【摘要】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號檢測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和
2025-05-09 08:20
【摘要】電子探針x射線顯微分析ElectronProbeMicroanalysis4.電子探針x射線顯微分析n電子探針儀(EPMA)是一種微區(qū)成分分析儀器。n采用被聚焦成小于1的高速電子束轟擊樣品表面,利用電子束與樣品相互作用激發(fā)出的特征x射線,測量其λ和Ι,確定微區(qū)的定性、定量的化學成分。nSEM-EPMA組合型儀
2025-01-05 02:34
【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡稱EPMA),它用一束聚焦得很細(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學顯微鏡選定的待分析試樣上某個“點”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時發(fā)射的X射線的波
2025-05-06 01:47
【摘要】第十一章電子探針X射線顯微分析?概述?顯微分析特點?構(gòu)造與工作原理?樣品制備?分析方法一、概述?電子探針是電子探針X射線顯微分析儀的簡稱,英文縮寫為EPMA(ElectronprobeX-raymicroanalyser)。?電子探針儀是一種微區(qū)成分分析儀器,它利用
2025-01-07 22:41
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-22 16:16
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析?內(nèi)容提要:?第一節(jié)電子束與固體樣品相互作用時產(chǎn)生的物理信號?第二節(jié)掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)和工作原理?第三節(jié)表面形貌襯度原理及其應用?第四節(jié)原子序數(shù)襯度原理及其應用?第五節(jié)電子探針X射線顯微分析引言?SEM
2025-04-17 22:11
【摘要】第十三章電子探針顯微分析?電子探針的原理?電子探針儀的結(jié)構(gòu)?波譜儀(WDS)?能譜儀(EDS)?電子探針儀分析方法3/1/20231HNU-ZLP電子探針的原理?用細聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品中各元素的特征(標識)X射線:–定性分析分析特征X射線的波長(或特征能量),得到元素的種類;
2025-02-17 18:51
【摘要】現(xiàn)代材料微觀分析方法羅勇博士,副教授15262027150材料學院B203第十一章電子探針顯微分析第十章電子探針顯微分析?本章主要學習的內(nèi)容:第十章電子探針顯微分析?本章重點:?本
2025-01-08 02:44
【摘要】一、簡介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡稱EPMA)一、簡介SEM是利用
2025-05-13 18:13
【摘要】樣品制備步驟(1)將所需研究的樣品切割,磨制成光片或光薄片,如果是薄片,上面不可有蓋玻璃,所有粘合劑不能用加拿大樹膠,只能用環(huán)氧樹脂或502膠;(2)在光學顯微鏡下仔細尋找所要觀察的區(qū)域,用墨水筆圈出,并畫出各物相的關系;(3)將樣品涂上一層碳膜。(4)用于形態(tài)分析的碳末樣品的特殊制樣方法:在玻璃載玻片上用雙面膠帶粘上粘土或其它粉末,壓
2025-05-07 18:02
【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子分辨率已達1n
2025-01-06 05:38
【摘要】電子探針顯微分析第十二章§12-1電子探針儀的結(jié)果與原理?電子探針的主要功能是進行微區(qū)成分分析。?使用細聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析X射線的波長,即可知道樣品中所含元素的種類。?分析特征X射線的強度,可知樣品中對應元素的相對含量。?電子探針儀信號檢測系統(tǒng)是X射線
2025-05-07 13:17
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學系統(tǒng)、信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-21 04:31
【摘要】1第十章掃描電子顯微分析與電子探針p第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造一、工作原理二、構(gòu)造與主要性能p第二節(jié)像襯原理與應用一、像襯原理二、應用p第三節(jié)電子探針X射線顯微分析(EPMA)一、能譜儀二、波譜儀
2025-05-09 18:13