【正文】 “ ?” 及 “ ?” 風(fēng)險132 1σ 3σ 6σ2σ兩種損失的合計 第 二類錯誤損失第 一類錯誤損失“ ?” 及 “ ?” 風(fēng)險133謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH。2 σ%177。4 σ%177。2 σ%177。4 σ%177。? 兩類錯誤不能同時避免，減少第一類錯誤 (?)，就會增加第二類錯誤 (?)，反之亦然。? 第二類錯誤是將異常判為正常，它的概率為 ?，即工序中確實(shí)發(fā)生了異常，但數(shù)據(jù)沒有越出控制限，沒有反映出異常，因而使人將異常誤判為正常，從而 漏 發(fā)警報 ?？赡墚a(chǎn)生的錯誤有兩類：? 第一類錯誤是把正常判為異常，它的概率為 ?，也就是說，制造過程并沒有發(fā)生異常，只是由于隨機(jī)的原因引起了數(shù)據(jù)過大波動，少數(shù)數(shù)據(jù)越出了控制限，使人誤將正常判為異常，從而 虛 發(fā)警報。但是如果 僅 使用 計數(shù) 型 數(shù)據(jù)將 很 難 理解 問題 所在，通常 盡 可能地追溯 變 差的可疑原因， 并 借助 計 量型 數(shù)據(jù)進(jìn) 行 分析將 有利 于問題 的解決。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟123? 改進(jìn)過 程能力? 　 過 程一旦表 現(xiàn) 出 處于統(tǒng)計 控制 狀態(tài) ， 該過 程所保持的不合格平均水平即反 應(yīng) 了 該 系 統(tǒng) 的 變 差原因 —— 過 程能力。? 當(dāng) 正式研究 過 程能力 時 ， 應(yīng) 使用新的 數(shù)據(jù) ，最好是25個 或更多 時 期子 組 ，且所有的 點(diǎn) 都受 統(tǒng)計 控制。如需要， 還 可以用符合 規(guī)范 的比例 (1p)來 表示。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟121Ｄ步驟 過程能力解釋D 計 算 和 評價 過程 能力 ；D２、改進(jìn)過 程能力 ；D３、繪 制 并 分析修改 后 的控制 圖。? C 重新 計 算控制界限n 當(dāng)進(jìn) 行初始 過 程研究或 對過 程能力重新 評價時 ， 應(yīng)計 算 試驗(yàn) 控制限 ；n 一旦 控制圖穩(wěn)定和受控并且過程能力可接受 ， 則 可 將 控制限延伸到 將來 的 時 期。然 后糾 正 該 原因 并盡 可能防止其再 發(fā) 生。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟119Ｃ步驟 過程是否受控的制釋C 分析 數(shù)據(jù)點(diǎn) ，找出不 穩(wěn) 定 證據(jù)；C 尋 找 并糾 正 特殊 原因 ；C 重新 計 算控制限 。? 　 如果可能的話，最好是調(diào)整數(shù)據(jù)收集計劃，從而使用固定的樣本容量。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟114Ｂ步驟 建立控制限B 計算過 程平均不合格品率 ；B 計 算上、下控制限 ；B 畫線并標(biāo)注。 縱 坐 標(biāo) 刻度 應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù) 中最大的不合格 品 率值的 2倍。 時間隔 短 則 反 饋 快，但 與大 的子組 容量的要求矛盾 ；n 子 組數(shù) 量 ：n 要大 于 等 于 25組 以上，才能判定其 穩(wěn)定 性。使用不合格品率 控制 圖（ p圖） 的 步驟110? A 選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量n 因控制限是基于近似的正態(tài)分布，故使用的樣本容量應(yīng)該使 np≥5 。預(yù)控制圖：是一個以判定符合性為基礎(chǔ)的工具，不是一個過程控制工具。106預(yù)控制圖? 預(yù)控制圖的好處：n 簡單。n 一個點(diǎn)落在紅色區(qū)域 —— 停止過程并調(diào)查。n 兩個點(diǎn)落在黃色區(qū)域（同一區(qū)） —— 調(diào)整過程。104預(yù)控制圖名義值 —1/2公差名義值LSLUSL名義值 —1/4公差名義值 —1/2公差名義值 —1/4公差名義值 —1/2公差名義值LSLUSL名義值 —1/4公差名義值 —1/2公差名義值 —1/4公差105預(yù)控制圖? 使用預(yù)控制圖時，應(yīng)使用下列規(guī)則：n 兩個數(shù)據(jù)點(diǎn)都落在綠色區(qū)域 —— 繼續(xù)運(yùn)行過程。但是，在開始取樣前，過程生產(chǎn)的 5個連續(xù)的零件必須落在綠色區(qū)域。如果發(fā)現(xiàn)過程分布是非正態(tài)的或能力很高時，也可以做類似的計算。規(guī)范以外的區(qū)域被標(biāo)注為紅色。? 預(yù)控制圖中的假設(shè)是：n 過程有一個平坦的損失函數(shù)；n 過程性能（包括測量系統(tǒng)變差）小于或等于公差；? 第一個假設(shè)：過程中變差的所有特殊來源是受控的；? 