電子顯微分析ppt課件(2)-文庫吧資料
2025-01-21 04:31本頁面
【正文】 這有利于提高分析的空間分辨率。Si(Li)能譜儀的優(yōu)點： WT% AT%Al Si Cr Mn Fe Si(Li)檢測器探頭結(jié)構(gòu)示意圖 2：由于經(jīng)過晶體衍射后，強(qiáng)度損失很大，所以，波譜儀難以在低束流和低激發(fā)強(qiáng)度下使用，這是波譜儀的兩個缺點。 波譜儀的特點 ：1：波譜儀的突出優(yōu)點是波長分辨率很高。這樣我們可以事先建立一系列 θ 角與相應(yīng)元素的對應(yīng)關(guān)系，當(dāng)某個由電子束激發(fā)的 X特征射線照射到分光晶體上時，我們可在與入射方向交成 2θ 角的相應(yīng)方向上接收到該波長的 X射線信號，同時也就測出了對應(yīng)的化學(xué)元素。波譜儀 波譜儀的關(guān)鍵在于怎樣實現(xiàn)將未知的特征譜線與已知元素 Z聯(lián)系起來？為此設(shè)想有一種晶面間距為 d的特定晶體，當(dāng)不同特征波長 λ 的 X射線照射其上時，如果滿足布拉格條件（2dsinθ=λ ）將產(chǎn)生衍射。 通過鑒別其特征波長或特征能量就可以確定所分析的元素。材料變形與斷裂動態(tài)過程的原位觀察（ 1）雙相鋼（ 2）復(fù)合材料 ?。?2）韌窩斷口（ 3）解理斷口 （ 4）復(fù)合材料斷口 (a)晶粒細(xì)小的正方相(b)晶粒尺寸較大的單相立方相(c)雙相混合組織（ 2）金相表面觀察 —— 可直接觀察不導(dǎo)電樣品（不需鍍金）主要功能及應(yīng)用范圍：可對各種有機(jī)、無機(jī)、納米材料進(jìn)行微觀形態(tài)研究，獲得其表面形貌對于不導(dǎo)電樣品可以直接觀察，不需要鍍金用于晶體材料的取向信息與結(jié)構(gòu)信息分析含圖像處理軟件，可以直接從圖像中獲得粒徑統(tǒng)計信息 7401 SEM樣品制備大致步驟：1. 從大的樣品上確定取樣部位；2. 根據(jù)需要，確定采用切割還是自由斷裂得到表界面；3. 清洗；4. 包埋打磨、刻蝕、噴金處理，2：不導(dǎo)電樣品 對于非導(dǎo)電樣品如塑料、礦物等，在電子束作用下會產(chǎn)生電荷堆積，影響入射電子束斑和樣品發(fā)射的二次電子運(yùn)動軌跡，使圖像質(zhì)量下降。掃描電子顯微鏡景深 樣品制備 1：導(dǎo)電樣品
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