電接觸，兩者費米能級一致。 對固體樣品，必須考慮晶體勢場和表面勢場對光電子的束縛作用，通常選取 費米 (Fermi)能級為 的參考點。第八章 電子能譜 根據(jù)激發(fā)源的不同 ， 電子能譜又分為 : X射線光電子能譜 (簡稱 XPS) (XRay Photoelectron Spectrometer) 紫外光電子能譜 (簡稱 UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇電子能譜 (簡稱 AES) (Auger Electron Spectrometer) 167。 電子能譜的基本原理 能量關(guān)系可表示： rkb EEEhv ???原子的反沖能量 ? ?E M mr a? ?12 2? *忽略 (）得 rEbk EEhv ??電子結(jié)合能 電子動能 基本原理就是光電效應(yīng) 。 bE0k時固體能帶中充 滿電子的最
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