x射線光電子能譜(xps)---課件-展示頁(yè)
2025-01-09 01:39本頁(yè)面
【正文】 品表面的濃度降低，而不易被濺射的部分濃度將提高。例如，對(duì)不溶于溶劑的陶瓷或金屬試樣，用乙醇或丙酮擦洗，再用蒸餾水洗掉溶劑，最后吹干或烘干試樣，達(dá)到去污的目的。目前 XPS分析主要集中在固體樣品表面。 298K吸附一層氣體分子所需時(shí)間： 104Pa時(shí)為 1秒； 107Pa時(shí)為 1000秒 樣品處理 ? 制樣方法必須恰當(dāng)，才能得到正確的 XPS譜圖。 真空系統(tǒng) 降低活性殘余氣體的分壓。 檢測(cè)器 ? 檢測(cè)器通常為單通道電子倍增器和多通道倍增器。 雙陽(yáng)極 X射線源示意圖 電子能量分析器 ? 電子能量分析器其作用是探測(cè)樣品發(fā)射出來(lái)的不同能量電子的相對(duì)強(qiáng)度。要獲得高分辨譜圖和減少伴峰的干擾，可以采用射線單色器來(lái)實(shí)現(xiàn)。 激發(fā)源 ? 激發(fā)源通常有： X射線源、真空紫外燈和電子槍。例如：利用 XPS鑒定 維生素 B12中的少量的 Co ?？梢詫?duì)內(nèi)層電子結(jié)合能的化學(xué)位移精確測(cè)量，提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息 。包括表面的化學(xué)組成或元素組成，原子價(jià)態(tài)，表面能態(tài)分布，測(cè)定表面電子的電子云分布和能級(jí)結(jié)構(gòu)等 。根據(jù)能譜圖中光電子譜線強(qiáng)度（光電子峰的面積）反應(yīng)原子的含量或相對(duì)濃度 ?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除 H、 He以外的所有元素。 XPS的基本原理 ? 在實(shí)驗(yàn)時(shí)樣品表面受輻照損傷小， XPS是用 X射線光子激發(fā)原子的內(nèi)層電子發(fā)生電離，產(chǎn)生光電子，這些內(nèi)層能級(jí)的結(jié)合能對(duì)特定的元素具有特定的值，因此通過(guò)測(cè)定電子的結(jié)合能和譜峰強(qiáng)度，可鑒定除 H 和 He（它們沒(méi)有內(nèi)層能級(jí)）之外的全部元素以及元素的定量分析 ，并具有很高的絕對(duì)靈敏度 。X射線光電子能譜（ XPS） 聊城大學(xué) 趙笛 XPS的基本原理 ? XPS是一種基于光電效應(yīng) 的電子能譜 ，它是利用 X射線光子激發(fā)出物質(zhì)表面原子的內(nèi)層電子，通過(guò)對(duì)這些電子進(jìn)行能量分析而獲得的一種能譜。 ? 這種能譜最初是被用來(lái)進(jìn)行化學(xué)分析，因此也叫做化學(xué)分析電子能譜（ ESCA）。 XPS的用途 ? 元素的定性分析。 ? 元素半定
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