第二個假設(shè)：生產(chǎn)的零件不用挑選就有 %落在規(guī)范以內(nèi)。w 如果三個或更多個零件落在綠色區(qū)域并且其它的在黃色區(qū)域，繼續(xù)運(yùn)行。w 如果沒有零件落在紅色區(qū)域，但有三個或更多個零件落在黃色區(qū)域（來自 5個零件），停止過程，通知指定人員采取糾正措施和材料挑選。如果零件落在紅色區(qū)域，停止過程，通知指定人員采取糾正措施和材料挑選。在調(diào)整或其它改正完成時，重復(fù)步驟 1。紅綠燈信號控制圖99紅綠燈信號控制圖停止區(qū)停止區(qū)警告區(qū)警告區(qū)目標(biāo)區(qū)LSLUSL停止區(qū)停止區(qū)警告區(qū)警告區(qū)目標(biāo)區(qū)LSLUSL100? 為達(dá)到與樣本容量為 5的 Xbar和 R控制圖相當(dāng)?shù)目刂?，紅綠燈信號控制圖的步驟如下：n 檢查兩個零件，如果兩件都在綠色區(qū)域，繼續(xù)運(yùn)行。過程分布（ %的范圍）以外的任何區(qū)域被標(biāo)注為紅色。紅綠燈信號控制圖98? 紅綠燈信號控制圖中的假設(shè)是：n 過程是統(tǒng)計受控的；n 過程能力（包括測量變差）是可接受的；n 過程靠近目標(biāo)值。5 ， 計 算 設(shè)備能力指數(shù) Cm、 Cmk？96統(tǒng)計過程控制(SPC)六、其它類型計量型控制圖 預(yù)控制圖紅綠燈信號控制圖97? 將過程變差分為三個部分：低警告區(qū)、目標(biāo)區(qū)、高警告區(qū)。設(shè)備能力研究94Ｃ mk計算公式：或用連續(xù) 50件的數(shù)據(jù)任意分組后的 Rbar/d2估計的 sigma來計算。設(shè)備能力指數(shù)Ｃ mk過程普通原因人員設(shè)備材料測量環(huán)境方法92? 進(jìn)行設(shè)備能力研究的時機(jī)：n 新的設(shè)備 /模具；n 新產(chǎn)品；n 設(shè)備 /模具維修后（對產(chǎn)品有影響）；n 設(shè)備搬遷后；n 公差縮緊；n 長期停產(chǎn)后；n 產(chǎn) 品不合格追查原因 時；n 加工過程 /輸出狀態(tài)更改等。? 設(shè)備能力指數(shù)Ｃ mk表示僅由設(shè)備普通原因變差決定的能力，與公差和生產(chǎn)設(shè)備的加工變差有關(guān)，設(shè)備能力指數(shù)只考慮短期的變差，盡可能排除對過程有影響而與設(shè)備無關(guān)的因素。對于單邊公差， Ppk 等于 PPU或者 PPL，公式如下：33LSLxPPLxUSLPPU==Ppk=Ppk=（ 只有公差上限 ）（ 只有公差下限 ）88單邊公差的過程測量指數(shù)CR：能力比值，是 Cp的倒數(shù)：CR=1/CpPR：性能比值，是 Pp的倒數(shù)：PR=1/Pp上述兩個指數(shù)對于單邊公差沒有意義。87單邊公差的過程測量指數(shù)Ppk為性能能力指數(shù)。 該指數(shù)對于單邊公差沒有意義。對于單邊公差， Cpk 等于 CPU或者 CPL，公式如下：233dRLSLxCPLxUSLCPU===Cpk=Cpk=（ 只有公差上限 ）（ 只有公差下限 ）866LSLUSLＰp=單邊公差的過程測量指數(shù)Pp:能力指數(shù)。85單邊公差的過程測量指數(shù)Cpk為能力指數(shù)。 該指數(shù)對于單邊公差沒有意義。 ，請計算 Pp以及過程能力指數(shù) Ppk分別為多少？案例練習(xí)8426dRLSLUSLCp==單邊公差的過程測量指數(shù)Cp:能力指數(shù)。2HRC ，現(xiàn)有一批材料經(jīng)抽樣得其硬度的過程分布和性能為 Xbar177。n CR、 PR。81雙邊公差的過程測量指數(shù)CR：能力比值，是 Cp的倒數(shù)：CR=1/CpPR：性能比值，是 Pp的倒數(shù)：PR=1/PpPPM：百萬分之一不合格率有時作為過程能力的補(bǔ)充測量。Ｐ pk是Ｐ PU或者Ｐ PL的最小值，公式如下：3Ｓ3ＳLSLxＰ PLxUSLＰ PU==80雙邊公差的過程測量指數(shù)如果過程處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，過程能力將非常接近于過程性能。 Ｐ pk 和Ｐ p應(yīng)該總是一起進(jìn)行評價和分析。它考慮了過程的位置和性能。該指數(shù)反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求。 ，請計算 Cp以及過程能力指數(shù) Cpk分別為多少？案例練習(xí)776LSLUSLPp=雙邊公差的過程測量指數(shù)Pp:性能指數(shù)。2HRC ，現(xiàn)有一批材料經(jīng)抽樣得其硬度的過程分布和能力為 Xbar177。73X為過程平均值；M為公差中心值；K= x M（ USLLSL） / 2過程偏移系數(shù)K7410 14 1812 16CPKCPUCPLCpμ10 14 1812 1610 14 1812 16CPKCPUCPLCpμCPKCPUCPLCpμ指 數(shù) 差 異說明75? 請 依 照 上 個課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計 算下列 指數(shù)：n Cp 、 Cpk、 K。 如果 Cp 值遠(yuǎn)大