壓力管道的無損檢測質量控制-文庫吧資料
2025-01-03 11:35本頁面
【正文】 構和化學成分的限制，也不受缺陷形狀和尺寸的影響。一般可分為 6種方法，即水洗型熒光法（ FA），后乳化型熒光法（FB）、溶劑清洗型熒光法（ FC）、水洗型著色法（ VA）、后乳化型著色法（ VB）及溶劑清洗型著色法（ VC）。 e．隨著缺陷的埋藏深度增加，漏磁場顯著變小。因此，在磁化操作中，通常需要在兩個（相互垂直）或多個方向上進行磁化。 c．當缺陷的延伸方向與磁力線的方向垂直，缺陷阻擋磁力線穿過的面積最大，形成的漏磁場磁感應強度也最大。 ③影響漏磁場的因素（ 工藝要求的解釋 ） a．外加磁場強度越大，則形成的漏磁場的磁感 應強度也越大。 1．無損檢測基本知識 ②缺陷漏磁場的檢出 漏磁場的檢出有許多方法，有磁帶、磁記錄儀、霍爾元件及磁粉等，簡便而有效的常規(guī)方法是磁粉法。這是由于缺陷（如裂紋、非金屬雜物等）大都是非磁性物質，其磁導率遠小于鐵磁性材料的磁導率。 1．無損檢測基本知識 磁粉檢測原理 ① 缺陷的漏磁場 鐵磁性材料的磁導率（ μ）比一般材料大很多，故當鐵磁性材料被磁化，其磁感應強度 B達到磁飽和。 鋼鐵材料的磁性質，與其結晶結構有很大關系；如面心立體晶格的 γ鐵（奧氏體）就沒有磁性，而體心立方體晶格的 α鐵則具有磁性。而易于磁化、剩磁低、矯頑力也低的磁性材料稱為軟磁性材料，其磁滯回線則表現(xiàn)為形狀狹窄，包圍的面積小，故磁化消耗的功也就少。有： B = μH （ μ》 1） 1．無損檢測基本知識 ②磁滯回線 描述鐵磁性材料常使用 BH曲線，而把循環(huán)交變過程的 BH關系曲線稱做磁滯回線。當外磁場不存在時，鐵磁性材料中磁疇方向紊亂，對外不呈現(xiàn)磁性。磁體周圍空間存在有力的作用，我們稱磁場，以磁力線形象描述磁場，磁力線密度的大小表示了磁場強度的強弱。使原來的不帶磁性的物體具有磁性叫磁化，能被磁化的材料稱為磁性材料。 ，從而影響檢測精度和可靠性。 8. 材質、晶粒度對探傷有影響。 超聲波檢測特點 2 6. 檢測結果無直接見證記錄。 ? 檢測成本低、速度快，儀器體積小，重量輕，現(xiàn)場使用較方便。 ? 適宜檢驗厚度較大的工件，不適宜檢驗較薄的工件。 1．無損檢測基本知識 超聲波檢驗的方法原理 脈沖反射式是當前標準中采用的主要超聲波檢測方法，基本原理是： 儀器探頭發(fā)出持續(xù)時間 很短的超聲波，當工件內 有缺陷時，缺陷反射波被 儀器接收并反映出反射波 聲壓大小等信息，據(jù)此判 斷缺陷的情況。反射信號的強弱以聲壓大小表示，例如： 底面反射波聲壓 PB，等于聲波未發(fā)生底面反射而沿原方向傳播到兩倍距離處的聲壓。 1．無損檢測基本知識 ③小物體上的超聲波反射 當超聲波在傳播過程中碰到缺陷，就會產生反射和散射現(xiàn)象，而缺陷形狀和方法不同時，其反射方式也有所不同，對于缺陷的尺寸小于超聲波波長的一半時，由于衍射作用，不能引起反射。 當超聲波傾斜入射到界面上時，在界面上會產生的不同方向、不同波型的反射波和折射波。 1．無損檢測基本知識 由于空氣與鋼的密度和聲速相差極大，故超聲波從空氣中垂直入射至鋼界面時幾乎 100%被反射。 超聲波探頭的定向輻射性質 — 波束指向性。 當超聲波垂直入射到兩種介質 界面時，部份聲波波反射，剩余部 份則穿透入另一介質，見右圖，兩 部份的比率取決于兩介質的密度和 其中的聲速。在空氣中聲速為 340M/S，水中聲速為 1500M/S，在鋼中縱波的聲束為 5900M/S，橫波的聲波為 3200M/S。 1．無損檢測基本知識 超聲波在同一均勻介質中傳播時聲束不變，傳播方向也不變，若在傳播過程中遇到另一種介質，就會發(fā)生反射、折射透照、繞射或波型轉換的現(xiàn)象。當介質中質點的位移與波傳播的方向一致時為縱波；質點的位移與波傳播的方式垂直時為橫波，而表面波只能沿工件表面?zhèn)鞑ァ? 1．無損檢測基本知識 ．無損檢測的原理 超聲波檢驗的基本原理 .1 超聲波的一般概念 超聲波是一種機械波，人們把能引起聽覺的機械波稱為聲波，頻率在 20～ 20kHz之間， 20kHz以上稱為超聲波。 射線照相 檢測成本高， 速度慢。 射線檢測的特點 對有些試件或結構不適用。 適宜檢驗較薄的工件而不適宜較厚的工件。 體積型缺陷檢出率很高。 工藝要點 3—— 透照方式選擇 工藝要點 4—— 透照參數(shù)選擇 焦距 —— 影響幾何不清晰度，選擇焦距必須大于標準規(guī)定最小值； K值 —— 影響橫向裂紋檢出率，選擇 K值不得大于標準規(guī)定值； 射線能量 —— 影響底片對比度、固有不清晰度、顆粒度；選擇射線能量應在標準限定范圍； 曝光量 —— 影響底片黑度，選擇曝光量應在標準限定范圍； 底片質量要求 底片上定位和識別標記 —— 齊全、影像顯示完整、位置正確； 底片評定范圍內的黑度 D —— 應符合下列規(guī)定:A 級： ≤ D≤ AB級： ≤ D≤ ； B 級 ≤ D≤ 底片的像質計靈敏度滿足標準要求； 底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。 ? 標準規(guī)定： A級和 AB級射線檢測技術應采用 T3類或更高類別的膠片， B級射線檢測技術應采用 T2類或更高類別的膠片 。 工藝要點 2—— 膠片應用特點 ? 膠片影響成像對比度和顆粒度進而影響靈敏度 ? 依據(jù)成像特性，膠片分成四類， T T T T4。 體積較大 ， 成本和維修費用均較大 。 目前，較廣泛應用的 γ射線源有 60C0 、 192Ir 、 75Se等
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