x射線(xiàn)光電子能譜分析-全文預(yù)覽
【正文】 04Pa 60s 元素態(tài)硼主要在 180eV處有一個(gè)強(qiáng)峰 氧化態(tài) B于處 172eV的 譜線(xiàn)出現(xiàn)并逐漸變強(qiáng) 在催化研究中的應(yīng)用 合成氨催化劑的 Fe 2P3/2 芯能級(jí)的結(jié)合能隨還原程度 a?f而變化。根據(jù)化學(xué)位移的數(shù)值，可以給出待測(cè)樣品的化學(xué)狀態(tài)的信息。 表面組成的分析 AgPd合金退火前后的 AES譜 ； 5min. 研究表明，表面組成和體相組成不同，這是由于發(fā)生表面富集或形成強(qiáng)的吸附鍵所導(dǎo)致的。 UPS主要用于提供 1） 清潔表面或有化學(xué)吸附物的表面的電子結(jié)構(gòu)； 2） 參與表面化學(xué)鍵的金屬電子和分子軌道的組合等信息； 3） 有關(guān)電子激發(fā)和電荷轉(zhuǎn)移的信息 。 電子能譜儀原則上可以分析固體、氣體和液體樣品。 降低活性殘余氣體的分壓。電子進(jìn)入器件后在通道內(nèi)連續(xù)倍增，增益可達(dá) 109 。 常用于 AES的一種電子槍 電子能量分析器 電子能量分析器其作用是探測(cè)樣品發(fā)射出來(lái)的不同能量電子的相對(duì)強(qiáng)度。即用球面彎曲的石英晶體制成，能夠使來(lái)自 X射線(xiàn)源的光線(xiàn)產(chǎn)生衍射和 “ 聚焦 ” ，從而去掉伴線(xiàn)和韌致輻射，并降低能量寬度，提高譜儀的分辨率。 激發(fā)源 電子能譜儀通常采用的激發(fā)源有三種： X射線(xiàn)源 、 真空紫外燈 和 電子槍 。 Mo2C、 SiC、石墨和金剛石中 碳的 KLL（ KVV或）俄歇譜 3)能量損失機(jī)理導(dǎo)致的變化將改變俄歇峰低能側(cè)的拖尾峰。 俄歇譜圖 石墨的俄歇譜 從微分前俄歇譜的 看出，這部分電子能量減小后迭加在俄歇峰的低能側(cè)，把峰的前沿變成一個(gè)緩慢變化的斜坡，而峰的高能側(cè)則保持原來(lái)的趨勢(shì)不變。 ?1968年 ，使俄歇電子能譜開(kāi)始進(jìn)入實(shí)用階段。因此當(dāng)被測(cè)原子的氧化價(jià)態(tài)增加，或與電負(fù)性大的原子結(jié)合時(shí)，都導(dǎo)致其 XPS峰將向結(jié)合能的增加方向位移。 在實(shí)驗(yàn)時(shí)樣品表面受輻照損傷小，能檢測(cè)周期表中除 H 和 He 以外所有的元素，并具有很高的絕對(duì)靈敏度。因此對(duì)分析分子的電子結(jié)構(gòu)是非常有用的一種技術(shù)。39。 譜圖特征 苯在 Ni(111)上的 UPS譜 橫坐標(biāo)為分子的電離能 In 或 光電子動(dòng)能 nn IhvE ??紫外光電子譜圖的形狀取決于電離后離子的狀態(tài)。 光電子或俄歇電子 ， 在逸出的路徑上自由程很短 ， 實(shí)際能探測(cè)的信息深度只有表面幾個(gè)至十幾個(gè)原子層 ，光電子能譜通常用來(lái)作為表面分析的方法 。各種元素內(nèi)層電子的結(jié)合能是有特征性的 ， 因此可以用來(lái)鑒別化學(xué)元素。 bE???? bk EEhv 功函數(shù) ???? bk EEhv功函數(shù) 為防止樣品上正電荷積累，固體樣品必須保持和譜儀的良好電接觸，兩者費(fèi)米能級(jí)一致。第八章 電子能譜 根據(jù)激發(fā)源的不同 ， 電子能譜又分為 : X射線(xiàn)光電子能譜 (簡(jiǎn)稱(chēng) XPS) (XRay Photoelectron Spectrometer) 紫外光電子能譜 (簡(jiǎn)稱(chēng) UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇電子能譜 (簡(jiǎn)稱(chēng) AES) (Auger
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